中源绿净针对半导体封装测试洁净室（芯片封装 / 成品测试环节）推出抗粉尘环境监测方案，针对封装测试车间产生的芯片粉尘，设备采样管采用防堵塞结构（内置自动清理装置，每小时清理 1 次），粒子传感器采用耐磨涂层，0.5μm 粒子检测误差＜2.5%，符合 SEMI G10-0303 半导体洁净室标准。方案支持与封装测试设备联动，当检测到粉尘超标时自动暂停测试设备，某半导体封装测试企业应用后，因粉尘导致的测试不良率下降 7%。设备工作温度范围宽（-10℃~55℃），可适应测试车间的温度波动；数据存储容量达 100 万组，可保留 2 年完整检测记录，满足客户审计需求。中源绿净提供半导体封装测试行业专项培训，帮助企业技术人员掌握粉尘清理、设备维护技巧，保障系统长期稳定运行。中源绿净为 35 + 化妆品厂做环境监测，微生物控制严，产品投诉率降 20%！苏州5um环境监测计数器使用说明书
中源绿净的洁净度环境监测系统，搭载实时数据可视化显示功能，通过清晰的界面呈现监测数据，让用户无需专业解读即可快速掌握洁净环境状态。系统配备 7 英寸高清触控屏，支持数字、曲线、仪表盘三种数据展示形式 —— 数字形式直观显示当前指标数值，曲线形式呈现 24 小时内数据变化趋势，仪表盘形式通过颜分指标是否达标（绿色为正常、黄色为接近阈值、红色为超标），三种形式可自由切换，满足不同场景下的查看需求。该功能的优势在于降低数据理解门槛，操作员无需培训即可通过屏幕判断环境是否正常，同时曲线趋势能帮助管理人员提前预判变化。十级环境监测颗粒物在线监测中源绿净环境监测系统，助力 35 + 电子厂静电监测，元件损坏率降 10%！
中源绿净的洁净度在线监测产品，凭借出色的多行业适配性，针对不同行业的洁净环境需求，打造了场景化监测解决方案，实现从通用监测到适配的跨越，满足电子半导体、制药、医疗、食品加工、新能源等多个领域的个性化需求。在电子半导体行业，该产品针对晶圆制造、芯片封装等环节对微粒浓度的严苛要求，推出半导体专项监测方案。方案中，产品采用高灵敏度微粒传感器，可监测 0.1μm 及以上粒径的微粒，同时配备防腐蚀外壳，适应半导体车间内可能存在的化学气体环境。监测数据采样间隔可设置为 1 秒，确保实时捕捉微粒浓度的细微变化，避免因微粒污染导致晶圆良率下降。
中源绿净面向电子半导体洁净室（晶圆制造 / 芯片封装）推出专项监测方案，针对 0.1μm 微尘要求，采用进口激光光源传感器，0.1μm 粒子检测效率≥95%，采样流量稳定 2.83L/min，符合 SEMI S2-0712 标准。方案含多通道监测终端（多 8 路粒子、4 路温湿度、2 路压差检测），可同步监测不同区域粒子浓度，数据经 RS485 / 以太网传至 MES 系统实现联动控制，某芯片厂应用后良率提升 5.2%、数据录入错误率降为 0。设备适配半导体车间环境，-10℃~55℃工作温度、IP54 防护，抵御粉尘与轻微腐蚀性气体；内置锂电池续航 8 小时，支持移动巡检覆盖难触及区域。已服务 156 家半导体企业，复购率 82%，还提供操作培训（每批 5-8 人），助力企业快速上手。中源绿净环境监测服务，使 25 + 牧场监测更科学，牛奶合格率提 10%！
中源绿净的洁净度环境监测系统，针对食品行业生产过程中温湿度与微粒浓度相互影响的特点，开发温尘协同监测功能，同步采集两项指标并分析关联性，帮助用户发现 “温湿度异常导致微粒浓度上升” 的潜在问题，避免因单一指标监测导致的环境误判。系统的温湿度传感器采用工业级探头，温度测量范围 - 10℃-60℃，误差 ±0.5℃，湿度测量范围 10%-90% RH，误差 ±3% RH，可覆盖食品加工的冷藏、烘焙、灌装等不同温湿度场景；微粒传感器则支持 0.3μm、0.5μm、5μm 多粒径监测，能捕捉食品生产中常见的粉尘、原料颗粒等污染物。中源绿净环境监测系统，助力 45 + 保健食品厂洁净监测，达标率 100%！苏州环境监测计数器标准操作规程
中源绿净环境监测系统，助力 25 + 油墨厂 VOCs 回收，利用率提升 30%！苏州5um环境监测计数器使用说明书
中源绿净针对半导体湿法刻蚀洁净室的洁净度监测方案，聚焦于腐蚀性环境下的 监测。应用场景：半导体湿法刻蚀洁净车间。针对 1000 级刻蚀区，配置防腐蚀监测终端，可耐受 Cl₂、HF 等腐蚀性气体环境，实时监测 0.5μm 微粒浓度（采样流量 28.3L/min）、蚀刻液飞溅微粒及局部湿度（控制在 40%~50% RH±3%）。采用惰性材料封装传感器，检测精度在腐蚀性环境中仍保持 ±10% 以内。通过与蚀刻槽联动控制，当微粒浓度超标时自动启动局部排风，使晶圆刻蚀均匀性不良率下降 45%。已服务于华虹半导体、士兰微等企业，符合 SEMI S2 安全标准，洁净度监测准确率 99.92%。苏州5um环境监测计数器使用说明书
