企业商机
加热盘基本参数
  • 品牌
  • 无锡国瑞热控
  • 型号
  • 非标定制
  • 类型
  • 元素半导体材料,化合物半导体材料
  • 材质
  • 6061-T6,陶瓷,金属等
  • 产品名称
  • 晶圆加热盘
  • 产地
  • 江苏无锡
  • 厂家
  • 无锡国瑞热控
加热盘企业商机

面向半导体实验室研发场景,国瑞热控小型加热盘以高精度与灵活性成为科研得力助手!产品尺寸可定制至10cm×10cm,适配小规格晶圆与实验样本的加热需求,温度调节范围覆盖室温至500℃,**小调节精度达1℃!采用陶瓷加热元件与铂电阻传感器组合,控温稳定性达±0.5℃,满足材料研发中对温度参数的精细控制!设备支持USB数据导出功能,可实时记录温度变化曲线,便于实验数据追溯与分析!整体采用便携式设计,重量*1.5kg,且具备过热保护功能,当温度超过设定阈值时自动断电,为半导体新材料研发、工艺参数优化等实验工作提供可靠温控工具!加热盘及配套一站式,省时省心,长期可信赖供应商。安徽刻蚀晶圆加热盘供应商

安徽刻蚀晶圆加热盘供应商,加热盘

面向先进封装Chiplet技术需求,国瑞热控**加热盘以高精度温控支撑芯片互联工艺!采用铝合金与陶瓷复合基材,加热面平面度误差小于0.02mm,确保多芯片堆叠时受热均匀!内部采用微米级加热丝布线,实现1mm×1mm精细温控分区,温度调节范围覆盖室温至300℃,控温精度±0.3℃,适配混合键合、倒装焊等工艺环节!配备压力与温度协同控制系统,在键合过程中同步调节温度与压力参数,减少界面缺陷!与长电科技、通富微电等企业适配,支持2.5D/3D封装架构,为AI服务器等高算力场景提供高密度集成解决方案!闵行区晶圆键合加热盘生产厂家低热容设计升温降温快,实现高效热循环,适合快速变温工艺。

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针对半导体晶圆研磨后的应力释放需求,国瑞热控**加热盘以温和温控助力晶圆性能稳定!采用铝合金基体与柔性导热垫层复合结构,导热垫层硬度ShoreA30,可贴合研磨后晶圆表面微小凹凸,确保热量均匀传递!温度调节范围30℃-150℃,控温精度±0.8℃,支持阶梯式升温(每阶段升温5℃-10℃,保温10-30分钟),缓慢释放晶圆内部机械应力!配备氮气保护系统,避免加热过程中晶圆表面氧化,且加热盘表面粗糙度Ra小于0.05μm,无颗粒划伤晶圆风险!与硅产业集团、中环股份等晶圆厂商合作,使研磨后晶圆翘曲度降低20%以上,提升后续光刻、刻蚀工艺的良率!

国瑞热控封装测试**加热盘聚焦半导体后道工艺需求,采用轻量化铝合金材质,通过精密加工确保加热面平整度误差小于0.05mm,适配不同尺寸封装器件的测试需求!加热元件采用片状分布设计,热响应速度快,可在5分钟内将测试温度稳定在-40℃至150℃之间,满足高低温循环测试、老化测试等场景要求!表面采用防粘涂层处理,减少测试过程中污染物附着,且易于清洁维护!配备可编程温控系统,支持自定义测试温度曲线,可存储100组以上测试参数,方便不同型号器件的测试切换!与长电科技、通富微电等封装测试企业合作,适配其自动化测试生产线,为半导体器件可靠性验证提供精细温度环境,助力提升产品良率!低热容设计,升温降温迅捷,适合快速变温工艺。

安徽刻蚀晶圆加热盘供应商,加热盘

针对晶圆清洗后的烘干环节,国瑞热控**加热盘以洁净高效的特性适配严苛需求!产品采用高纯不锈钢基材,表面经电解抛光与钝化处理,粗糙度Ra小于0.2μm,减少水分子附着与杂质残留!加热面采用蜂窝状导热结构,使热量均匀分布,晶圆表面温度差控制在±2℃以内,避免因局部过热导致的晶圆翘曲!温度调节范围覆盖50℃至150℃,支持阶梯式升温程序,适配不同清洗液的烘干需求!设备整体采用无死角结构设计,清洁时*需用高纯酒精擦拭即可,符合半导体制造的高洁净标准,为清洗后晶圆的干燥质量与后续工艺衔接提供保障!密封式设计可选,防潮防尘耐腐蚀,适用复杂环境。中国台湾刻蚀晶圆加热盘

模块化设计,便于维护更换,减少停机提升产能。安徽刻蚀晶圆加热盘供应商

国瑞热控清洗槽**加热盘以全密封结构设计适配高洁净需求,采用316L不锈钢经电解抛光处理,表面粗糙度Ra小于0.05μm,无颗粒脱落风险!加热元件采用氟塑料密封封装,与清洗液完全隔离,耐受酸碱浓度达90%的腐蚀环境,电气强度达2000V/1min!通过底部波浪形加热面设计,使槽内溶液形成自然对流,温度均匀性达±0.8℃,温度调节范围25℃-120℃!配备防干烧与泄漏检测系统,与盛美上海等清洗设备厂商适配,符合半导体制造Class1洁净标准,为晶圆清洗后的表面质量提供保障!安徽刻蚀晶圆加热盘供应商

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北京半导体晶圆加热盘 2026-02-14

面向半导体热压键合工艺 ,国瑞热控**加热盘以温度与压力协同控制提升键合质量。采用陶瓷加热芯与铜合金散热基体复合结构 ,加热面平面度误差小于0.005mm ,确保键合区域压力均匀传递。温度调节范围室温至400℃ ,升温速率达40℃/秒 ,可快速达到键合温度并保持稳定(温度波动±0.5℃) ,适配金-金、铜-铜等不同金属键合工艺。配备压力传感器与位移监测模块 ,实时反馈键合过程中的压力变化与芯片位移 ,通过闭环控制实现压力(0.1-10MPa)与温度的精细匹配。与ASM太平洋键合设备适配 ,使键合界面电阻降低至5mΩ以下 ,为高可靠性芯片互联提供保障。精确稳定温度环境,提升产品质量一致性,是关键...

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