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第二项测试是发射机均衡测试，这项测试也与USB4预置值有关。这项测试的目标，是确保发射机均衡落在规范的极限范围内。新USB4方法要求每个预置值3个波形，而PCIe Gen 3/4则要求一个波形。现在一共需要48个波形，因此耗时很长！

USB4中接收机测试和校准变化现在我们讨论一下USB4中接收机测试和校准有哪些变化。首先，USB4必需对全部5个SJ频率执行接收机校准。这较USB3.2接收机校准变化很大，在USB3.2中我们只在100MHzSJ频率执行校准，然后使用相同的压力眼图校准进行接收机测试。USB4还有两种测试情况，我们需要进行自动调谐或精调，来满足压力眼图或总抖动目标。情况1是低插损(短通道)，情况2是比较大插损(长通道)，这也要耗费很长时间。下一步是USB4接收机测试，或者我们怎样运行传统抖动容差测试。抖动容差测试的目标之一，是扫描SJ或幅度，找到边界，或者找到哪里开始出现误码。为了执行这项测试，我们需要先使用边带通道初始化链路，然后开始BER测试。然后我们要一直监测误码，因为USB4现在采用机载误码计数器，而不是BERT上的传统误码检测器。这个过程涉及到多个步骤。 USB3.0信号测试软件物理层接收端的测试方法；多端口矩阵测试USB测试哪里买

USB电缆/连接器测试和USB2.0相比，USB3.0及以上产品的信号带宽高出很多，电缆、连接器和信号传输路径验证变得更加重要。图3.39是规范中对支持10Gbps信号的Type-C电缆的插入损耗(InsertionLoss)和回波损耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速传输电缆的插损和反射是用频域的S参数的形式描述的，频域传输参数的测 试标准是矢量网络分析仪(VNA)。另外，对于电缆来说还有一些时域参数，如差分阻抗和 不对称偏差(Skew)等也必须符合规范要求，这两个参数通常是用TDR/TDT来测量。目前 很多VNA已经可以通过增加时域TDR选件(对频域测试参数进行反FFT变换实现)的方 式实现TDR/TDT功能。另外，USB Type-C电缆上要测试的线对数量很多，通过模块化的 设计，VNA可以在一个机箱里支持多达32个端口，因此所有差分电缆/连接器的测试项目 都可以通过一 台多端口的VNA来完成。图3.40是用多端口的VNA配合测试夹具进行 Type-C 的USB 电缆测试的例子。 多端口矩阵测试USB测试哪里买usb2.0信号质量测试系统；

a)USB-IFUSB4ETT软件下图是USB-IF新推出的USB4ETT(USB4.0ElectricalTestTool)工具的实际界面，它可以通过USB4ElectricalTestT；手动控制)或者USB4ElectricalTestToolCLI.exe(commandlineinterface；自动化编程控制)两种方式，使被测设备产生必须的测试码型。

b)TransmitterPresetCalibrationUSB4.0信号为了补偿有损链路带来的损耗，定义了16种发送端均衡(Preset0~Preset15)，测试规范规定在做发送端测试前，需要对每一个接口的每一对高速信号支持的每一种速率分别做Preset的校准，选择能够提供值小DDJ值的Preset值，把它设定到被测体的固件里，作为后续验证的基础。

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在USB4.0的接收容限测试中，压力信号的产生和校准是非常复杂的工作，同时测试中 还需要和被测设备进行频繁的数据读取和交互，因此接收容限测试都是在自动测试软件的 控制下进行。

除了接收容限测试以外，为了控制接收端的反射影响，USB4.0的规范还要求对接收端 的回波损耗(Return Loss)进行测试。这个测试主要借助于网络分析仪，对端口的差模和共模回波损耗进行测试。图3.38是USB4.0接收端回波损耗的测试组网。

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（1）速度快：接口的传输速度高达480 Mbit／s，完全能满足高速数据交换的要求；  （2）连接简单快捷：所有的 USB设备利用通用的连接器，无需打开主机机箱就可简单方便地连人计算机，实现热拔插；  （3）无需外接电源：USB电源向低压设备提供 5V电源；  （4）有不同的带宽和连接距离：USB 2．0提供全速与高速 2种传输数率规格，使用户有足够的带宽供新的外设使用；  （5）良好的兼容性：系统检测到 1．1版本的接口类型时，会自动按照 12 Mbit／s的速度传输 ，而其他采用2．0版本的外设还是能以2．0所规定的速率传输。USB眼图测试接口测试；广东USB测试价格优惠

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USB3. 1的Type-C的外设接收容限的典型测试环境，测试系统中心是 一 台高性能的误码仪。误码仪可以产生5～10Gbps的高速数据流，同时其内部集成时钟恢 复电路、预加重模块、噪声注入、参考时钟倍频、信号均衡电路等。接收端的测试中用到了 USB协会提供的测试夹具和1m长的USB电缆，用于模拟实际链路上电缆以及Host/ Device上PCB走线造成的ISI 的影响。

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