与其他技术相比,传统MBE技术在半导体材料、氧化物薄膜等材料生长领域应用已久,有着成熟的技术体系。然而,公司产品与之相比,在多个方面展现出独特优势。从生长机理来看,传统MBE主要依靠热蒸发使原子或分子束蒸发到衬底表面进行生长。而本产品不仅包含热蒸发,还集成了脉冲激光沉积等多种技术,能通过激光能量精确控制原子的蒸发和溅射,使原子更有序地在衬底表面沉积,从而在生长一些复杂结构的薄膜时,能更好地控制原子排列,提高薄膜的结晶质量。但是设备复杂度方面,传统 MBE 设备通常结构较为复杂,多个部件的协同工作对操作人员的技能要求较高,维护成本也相对较高。本产品在设计上进行了优化,采用模块化设计,各部件之间的连接和操作更加简便,降低了设备的整体复杂度,方便操作人员进行日常操作和维护。系统提供远程控制接口便于实验数据采集。基质辅助外延系统分子泵

设备在特殊环境下展现出强大的适应性和应用潜力。在高温环境应用方面,设备的加热元件由固体SiC制成,具有稳定、长寿命的特点,能够使基板达到高达1400°C的高温。在研究高温超导材料时,高温环境是必不可少的。以钇钡铜氧(YBCO)高温超导薄膜的制备为例,需要在高温下使原子具有足够的能量进行扩散和排列,形成高质量的超导薄膜结构。设备的高温能力能够满足这一需求,精确控制高温环境下的薄膜生长过程,有助于研究超导材料在高温下的性能和特性,为超导技术的发展提供实验支持。基质辅助脉冲沉积外延系统参考用户相较于国产 PLD 设备,此纯进口系统在真空度控制上更准确。

对于配套设备选型,分析仪器方面,可配备反射高能电子衍射仪(RHEED),它能在薄膜生长过程中实时监测薄膜的表面结构和生长情况,为调整沉积参数提供依据。通过RHEED的监测数据,操作人员可以及时发现薄膜生长中的问题,如生长模式的变化、缺陷的产生等,并采取相应措施进行调整。还可搭配俄歇电子能谱仪(AES),用于分析薄膜的成分和元素分布,帮助研究人员深入了解薄膜的质量和性能。AES能够精确测量薄膜表面的元素组成和化学状态,对于研究新型材料的性能和开发具有重要意义。
产品具备较广的适用性,适用于III/V、II/VI族元素以及其他异质结构的生长,无论是常见的半导体材料,还是新型的功能材料,都能通过该设备进行高质量的薄膜沉积。并且,基板支架尺寸范围从10×10毫米到4英寸,可满足不同尺寸样品的实验需求,无论是小型的基础研究样品,还是较大尺寸的应用研究样品,都能在设备上进行处理,极大地拓展了设备在科研中的应用范围。
公司产品在科研领域拥有众多突出优势,助力科研工作高效开展。超高真空是一大明显优势,其基本压力能从 5×10⁻¹⁰至 5×10⁻¹¹mbar ,在这样的环境下,薄膜沉积过程中几乎不会受到杂质干扰,保证了薄膜的高纯度和高质量。例如在半导体材料外延生长时,高真空环境可避免气体分子与生长原子碰撞,减少缺陷产生,为制造高性能半导体器件奠定基础。 系统提供选配的基板刻蚀与预处理功能。

针对高分子、生物聚合物等有机功能材料的薄膜制备需求,我们提供专业的基质辅助脉冲激光沉积(MAPLE)系统。与传统PLD技术使用高能量密度激光直接烧蚀靶材不同,MAPLE技术将目标高分子材料溶解或分散于一种挥发性溶剂中,冷冻形成靶材。激光脉冲主要作用于冷冻溶剂靶材,使其升华并将包裹其中的高分子材料以温和的方式“喷射”到基板上。这种“软着陆”沉积模式有效避免了高能激光对高分子链结构的破坏,能够完整保留其化学结构和生物活性,非常适合用于制备生物传感器、有机发光二极管(OLED)的功能层、药物缓释涂层以及各种柔性电子器件中的聚合物薄膜。百叶窗控制蒸发源启闭,避免交叉污染。基质辅助脉冲沉积外延系统参考用户
全自动软件控制平台支持III/V及II/VI族化合物生长。基质辅助外延系统分子泵
基板在沉积过程中的旋转功能对于获得成分和厚度高度均匀的薄膜至关重要。在PLD过程中,激光烧蚀产生的等离子体羽辉(Plume)具有一定的空间分布,通常呈中心密度高、边缘密度低的余弦分布。如果基板静止不动,沉积出的薄膜将会中间厚、边缘薄,形成一道“山峰”。通过让基板绕其中心轴匀速旋转,薄膜的每一个点都会周期性地经过羽辉的中心和边缘,对沉积速率进行时间上的平均,从而有效地补偿了羽辉空间分布的不均匀性,从而获得厚度变化率小于±2%的优异均匀性。基质辅助外延系统分子泵
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