宁夏M2测量光束质量分析仪测量系统

2 µm 波段 Tm 光纤激光器“热透镜”动态观测场景：100 W 级 1940 nm Tm 激光器，研究功率提升时光束质量退化配置：相机放在水冷聚焦镜后，功率每增加 10 W 自动采一次 M²结果：70 W 以下 M²≈1.05；>80 W 后因热透镜 M² 升至 1.38，软件拟合给出热焦距 0.85 m，为后续端帽设计提供数据6. 14 µm 自由电子激光（FEL）单脉冲剖面场景：用户需要验证 FEL 单脉冲（≈10 µJ, 50 fs, 10 Hz）横模方法：利用相机 14 ms 热常数，10 Hz 重频刚好满足“单脉冲-单帧”条件；关闭快门做背景扣除结果：获得高斯-拉盖尔混合模，可见中心凹陷，与理论 LG₀₁ 模式吻合USB 3.0 接口支持即插即用，无需外部电源适配器。宁夏M2测量光束质量分析仪测量系统

狭缝扫描 Beam'R2 用 True2D™ 蓝宝石薄膜狭缝，0.1 μm 分辨率、2 μm **小束径，190-2500 nm 可选，5 Hz 实时更新，为聚焦透镜、OEM 对准提供亚微米级反馈。BladeCam2-XHR-UV * 0.5″ 厚，3.2 µm 像素，2048×1536 分辨率，可插入紧凑激光头做实时轮廓与漂移记录。TaperCamD-LCM 把靶面放大到 25×25 mm，依旧 4.2 MPixel，为大功率切割、LiDAR 线斑一次成像。LLPS 线扫平台**长 200 mm，拼接软件给出 55 µm 线宽、倾斜角、质心曲线，3 D 扫描、激光阵列发光测试即刻完成。从紫外 190 nm 到远红外 16 µm、从微米焦斑到 200 mm 大光斑，DataRay 提供相机、狭缝、旋转漫反射、线扫、OEM 模组等完整方案，软件终身**更新，三年质保，30 天试用，让激光光束质量“看得见、测得准、控得住”。内蒙古相机型光束质量分析仪价格表对透镜、反射镜等光学元件的光学性能进行评估，通过测量经过光学元件后的光束质量，如光束的对称性。

测量方法2.1 ISO 11146标准方法束腰位置测定：沿光束传播方向（Z轴）移动探测器，找到**小光束宽度（束腰）。多位置测量：在束腰前后多个位置测量光束宽度，确保测量范围覆盖束腰及远场区域。数据拟合：采用双曲线拟合计算M²因子。通过**小二乘法拟合数据，得到M²值。2.2 CCD/CMOS成像法原理：使用相机直接捕获光束横截面图像，通过软件分析像素灰度值（与光强成正比）。步骤：扩展光束至相机感光面，避免饱和。采集多帧图像，取平均值减少噪声。拟合强度分布曲线（如高斯拟合），计算束腰直径。

数据Ray解决方案DataRay提供的光束质量分析工具包括：光束质量分析仪：高精度的相机式光斑轮廓分析仪，用于捕获不同传播距离上的光束剖面。自动平移台：精密控制分析仪沿光束传播方向移动，采集多个位置的光斑数据。专业软件：自动化控制测量流程，并依据ISO 11146标准进行拟合计算，输出准确的M²值。通过精确测量M²因子，可以有效评估激光光束的质量，为激光器的设计、制造和应用提供重要的数据支持。数据Ray解决方案DataRay提供的光束质量分析工具包括WinCamD-QD系列可用于1550nm和2000nm激光器的现场维修和校准，帮助技术人员快速评估激光器的性能状态。

二阶拉曼涡旋光束的生成与分析：实验设计：为了进一步拓展拉曼涡旋光的工作波长范围，研究团队在二阶金刚石拉曼振荡器中采用相同的离轴调控方法，成功获得了不同模式的1.5微米激光输出。设备应用：使用DataRay的光束分析仪对二阶斯托克斯光束进行分析。实验中观察到高斯模式输出以及沿垂直、水平和对角线轴对称分布的HG和LG模式。结果验证：通过剪切干涉仪测量的二阶LG拉曼光束的干涉图样，验证了光束具有轨道角动量（OAM），表明成功生成了二阶拉曼涡旋光束。搭配导轨使用，WinCamD-LCM可以对激光的发散角进行精确测量。浙江滤波片光束质量分析仪厂商

在对拉曼光纤激光器的研究中，WinCamD-LCM可用于测量激光器的光束质量因子M²。宁夏M2测量光束质量分析仪测量系统

超声波辅助合成量子点：超声波辐照可以促进量子点的合成过程。例如，通过超声波辅助珠磨（UBM）方法制备红色发射的MAPbI₃量子点，可以解决自上而下方法特有的宽粒径分布问题，从而实现更优异的光学性能。另一个例子是利用超声波辐照促进一锅法合成CH₃NH₃PbBr₃量子点，这种方法避免了使用易燃的CH₃NH₂前驱体，简化了合成步骤，同时通过控制超声辐照时间可以实现发射波长的调谐。应用案例量子存储与超声波的结合：在量子存储领域，超声波可以用于调制和控制量子态。例如，通过超声波调制稀土元素（如铒）的光学共振频率，可以实现高效的量子存储和读出。这种技术可以应用于量子通信和量子计算中，提高量子信息的存储和传输效率。宁夏M2测量光束质量分析仪测量系统