企业商机
高光谱成像仪基本参数
  • 品牌
  • Headwall,IMEC,Spectricity,Sili
  • 型号
  • 齐全
  • 类型
  • 紫外可见光光度计,原子荧光光度计
高光谱成像仪企业商机

Co-Aligned HP 的重要技术源于 Headwall 公司的 Offner 像差校正型凸面全息反射光栅技术,这一技术与我国 “高分 5 号” 卫星的高光谱成像技术同源,体现了当前高光谱成像领域的先进水平。该技术通过独特的光路设计,能够有效抑制杂散光干扰,减少成像畸变,同时赋予系统极高的热稳定性和信噪比,确保在复杂环境下仍能输出高质量的光谱数据。对于科研用户而言,数据质量直接决定了研究结果的可靠性,Co-Aligned HP 的技术配置恰好满足了科研工作对数据精度、稳定性的严苛要求。无论是实验室的精确分析,还是野外复杂环境下的长期监测,该技术都能为用户提供一致、可靠的高光谱数据,让科研工作者能够专注于数据解读与研究创新,无需担忧设备技术瓶颈带来的限制。Nano HP 配套云台重量 < 0.8kg,快拆设计无需调平,通电即可启动作业。西安热红外高光谱成像仪价格

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Co-Aligned HP 作为广州星博谱光技术有限公司代理的美国 Headwall 公司重要产品,延续了 Headwall 在高光谱领域的技术积淀与品质保障。Headwall 公司是全球专业的高光谱设备制造商,拥有多年的技术研发经验,其 Offner 像差校正型全息反射光栅技术在行业内处于前端地位,与我国 “高分 5 号” 卫星高光谱技术同源,体现了高光谱成像的高水平。星博谱光作为代理与技术服务商,为国内用户提供完善的技术支持、售后服务与本地化解决方案,确保用户能够充分发挥设备的性能优势。这种技术传承与品牌保障让 Co-Aligned HP 不仅具备先进的技术配置,更拥有可靠的品质与完善的服务支持。无论是科研项目的长期使用,还是行业应用的高频次作业,Co-Aligned HP 都能保持稳定的性能表现,为用户提供持续、可靠的高光谱数据采集解决方案。西安凝视型高光谱成像仪多少钱Nano HP 的后处理软件集成几何校正功能,优化图像镶嵌后的整体效果。

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Co-Aligned HP 凭借全波段覆盖与高精度数据表现,在多个专业领域展现出极强的适配性,尤其适用于矿物填图、火山监测、高光谱探矿等复杂场景。在矿物填图中,其 400-2500nm 的全波段范围能够捕捉不同矿物的特征吸收峰,精确识别矿物类型与空间分布,为地质填图提供精确数据;在火山监测中,可通过短波红外波段捕捉火山气体排放、地表温度变化等异常特征,为火山活动预警提供支持;在高光谱探矿中,能有效识别深埋地下或隐伏的矿物异常信息,提升找矿效率与精确度。此外,该设备还适用于地质灾害调查、树种分类等场景,在地质灾害调查中可快速识别滑坡、崩塌等灾害体的光谱特征,在树种分类中能精确区分不同植被类型的光谱差异。其专业的应用适配性让 Co-Aligned HP 成为科研机构、地质勘探、环境监测等领域的重要设备。

Nano HP 采用推扫式成像方式,相较于传统的悬停采集模式,作业效率得到质的提升。推扫式成像通过无人机的飞行运动与设备的线阵扫描协同工作,能够在连续飞行过程中完成大面积的影像采集,无需在每个监测点悬停等待。在相同的飞行时间内,推扫式成像的覆盖范围是悬停采集的数倍,尤其适合大面积农林资源调查、流域水体监测等需要快速覆盖的场景。例如在万亩农田监测中,Nano HP 可通过一次连续飞行完成全区域覆盖,大幅缩短作业时间,降低人力与时间成本。同时,推扫式成像获得的影像连续性强,减少了后期拼接的难度,提升了数据产品的完整性。这种高效的成像方式,让 Nano HP 能够更好地应对大规模、时效性强的监测任务,满足行业用户对高效数据采集的重要需求。Co-Aligned HP 的 SWIR 相机搭载 MCT 传感器,像元尺寸 15μm,短波红外探测稳定。

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另外,Co-Aligned HP结构紧凑,是一套完整的Turnkey解决方案,重量为4.0kg,内部除了集成有高光谱成像仪外,同时集成有高精度GNSS/IMU模块和嵌入式采集控制模块,高光谱数据和姿态信息可同时保存在SSD中,系统配有大尺寸反射率定标毯,尺寸为3*3m,包含三种梯度反射率,可通过SpectralView后处理软件对数据进行批量辐射校正,反射率校正和几何校正等,并且支持第三方DSM进行几何校正,图像镶嵌。Co-Aligned HP让用户无需再考虑复杂的硬件系统集成,专注于飞行计划的制定和高光谱数据的后期处理。Co-Aligned HP 适配中小型旋翼、固定翼及无人直升机,应用场景灵活。石家庄紫外高光谱成像仪哪家好

Nano HP 支持选配 16 线激光雷达,与高光谱设备共用 GNSS/IMU,同步采集点云。西安热红外高光谱成像仪价格

Co-Aligned HP 配备专业的辐射校正与数据处理体系,其中 3*3m 大尺寸反射率定标毯包含三种梯度反射率,为辐射校正提供了精确的参考标准。系统搭载的 SpectralView 后处理软件功能强大,支持批量辐射校正、反射率校正和几何校正,处理效率高且效果稳定,能够有效消除环境因素对数据的影响,提升数据的可靠性与可比性。此外,软件还支持导入第三方 DSM 进行几何校正与图像镶嵌,进一步优化空间定位精度,满足大规模、高精度拼接的需求。这种完善的校正与处理方案,确保了系统输出数据的科学性与准确性,尤其适合矿物填图、地质灾害调查等对数据精度要求极高的专业场景。用户通过标准化的处理流程,能够快速将原始数据转化为可用的分析产品,降低了后期数据处理的难度与时间成本。西安热红外高光谱成像仪价格

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