重庆半导体Mapping Inkless服务

为满足日益严苛的车规与工规质量要求，在晶圆测试阶段引入三温乃至多温测试，已成为筛选高可靠性芯片的标准流程。这一测试旨在模拟芯片在极端环境下的工作状态，通过高温、常温、低温下的全面性能评估，有效剔除对环境敏感、性能不稳定的潜在缺陷品，从而大幅提升产品的质量与可靠性。因此，如何在海量的多温测试数据中识别并剔除这些因温度敏感性过高而存在潜在风险的芯片，已成为业内高度关注并致力解决的关键课题。

为应对车规、工规产品在多温测试中面临的参数漂移挑战，上海伟诺信息科技有限公司凭借其深厚的技术积累，开发了一套专门用于多温Drift分析的智能化处理方案。该方案的关键在于，超越传统的、在各个温度点进行孤立判定的测试模式，转而通过对同一芯片在不同温度下的参数表现进行动态追踪与关联性分析，从而精确识别并剔除那些对环境过度敏感、性能不稳定的潜在缺陷品。 上海伟诺信息科技mapping去边功能，采用灵活配置的方式帮助用户剔除Mapping边缘潜在质量风险芯片。重庆半导体Mapping Inkless服务

面对国产替代需求，选择具备技术自主性和行业适配能力的良率管理系统厂商至关重要。上海伟诺信息科技有限公司的YMS系统兼容主流Tester平台，覆盖十余种测试数据格式，实现从采集、解析到异常过滤的全流程自动化。其分析引擎支持时间序列追踪、晶圆区域对比及WAT/CP/FT参数联动，精确识别影响良率的关键因素。SYL/SBL卡控与灵活报表导出功能，进一步强化过程管控与决策支持。更重要的是，系统背后有完整的实施与服务体系支撑，确保从部署到优化的每个环节可靠落地。这种“软硬协同”的能力，使YMS在国产软件生态中具备强大竞争力。伟诺依托多年项目积累，持续验证其作为本土良率管理解决方案提供者的专业价值。河南Mapping Inkless系统STACKED算法适用于多层结构失效分析，解析层间关联缺陷的分布特征。

在晶圆制造过程中，制程偏差是导致良率损失的主要因素之一，其典型表现即为晶圆上Die的区域性集群失效。此类失效并非随机分布，而是呈现出与特定制程弱点紧密相关的空间模式，例如由光刻热点、CMP不均匀或热应力集中所导致的失效环、边缘带或局部区块。然而，一个更为隐蔽且严峻的挑战在于，在这些完全失效的Die周围，往往存在一个“受影响区”。该区域内的Die虽然未发生catastrophicfailure，其内部可能已产生参数漂移或轻微损伤，在常规的CP测试中，它们仍能满足规格下限而呈现出“Pass”的结果。这些潜在的“薄弱芯片”在初期测试中得以幸存，但其在后续封装应力或终端应用的严苛环境下，早期失效的风险将明细高于正常芯片。为了将这类“过测”的潜在失效品精确识别并剔除，避免其流出至客户端成为可靠性隐患，常规的良率分析已不足以应对。必须借助特定的空间识别算法，对晶圆测试图谱进行深度处理。

上海伟诺信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精确的算法能够通过分析失效集群的空间分布与形态，智能地推断出工艺影响的波及范围，并据此将失效区周围一定范围内的“PassDie”也定义为高风险单元并予以剔除。这一操作是构建高可靠性产品质量防线中至关重要的一环。

在评估良率管理系统投入时，企业关注的不仅是初始采购成本，更是长期使用中的效率回报与服务保障。YMS系统提供模块化配置方案，涵盖软件授权、必要定制、技术培训及持续运维支持，确保部署后稳定运行与功能演进。系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester设备，处理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多种格式数据，大幅减少人工清洗与整合工作量，降低隐性人力成本。透明的报价结构避免隐性收费，使预算规划更可控。同时，系统内置的SYL/SBL自动计算与卡控、多维度良率分析及灵活报表导出功能，直接支撑质量决策效率提升。这种“一次投入、持续赋能”的模式，明显优化了总体拥有成本。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，始终以合理定价与高价值交付赢得客户信赖。AECQ合规性内嵌于Mapping Over Ink处理的算法判定逻辑中，确保车规级标准严格执行。

半导体设计公司对良率分析的颗粒度要求极高，需兼顾芯片级精度与跨项目可比性。YMS系统支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平台产生的多格式测试数据，完成统一解析与结构化存储，确保从晶圆到单颗芯片的数据链完整。系统不仅实现时间趋势与区域对比分析，还能通过WAT参数漂移预警潜在设计风险，辅助早期迭代优化。SYL与SBL的自动计算功能，为良率目标达成提供量化依据；灵活报表引擎则支持按项目、产品线或客户维度生成分析简报，并导出为PPT、Excel或PDF，适配不同汇报场景。这种深度集成的能力，使良率管理从被动响应转向主动预防。上海伟诺信息科技有限公司以“以信为本，以质取胜”为准则，持续打磨YMS的功能完整性与行业适配性。Mapping Over Ink处理方案支持高密度逻辑与模拟芯片应用，覆盖多品类半导体产品。北京半导体GDBC系统

DPAT模块动态调整阈值以适应批次差异，分场景优化测试限设定。重庆半导体Mapping Inkless服务

当封测厂每日面对来自数十台测试机台的海量异构数据时，传统手工汇总方式已难以满足实时质量管控需求。YMS系统通过自动化流程，即时采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等设备输出的原始测试数据，剔除重复、缺失与异常记录，构建高可信度的数据底座。标准化数据库支持从时间轴追踪良率波动，或聚焦晶圆特定区域识别系统性缺陷，结合WAT、CP、FT参数变化，快速定位工艺偏差根源。例如，当某批次FT良率骤降时，系统可联动CP数据判断是否为封装环节引入问题，缩短排查周期达数小时。图表化界面与日报、周报、月报自动生成机制，使管理层能基于一致数据源高效决策。上海伟诺信息科技有限公司凭借对半导体制造流程的深入理解，将YMS打造为数据驱动质量改进的关键工具。重庆半导体Mapping Inkless服务

上海伟诺信息科技有限公司汇集了大量的优秀人才，集企业奇思，创经济奇迹，一群有梦想有朝气的团队不断在前进的道路上开创新天地，绘画新蓝图，在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的信誉，信奉着“争取每一个客户不容易，失去每一个用户很简单”的理念，市场是企业的方向，质量是企业的生命，在公司有效方针的领导下，全体上下，团结一致，共同进退，**协力把各方面工作做得更好，努力开创工作的新局面，公司的新高度，未来和您一起奔向更美好的未来，即使现在有一点小小的成绩，也不足以骄傲，过去的种种都已成为昨日我们只有总结经验，才能继续上路，让我们一起点燃新的希望，放飞新的梦想！