南京偏振成像式应力仪研发

成像式应力测试仪在光学镜片制造过程中发挥着关键作用，它通过先进的CCD成像系统和高精度偏振光路，能够快速捕捉镜片全区域的应力分布情况。这种非接触式测量方式特别适合检测各类光学镜片在切割、研磨和抛光过程中产生的残余应力，其独特的全场成像功能可一次性完成整个镜面的应力扫描，避免了传统点式测量可能遗漏的局部应力集中问题。系统配备的专业分析软件能够将光学延迟量转化为直观的应力分布图，并以不同颜色梯度清晰展示应力大小和方向，为工艺人员提供即时反馈。这种高效的检测方式提升了光学镜片的生产良品率，尤其在高折射率镜片和渐进多焦点镜片的生产中体现出重要价值。快速测量光学材料内部应力，选合格材料。南京偏振成像式应力仪研发

成像式内应力测量在多个行业都有重要应用。在光学元件制造中，它帮助确保镜头、棱镜等产品的光学性能；在显示行业，用于评估保护玻璃和偏光膜的应力状态；在半导体领域，则用于监测晶圆加工过程中的应力变化。应力分布测试是评估光学元件内应力状况的重要手段。常用的测试方法有偏光应力仪法，其基于光弹性原理，通过观测镜片在偏振光下的干涉条纹，分析应力的大小和分布，能够直观呈现应力集中区域，数字图像相关法（DIC）则利用高精度相机采集元件表面变形图像，通过对比变形前后的图像，计算出应力分布情况，这种方法可实现全场应力测量，精度高且对元件无损伤。南京偏振成像式应力仪研发助力检测钢化应力层均匀性。

应力分布测试对特殊光学元件的性能保障尤为关键。在非球面透镜、自由曲面镜等复杂光学元件的生产中，由于几何形状的不对称性，更容易产生不均匀的应力分布。这类应力会导致元件产生难以校正的像差，严重影响光学系统的成像质量。通过相位差测量、偏振光分析等先进的应力测试技术，可以精确量化这些复杂元件的应力分布状况。在大型天文望远镜镜片的制造中，应力分布测试帮助解决了因重力变形导致的应力集中问题；在红外光学元件的生产中，该技术确保了材料在温度变化时的尺寸稳定性。

应力分布测试是评估光学元件内应力状况的重要手段。常用的测试方法有偏光应力仪法，其基于光弹性原理，通过观测镜片在偏振光下的干涉条纹，分析应力的大小和分布，能够直观呈现应力集中区域；数字图像相关法（DIC）则利用高精度相机采集元件表面变形图像，通过对比变形前后的图像，计算出应力分布情况，这种方法可实现全场应力测量，精度高且对元件无损伤。玻璃制品内应力是影响其强度和稳定性的关键因素，我们的内应力测量设备采用先进的偏光技术与高精度传感器，可快速、准确地检测玻璃制品中的应力分布。适用于多种低相位差材料应力测量。

光学镜片内应力测量设备是保障光学元件质量的关键检测仪器，采用先进的偏光干涉原理，能够精确测量镜片内部的残余应力分布。这类设备通常配备高精度偏振光学系统、CCD成像组件和专业分析软件，通过非接触式测量方式，可快速获取镜片全区域的应力数据。测量时，偏振光透过被测镜片后，应力导致的双折射效应会形成特征性干涉条纹，系统通过分析条纹密度和走向，自动计算出应力大小和方向，并以彩色云图直观显示。现代设备的测量精度可达0.5nm/cm，能满足从普通光学玻璃到低应力晶体材料的检测需求，是镜头、棱镜等光学元件生产的必备质量控制设备。测量区域大，满足多样测试需求。透明树脂材料成像式应力仪报价

采用独特算法，快速解析斯托克斯分量。南京偏振成像式应力仪研发

成像式应力测试仪是一种基于光学偏振原理的精密测量设备，主要用于透明材料内部应力分布的快速检测与分析。该仪器通过高精度偏振光学系统和CCD成像组件的协同工作，能够实现样品全区域的应力状态可视化测量，典型测量精度可达±0.5nm/cm，测量速度达到毫秒级别采集速度，系统**由偏振光源、精密旋转机构、高分辨率相机和专业分析软件组成，工作时偏振光穿透被测样品后，材料应力导致的光学各向异性变化被相机捕获，经过软件处理生成直观的应力分布云图。南京偏振成像式应力仪研发

千宇光学专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。主要事业涵盖光电材料、光学显示、半导体、薄膜橡塑、印刷涂料等行业。 产品覆盖LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光学测试需求，并于国内率先研发相位差测试仪打破国外设备垄断，目前已广泛应用于全国光学头部品牌及其制造商

千宇光学研发中心由光学博士团队组成，掌握自主的光学检测技术, 测试结果可溯源至国家计量标准。与国家计量院、华中科技大学、东南大学、同济大学等高校建立产学研深度合作。千宇以提供高价值产品及服务为发展原动力， 通过持续输出高速度、高精度、高稳定的光学检测技术，优化产品品质，成为精密光学产业有价值的合作伙伴。