高性能PCB测试系统研发

杭州国磊半导体设备有限公司致力于为国内半导体及电子制造业提供高性能的测试解决方案，其明星产品GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统便是这一承诺的坚实体现。该系统支持比较高256通道的并行测试，电阻测量范围横跨10^4~10^14Ω，精度高达±3%~±10%，能够灵敏地侦测因离子迁移导致的绝缘电阻退化现象。GM8800配备精密的电压施加单元，内置0V~±100V电源，外接偏置电压可扩展至3000V，支持精细的步进调节和快速的电压建立，测试电压稳定时间1~600秒可设，充分满足不同标准和应用场景的测试条件要求。系统具备***的数据采集能力，持续记录时间、电阻、电流、电压、温湿度等参数，并通过直观的软件界面进行实时显示与分析，还创新性地集成了远程监控功能，支持电脑和手机访问。其坚固的硬件设计辅以低阻、停机、环境异常、电源故障、软件状态等多重报警机制，确保了系统能够稳定运行长达9999小时甚至更久的持续测试任务。与英国GEN3等传统进口品牌相比，GM8800在提供同等***性能的同时，***降低了用户的购置门槛和运维成本，并且凭借本地化的研发团队能够提供更快速、更贴近用户需求的技术服务与定制开发，是推动绝缘可靠性测试设备国产化替代和产业升级的强大动力。国磊GT600高密度集成设计降低系统体积，适配探针台有限空间下的模拟晶圆测试（CP）应用。高性能PCB测试系统研发

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统是国产**测试仪器实现创新突破的**产品。该系统以其可扩展至256通道的强大并行处理能力、高达10^14Ω的超宽电阻测量范围和优异的精度（±3%~±10%），为绝缘材料的可靠性评估设立了新的**。GM8800提供精确且稳定的电压应力源，内置0V~±100V，外接高达3000V，电压输出精度高，调节步进小，建立速度快，并可自定义1~600秒的测试电压稳定时间，确保各种测试条件都能被精确复现。系统具备***的实时监测功能，同步采集电阻、电流、电压、温度、湿度数据，并通过专业软件进行高效管理与深度分析，用户还可通过网络实现远程操作与实时监控。其坚固的硬件平台辅以多层次的安全保护设计，包括多种故障报警和断电续航能力，保障系统能够稳定运行长达9999小时的持续测试任务。与传统的进口设备如英国GEN3相比，GM8800在提供同等前列测量性能的同时，在采购成本、使用灵活性、维护便利性以及技术服务响应速度上展现出***优势，正广泛应用于国内PCB制造、IC封装、汽车电子、航空航天等领域，成为客户提升产品质量、进行可靠性验证和实现进口替代的**装备。湖州CAF测试系统定制国磊GT600在400MHz速率下测试SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能验证。

AI眼镜作为下一代可穿戴计算终端，正面临“功能丰富度、续航时长、设备重量”三者难以兼得的工程难题。为实现语音交互、实时翻译、环境感知与轻量化设计，其**SoC必须在极小面积内集成CPU、NPU、DSP、蓝牙/Wi-Fi射频、传感器接口与电源管理模块，同时在先进工艺节点下实现**静态功耗。这类高度集成的异构SoC对测试设备提出了严苛要求：不**需验证复杂功能逻辑，更要精确测量nA级漏电流、微瓦级动态功耗及多电源域切换时序。国磊GT600测试机支持每通道PPMU，可实现nA级IDDQ测量，**识别SoC在睡眠模式下的漏电异常，确保续航能力不受“隐形功耗”拖累。

天玑9000系列集成了高性能CPU集群与**NPU，支持多模态AI推理、端侧大模型运行，其芯片内部信号复杂度远超传统SoC。国磊GT600测试机支持**2048个数字通道和400MHz测试速率，可完整覆盖天玑类SoC的高并发I/O接口测试需求。其32/64/128M向量存储深度支持复杂AI指令序列的Pattern加载，确保NPU功能逻辑的完整验证。更关键的是，GT600支持512Sites高并行测试，**提升测试吞吐量，降低单颗芯片测试成本，满足手机SoC大规模量产的效率要求。在AI芯片“拼性能、拼量产”的竞争中，国磊GT600测试机为国产SoC厂商提供了高效、稳定的测试保障。强大的软件系统，提供实时数据采集和深度分析功能。

“风华3号”**了国产GPU在架构创新与生态兼容上的重大突破，而其成功落地离不开从设计到量产的完整验证链支撑。国磊GT600测试机凭借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信号支持与开放软件架构，已成为**GPU、AI计算芯片测试的关键基础设施。它支持GPIB/TTL接口与探针台、分选机联动，构建全自动CP/FT测试流程，**提升测试效率与一致性。在国产GPU迈向大模型、医疗、工业等**应用的进程中，国磊GT600测试机提供从功能、参数到可靠性的**测试保障，助力中国芯在图形与计算领域实现自主可控。国磊GT600测试机模块化16插槽架构可同时集成数字、AWG、TMU、Digitizer板卡，实现HBM系统级混合信号测试。东莞CAF测试系统厂家供应

国磊GT600凭高精度参数测量、多域电源控制与可编程软件平台，支持从90nm到7nm主流工艺节点电源门控测试。高性能PCB测试系统研发

AI眼镜作为下一代智能终端，集成了**头、语音交互、AR显示与边缘AI计算功能，其**是一颗高集成度的SoC芯片。这颗芯片需在极低功耗下运行大模型推理、图像处理与传感器融合，对性能与可靠性提出***要求。国磊GT600等SoC测试机正是确保这类芯片“万无一失”的关键。首先，AI眼镜的SoC包含CPU、NPU、ISP、蓝牙/WiFi基带等多种模块，属于典型混合信号芯片。国磊GT600凭借可选配的AWG和TMU，能同时验证数字逻辑与模拟电路，确保摄像头图像清晰、无线连接稳定、语音响应及时。其次，AI眼镜依赖电池供电，功耗控制极为敏感。国磊GT600的PPMU可精确检测芯片的静态漏电流（Iddq）和动态功耗，筛选出“省电体质”的芯片，直接决定眼镜的续航能力。再者，AI眼镜需7x24小时佩戴使用，可靠性至关重要。国磊GT600通过高温老化测试、高速功能验证，提前发现潜在缺陷，避免用户端出现死机、发热等问题。AI眼镜量产规模大，成本敏感。国磊GT600支持512站点并行测试，大幅提升效率，降低单颗芯片测试成本，助力产品上市。可以说，国磊GT600不仅可以做AI眼镜SoC的“体检官”，更能做其性能、续航与可靠性的“守门人”。在轻巧镜架之下，正是这样严苛的测试，让“智能随行”真正成为可能。 高性能PCB测试系统研发