云南可视化PAT平台

每周一上午赶制良率周报曾是质量团队的固定负担：手动汇总Excel、调整图表、统一格式，耗时且易出错。YMS内置报表模板可按日、周、月自动生成结构化报告，内容涵盖SYL/SBL卡控状态、区域缺陷对比、时间趋势等关键指标，并支持一键导出为PPT、Excel或PDF。管理层用PPT版直接用于经营会议，客户审计接收标准化PDF文档，工程师则调取Excel原始数据深入挖掘。自动化流程确保全公司使用同一数据口径，避免信息互相影响。报表制作时间从数小时降至几分钟，释放人力资源投入更高价值工作。上海伟诺信息科技有限公司通过灵活报表功能，推动企业决策从“经验驱动”向“数据驱动”转型。Mapping Over Ink处理系统输出结构化日志，完整记录处理过程满足质量追溯需求。云南可视化PAT平台

标准化良率管理系统难以覆盖不同企业的工艺路径与管理重点，定制化成为提升系统价值的关键路径。YMS支持根据客户实际使用的测试平台组合、数据结构及分析维度进行功能适配，例如针对特定封装流程优化缺陷分类逻辑，或为高频监控场景开发专属看板。系统底层架构保持统一，上层应用则灵活可调，既保障数据治理规范性，又满足业务个性化需求。定制内容包括但不限于报表模板、卡控阈值、导出格式及用户权限体系，确保系统与现有工作流无缝融合。通过前期深度调研与迭代式交付，定制方案能精确匹配客户在良率提升、异常预警或合规追溯等方面的目标。上海伟诺信息科技有限公司将定制服务视为价值共创过程，以技术灵活性支撑客户业务独特性。安徽Mapping Inkless系统定制Mapping Over Ink处理支持结果回溯，确保数据在供应链中无缝传递。

面对工厂级良率管理的复杂性，单一数据源或手工报表已难以支撑全局质量洞察。YMS系统整合来自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等设备的stdf、xls、log等测试数据，通过自动化清洗与异常过滤，构建全厂统一的良率数据视图。管理者可基于该视图，从时间维度追踪长期趋势，或从空间维度比对不同机台、批次间的性能差异，精确识别瓶颈环节。系统对WAT、CP、FT参数的联动分析，进一步打通从前道到后道的质量链路。SYL与SBL的自动卡控机制，确保关键指标始终处于受控状态。灵活的报表导出功能，则满足从车间班组长到高管的多层次信息需求。上海伟诺信息科技有限公司立足本土半导体发展需求，持续完善YMS系统，推动工厂实现数据驱动的质量跃升。

在晶圆测试（CP）过程中，ProbeMapping（探针测试图谱）作为记录每一颗芯片测试结果的重要载体，其数据完整性直接决定了良率分析的准确性与生产流程的可追溯性。然而在实际量产环境中，因硬件通信异常、软件系统故障、产线突然断电或人为操作失误等多种意外情况，Mapping数据丢失、损坏或格式不兼容的问题时有发生。这类数据异常不仅会导致当批晶圆的测试结果无法被正确解析，更会中断生产信息链，使后续的封装拣选、质量追溯与制程优化丧失依据，对整体产品良率与制程管控构成严峻挑战。

针对这一行业共性难题，上海伟诺信息科技有限公司从实际测试场景出发，开发出一套高效、可靠的Mapping格式转换解决方案，致力于从根本上保障数据流的无缝衔接。该功能支持将CP测试系统生成的原始Mapping数据，智能、精确地转换为各类主流探针台可直接识别并加载的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在内的多种设备类型。通过这一转换流程，用户不仅能够有效恢复因格式问题而“失效”的测试数据，避免晶圆重复测试带来的成本与时间损失，更能构建起一条从测试到封装的高可靠性数据通道，从而提升整体生产流程的连贯性与自动化水平，为良率提升与工艺优化提供坚实的数据基石。 Mapping Over Ink处理通过空间分析有效识别外观损伤引起的隐性失效，提升可靠性。

面对国产半导体制造对自主可控软件的迫切需求，良率管理系统成为打通数据孤岛、实现质量闭环的关键工具。系统自动采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台输出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多种格式测试数据，通过内置算法识别重复项、缺失值并过滤异常记录，确保后续分析基于高可信度数据源。在标准化数据库支撑下，企业可从时间维度追踪良率趋势，或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布，快速定位工艺波动点。结合WAT、CP与FT参数的联动分析，进一步揭示影响良率的深层原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制，强化了过程质量防线。灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF格式，提升跨部门协同效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，专注打造适配本土需求的YMS系统，助力构建中国半导体软件生态。工艺窗口优化得益于Mapping Over Ink处理对失效模式的精确识别，提升制造良率水平。河南自动化MappingOverInk处理服务商

上海伟诺信息科技Mapping Bin 转换功能，可以将Wafer Map上指定坐标的芯片进行Ink。云南可视化PAT平台

在智能制造转型背景下，YMS已不仅是数据分析工具，更是连接测试与工艺优化的中枢系统。系统实时汇聚来自ETS364、STS8107、93k等平台的测试结果，自动完成结构化清洗与整合，消除信息孤岛。标准化数据库支持动态监控良率变化，例如识别某机台连续三批边缘区域良率偏低，触发设备校准预警。SYL/SBL卡控功能则在指标超限时自动拦截异常批次，防止不良品流入下一环节。报表引擎支持按产品线、客户或班次生成定制化报告，适配不同管理层的信息需求。这种“采集—分析—干预—反馈”的闭环机制，明显提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司以打造中国半导体软件生态为使命，持续完善YMS的集成能力。云南可视化PAT平台

上海伟诺信息科技有限公司在同行业领域中，一直处在一个不断锐意进取，不断制造创新的市场高度，多年以来致力于发展富有创新价值理念的产品标准，在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的商业口碑，成绩让我们喜悦，但不会让我们止步，残酷的市场磨炼了我们坚强不屈的意志，和谐温馨的工作环境，富有营养的公司土壤滋养着我们不断开拓创新，勇于进取的无限潜力，携手大家一起走向共同辉煌的未来，回首过去，我们不会因为取得了一点点成绩而沾沾自喜，相反的是面对竞争越来越激烈的市场氛围，我们更要明确自己的不足，做好迎接新挑战的准备，要不畏困难，激流勇进，以一个更崭新的精神面貌迎接大家，共同走向辉煌回来！