四川涂胶显影加热盘定制

电控晶圆加热盘：半导体工艺的准确温控重点。无锡国瑞热控的电控晶圆加热盘，以创新结构设计解释半导体制造的温控难题。其底盘内置螺旋状发热电缆与均温膜，通过热量传导路径优化，使加热面均温性达到行业高标准，确保晶圆表面温度分布均匀，为光刻胶涂布等关键工艺提供稳定环境。搭配高精度温度传感器与限温开关，温度波动可控制在极小范围，适配 6 英寸至 12 英寸不同规格晶圆需求。设备采用卡接组件连接上盘与底盘，通过转盘驱动齿轮结构实现快速拆装，大幅降低检修维护的停机时间，完美契合半导体量产线的高效运维需求。深厚热控经验，针对性选型建议，解决应用难题。四川涂胶显影加热盘定制

无锡国瑞热控 PVD 工艺**加热盘，专为物***相沉积环节的严苛温控需求设计。作为晶圆加工的**载体与射频回路下电极，其采用陶瓷与高纯金属复合基材，经精密研磨确保加热面平面度误差小于 0.02mm，为薄膜均匀生长提供稳定基底。内部螺旋状加热元件与均温层协同作用，使晶圆表面温度均匀性控制在 ±1℃以内，适配 6 英寸至 12 英寸不同规格晶圆。设备整体采用无挥发洁净工艺处理，在高真空环境下无杂质释放，搭配快速升温技术（升温速率达 30℃/ 分钟），完美契合 PVD 工艺中对温度稳定性与生产效率的双重要求，为半导体薄膜制备提供可靠温控支撑。嘉定区晶圆加热盘非标定制严格出厂检测流程，多项性能测试，确保每台设备质量可靠。

国瑞热控封装测试**加热盘聚焦半导体后道工艺需求，采用轻量化铝合金材质，通过精密加工确保加热面平整度误差小于 0.05mm，适配不同尺寸封装器件的测试需求。加热元件采用片状分布设计，热响应速度快，可在 5 分钟内将测试温度稳定在 - 40℃至 150℃之间，满足高低温循环测试、老化测试等场景要求。表面采用防粘涂层处理，减少测试过程中污染物附着，且易于清洁维护。配备可编程温控系统，支持自定义测试温度曲线，可存储 100 组以上测试参数，方便不同型号器件的测试切换。与长电科技、通富微电等封装测试企业合作，适配其自动化测试生产线，为半导体器件可靠性验证提供精细温度环境，助力提升产品良率。

国瑞热控光刻胶烘烤加热盘以微米级温控精度支撑光刻工艺，采用铝合金基体与陶瓷覆层复合结构，表面粗糙度 Ra 小于 0.1μm，减少光刻胶涂布缺陷。加热面划分 6 个**温控区域，通过仿真优化的加热元件布局，使温度均匀性达 ±0.5℃，避免烘烤过程中因温度差异导致的光刻胶膜厚不均。温度调节范围覆盖 60℃至 150℃，升温速率 10℃/ 分钟，搭配无接触红外测温系统，实时监测晶圆表面温度并动态调节。设备兼容 6 英寸至 12 英寸光刻机配套需求，与 ASML、尼康等设备的制程参数匹配，为光刻胶的软烘、坚膜等关键步骤提供稳定温控环境。高效稳定耐用三大优势，国瑞加热盘经得起时间考验。

针对原子层沉积工艺对温度的严苛要求，国瑞热控 ALD **加热盘采用多分区温控设计，通过仿真优化加热丝布局，确保表面温度分布均匀性符合精密制程标准。设备温度调节范围覆盖室温至 600℃，升温速率可达 25℃/ 分钟，搭配铂电阻传感器实现 ±0.1℃的控温精度，满足 ALD 工艺中前驱体吸附与反应的温度窗口需求。采用氮化铝陶瓷基底与密封结构，在真空环境下无挥发性物质释放，且能抵御反应腔体内腐蚀性气体侵蚀。适配 8 英寸至 12 英寸晶圆规格，通过标准化接口与拓荆、中微等厂商的 ALD 设备无缝兼容，为原子层沉积的高保形性薄膜制备提供保障。表面硬度强化处理，耐磨耐刮擦，保持长期美观实用。吉林晶圆级陶瓷加热盘

表面特殊处理耐腐蚀易清洁，适用于化学实验室食品加工。四川涂胶显影加热盘定制

国瑞热控半导体加热盘**散热系统，为设备快速降温与温度稳定提供有力支持。系统采用水冷与风冷复合散热方式，水冷通道围绕加热盘均匀分布，配合高转速散热风扇，可在 10 分钟内将加热盘温度从 500℃降至室温，大幅缩短工艺间隔时间。散热系统配备智能温控阀，根据加热盘实时温度自动调节水流量与风扇转速，避免过度散热导致的能耗浪费。采用耐腐蚀管路与密封件，在长期使用过程中无漏水风险，且具备压力监测与报警功能，确保系统运行安全。适配高温工艺后的快速降温需求，与国瑞加热盘协同工作，形成完整的温度控制闭环，为半导体制造中多工艺环节的连续生产提供保障。四川涂胶显影加热盘定制

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