中国香港探针测试加热盘非标定制

国瑞热控半导体测试用加热盘，专为芯片性能测试环节的温度环境模拟设计，可精细复现芯片工作时的温度条件！设备温度调节范围覆盖-40℃至150℃，支持快速升温和降温，速率分别达25℃/分钟和20℃/分钟，能模拟不同工况下的温度变化！加热盘表面采用柔性导热垫层，适配不同厚度的测试芯片，确保热量均匀传递至芯片表面，温度控制精度达±0.5℃！配备可编程温度控制系统，可预设多段温度曲线，满足长时间稳定性测试需求！设备运行时无电磁场干扰，避免对测试数据产生影响，同时具备过温、过流双重保护功能，为半导体芯片的性能验证与质量检测提供专业温度环境！多种规格形状灵活定制，满足特殊需求，无锡国瑞是您可靠合作伙伴。中国香港探针测试加热盘非标定制

面向半导体热压键合工艺，国瑞热控**加热盘以温度与压力协同控制提升键合质量！采用陶瓷加热芯与铜合金散热基体复合结构，加热面平面度误差小于0.005mm，确保键合区域压力均匀传递！温度调节范围室温至400℃，升温速率达40℃/秒，可快速达到键合温度并保持稳定（温度波动±0.5℃），适配金-金、铜-铜等不同金属键合工艺！配备压力传感器与位移监测模块，实时反馈键合过程中的压力变化与芯片位移，通过闭环控制实现压力（0.1-10MPa）与温度的精细匹配！与ASM太平洋键合设备适配，使键合界面电阻降低至5mΩ以下，为高可靠性芯片互联提供保障！四川涂胶显影加热盘定制热响应速度快，快速达温稳定，减少等待提升效率。

面向深紫外光刻工艺对晶圆预处理的需求，国瑞热控配套加热盘以微米级温控助力图形精度提升。采用铝合金基体与石英玻璃复合结构，加热面平面度误差小于 0.01mm，确保晶圆与光刻掩膜紧密贴合。通过红外加热与接触式导热协同技术，升温速率达 15℃/ 分钟，温度调节范围 60℃-120℃，控温精度 ±0.3℃，适配光刻胶软烘、坚膜等预处理环节。表面经防反射涂层处理，减少深紫外光反射干扰，且具备快速冷却功能，从 120℃降至室温*需 8 分钟，缩短工艺间隔。与上海微电子光刻机适配，使光刻图形线宽偏差控制在 5nm 以内，满足 90nm 至 28nm 制程的精密图形定义需求。

国瑞热控刻蚀工艺加热盘，专为半导体刻蚀环节的精细温控设计，有效解决刻蚀速率不均与图形失真问题！产品采用蓝宝石覆层与铝合金基体复合结构，表面经抛光处理至镜面效果，减少刻蚀副产物粘附，且耐受等离子体轰击无损伤！加热盘与静电卡盘协同适配，通过底部导热纹路优化，使热量快速传导至晶圆背面，温度响应时间缩短至10秒以内！支持温度阶梯式调节功能，可根据刻蚀深度需求设定多段温度曲线，适配硅刻蚀、金属刻蚀等不同工艺场景！设备整体符合半导体洁净车间Class1标准，拆卸维护无需特殊工具，大幅降低生产线停机时间！工业级耐用加热盘，耐腐蚀抗冲击，适应严苛工况环境。

电控晶圆加热盘：半导体工艺的准确温控重点！无锡国瑞热控的电控晶圆加热盘，以创新结构设计解释半导体制造的温控难题！其底盘内置螺旋状发热电缆与均温膜，通过热量传导路径优化，使加热面均温性达到行业高标准，确保晶圆表面温度分布均匀，为光刻胶涂布等关键工艺提供稳定环境！搭配高精度温度传感器与限温开关，温度波动可控制在极小范围，适配6英寸至12英寸不同规格晶圆需求！设备采用卡接组件连接上盘与底盘，通过转盘驱动齿轮结构实现快速拆装，大幅降低检修维护的停机时间，完美契合半导体量产线的高效运维需求！低热容设计，升温降温迅捷，适合快速变温工艺。无锡半导体晶圆加热盘

密封式设计可选，防潮防尘耐腐蚀，适用复杂环境。中国香港探针测试加热盘非标定制

针对半导体晶圆研磨后的应力释放需求，国瑞热控**加热盘以温和温控助力晶圆性能稳定。采用铝合金基体与柔性导热垫层复合结构，导热垫层硬度 Shore A 30，可贴合研磨后晶圆表面微小凹凸，确保热量均匀传递。温度调节范围 30℃-150℃，控温精度 ±0.8℃，支持阶梯式升温（每阶段升温 5℃-10℃，保温 10-30 分钟），缓慢释放晶圆内部机械应力。配备氮气保护系统，避免加热过程中晶圆表面氧化，且加热盘表面粗糙度 Ra 小于 0.05μm，无颗粒划伤晶圆风险。与硅产业集团、中环股份等晶圆厂商合作，使研磨后晶圆翘曲度降低 20% 以上，提升后续光刻、刻蚀工艺的良率。中国香港探针测试加热盘非标定制

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