小型台式多晶X射线衍射仪（XRD）在刑事侦查物证分析中具有独特优势，能够快速、无损地提供物证的晶体结构信息，为案件侦破提供关键科学依据。
物残留分析检测目标：无机**：KNO₃（**）、NH₄NO₃（硝酸铵**）有机**：RDX（1,3,5-三硝基-1,3,5-三氮杂环己烷）技术方案：原位检测：现场尘土直接压片分析混合物解析：全谱拟合定量各组分（如**中S/KNO₃/C比例）特征数据：RDX主峰：13.6°、17.2°、28.9°NH₄NO₃多晶型鉴别（常温相IV：23.1°、29.4°） 测定金属合金的相组成比例。小型台式多晶XRD衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析
X射线衍射在考古与文化遗产保护中的应用：文物材料鉴定与工艺研究
文物材料鉴定与溯源（1）陶瓷与釉料分析胎体成分鉴定：区分高岭土、伊利石等黏土矿物，追溯原料产地（如中国景德镇瓷石vs. 欧洲高岭土）。典型案例：通过石英/莫来石比例判定青白瓷烧成温度（宋代约1200-1300℃）。釉层物相解析：检测析晶相（如硅灰石CaSiO₃）揭示釉料配方（如唐三彩铅釉的PbSiO₃特征峰）。鉴别仿古釉与现代合成颜料（如钴蓝CoAl₂O₄ vs. 古代钴料中的As杂质）。（2）金属文物研究合金相组成：青铜器的α相（Cu-Sn固溶体）与δ相（Cu₃₁Sn₈）比例反映铸造工艺。铁器锈蚀产物鉴别（磁铁矿Fe₃O₄ vs. 针铁矿α-FeOOH）。表面处理技术：检测"黑漆古"铜镜表面的SnO₂晶体（人工硫化处理证据）。（3）古代颜料与壁画矿物颜料库建立：朱砂（HgS）、石青（2CuCO₃·Cu(OH)₂）、雌黄（As₂S₃）等特征衍射峰数据库。案例：敦煌壁画中氯铜矿（Cu₂(OH)₃Cl）的发现揭示唐代绿色颜料配方。老化机理研究：白垩（CaCO₃）→石膏（CaSO₄·2H₂O）的相变指示环境酸化侵蚀。 便携式智能型X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析尾矿库资源化潜力快速筛查。
XRD在催化剂研究中的应用催化剂的高效性与其晶体结构、活性位点分布及稳定性密切相关，XRD可提供以下关键信息：（1）催化剂物相鉴定确定催化剂的晶相结构（如金属氧化物、沸石、贵金属等）。示例：在Pt/Al₂O₃催化剂中，XRD可检测Pt纳米颗粒的晶型（fcc结构）及其分散度。在Cu/ZnO/Al₂O₃甲醇合成催化剂中，XRD可识别CuO、ZnO及可能的Cu-Zn合金相。（2）晶粒尺寸与分散度分析通过Scherrer方程计算活性组分（如Pt、Pd、Ni）的晶粒尺寸，评估催化剂的分散性。示例：较小的Pt纳米颗粒（<5 nm）在燃料电池催化剂中表现出更高的氧还原活性。（3）催化剂稳定性研究通过原位XRD监测高温或反应条件下的相变（如烧结、氧化/还原）。示例：研究Co基费托催化剂在H₂气氛下的还原过程（Co₃O₄ → CoO → Co）。观察沸石分子筛（如ZSM-5）在高温水热条件下的结构稳定性。（4）负载型催化剂的表征分析载体（如SiO₂、Al₂O₃、碳材料）与活性组分的相互作用。示例：在Ni/Al₂O₃催化剂中，XRD可检测NiAl₂O₄尖晶石相的形成，影响催化活性。
陶瓷器的产地研究一直是考古学的重要课题，直接关系到古代贸易路线和手工业分布的重建。小型台式粉末多晶衍射仪通过分析陶瓷胎体和釉料中的矿物组成，能够像指纹识别一样区分不同窑口的产品特征。赢洲科技的设备在这方面表现突出，它可以检测到含量极低的特征矿物，帮助研究人员建立更精确的产地数据库。某博物馆曾利用该仪器成功识别出一批号称"宋代名窑"的瓷器实为现代仿品，避免了一次重大收购失误。对于考古出土的残片，即使样品量很少，也能获得可靠的分析结果。这种技术让窑址考古不再局限于器型比对，而是从物质本质上找到关联，为海上丝绸之路等跨国研究提供了新的证据链构建方法。研究污染物迁移转化机制。
半导体产业是现代科技的 ，薄膜厚度的精确控制是半导体生产的关键环节之一。粉末多晶衍射仪在半导体薄膜厚度分析中发挥着重要作用。它能够对半导体材料表面的薄膜进行非接触式测量，快速获取薄膜厚度数据，为生产过程中的质量控制提供有力支持。与传统检测手段相比，粉末多晶衍射仪的检测速度快、精度高，且不会对半导体材料造成损伤。赢洲科技的粉末多晶衍射仪，以其 的性能和稳定的表现，成为半导体企业薄膜厚度检测的优先设备，帮助企业确保产品质量，提高生产效率。电子与半导体工业薄膜厚度分析，粉末多晶衍射仪是好帮手。小型台式多晶XRD衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析
工业固废危险成分现场识别。小型台式多晶XRD衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析
YBCO薄膜的氧含量调控目标：确定退火后薄膜的δ值。步骤：测量（005）峰位，计算c轴长度。根据校准曲线（cvs.δ）确定氧含量。检测杂相（如BaCuO₂）确保薄膜纯度。设备：RigakuSmartLab，配备高温腔室。案例2：铁基超导体SmFeAsO₁₋xFx的掺杂分析目标：评估F掺杂对晶格的影响。步骤：精修a、c轴参数，观察F掺杂引起的收缩。分析（002）峰宽变化，评估晶格畸变。数据：x=0.1时，c轴缩短0.3%，与Tc提升相关。小型台式多晶XRD在超导材料研究中可高效完成相鉴定、氧含量估算、掺杂效应分析等任务，尤其适合实验室日常合成质量控制。小型台式多晶XRD衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析
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