湘潭CAF测试系统厂家供应

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800是专为绝缘材料可靠性评估而设计的旗舰型导电阳极丝（CAF）测试系统。该系统以其超高的通道密度（比较高256通道）和极宽的电阻测量范围（10^4~10^14Ω）著称，能够同时对大量测试样本进行长期加电测试，高效统计其绝缘失效时间和电阻退化规律，满足大批量、高精度测试需求。GM8800提供精确可控的电压应力，内置0V~±100V电源，外接偏置电压可达3000V，电压输出精度高，步进调节细腻，并具备快速的电压建立能力，可精确模拟各种应用场景下的电场环境。系统测试参数设置灵活，测试间隔、稳定时间、总持续时间均可按需设定，并集成***的环境监测与安全保护功能，包括温湿度监控、多种故障报警和断电保护，确保测试过程的可靠与数据的安全。其智能软件平台不仅实现自动化测试控制与数据采集，还提供强大的数据分析工具和远程访问功能。与价格昂贵的英国GEN3设备相比，GM8800在**测试性能上并驾齐驱，而在系统扩展能力、购买成本、运营维护成本以及本地化服务支持方面具有***优势，已成为国内众多行业领导企业在产品研发、质量控制和可靠性验证环节提升竞争力的重要工具，是实现供应链自主可控的关键一环。国磊GT600SoC测试机通过加载Pattern，验证SoC逻辑（如CPU、NPU、DSP）的功能正确性与逻辑测试及向量测试。湘潭CAF测试系统厂家供应

国磊半导体GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为应对电子行业日益严峻的可靠性挑战而研制的高精度仪器。该系统采用模块化架构，可轻松配置16至256个测试通道，实现大规模并行测量，***提升测试效率；其电阻测量范围覆盖10^4Ω至10^14Ω，测量精度优异，在10^10Ω以下可达±3%，即便在极高的10^14Ω区间仍能保证±10%的精度，性能媲美进口**设备。GM8800提供宽广且精确的电压激励，内置±100V电源，外接偏置电压高达3000V，电压输出精度高，上升速度快，且测试电压稳定时间可在1~600秒间灵活设置，满足各种国际标准测试要求。系统实时采集电阻、电流、施加电压、温度、湿度等***数据，并通过完全屏蔽的低噪声线缆传输，确保测量结果准确可靠。配套软件功能***，提供自动化测试、实时监控、数据分析、报警管理和远程操作功能。在系统可靠性方面，具备多重硬件与软件报警机制和UPS断电保护功能。相较于英国GEN3等进口产品，GM8800在提供同等前列性能的同时，拥有更友好的价格、更灵活的扩展能力和更快捷的本土化服务支持，正成为国内集成电路、新能源车辆、通信设备、航空航天等领域**企业进行绝缘可靠性研究与质量控制的强大工具，助力中国**制造业创新发展。CAF测试系统厂商若测得电流明显高于设计规格，即判定为漏电异常。结合高温测试，国磊GT600可放大漏电效应提升缺陷检出率。

当全球HBM市场由三星、SK海力士主导，当先进封装技术成为“卡脖子”关键，国产测试设备的自主可控显得尤为重要。国磊GT600测试机，正是在这一背景下崛起的国产**ATE**。它不**性能对标国际**设备，更以高性价比、本地化服务与持续创新能力，赢得国内头部AI芯片企业的信赖。GT600成功应用于多款集成了HBM接口的GPU与AI加速器测试，验证了其在**领域的实战能力。选择GT600，不**是选择一台测试机，更是选择一条自主可控的国产化路径。国磊GT600——智测HBM芯时代，赋能中国算力新未来！

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为应对复杂电化学迁移现象而研制的高精度分析仪器。该系统以16通道为基本单元，可灵活扩展至256通道，实现大规模并行测试，***提升测试效率，其电阻测量范围宽至10^4~10^14Ω，测量精度根据区间不同控制在±3%至±10%的高水准。GM8800支持0V~±100V内置精密电压源与1V~3000V外置偏置电压的无缝切换，步进电压可精细至0.01V，并具备100V/2ms的快速电压爬升能力，能够精确模拟各种实际工作电压应力，有效加速绝缘材料的劣化过程以便于观察CAF效应。系统数据采集功能***，实时记录采样时间、运行时间、电阻值、电流值、施加电压、环境温度与湿度，并通过功能强大的软件平台进行数据处理与趋势分析，用户还可通过远程监控功能实时掌握测试状态。相比进口品牌如英国GEN3，GM8800在提供同等甚至更优测试性能的同时，凭借其更低的购置成本、更快的售后响应速度以及深度定制化能力，完美契合国内PCB板厂、半导体封装厂、学术研究机构及第三方检测实验室对高性能、高性价比CAF测试设备的迫切需求，是国产**测试装备实现进口替代的典范之作。国磊GT600SoC测试机每通道32/64/128M向量存储深度，支持复杂HBM协议Pattern的完整加载与执行。

针对2.5D/3D封装底部填充胶，在100V偏压与85%RH条件下执行CAF测试。GM8800系统突破性实现10¹⁴Ω超高阻测量（精度±10%），可检测0.01%吸湿率导致的绝缘衰减：1、空间定位：电阻突变频谱分析功能，定位封装内部±0.5mm级CAF生长点。2、过程监控：1~600分钟可调间隔捕捉阻值从10⁶Ω到10¹³Ω跃迁曲线。3、热管理：温度传感器同步记录固化放热反应，优化回流焊参数实测数据表明，该方案使FCBGA封装良率提升22%，年节省质损成本超800万元。国磊GT600高密度集成设计降低系统体积，适配探针台有限空间下的模拟晶圆测试（CP）应用。杭州国磊GEN3测试系统定制

国磊GT600多通道浮动SMU设计，支持多电源域模拟芯片（如多路电源管理IC）的单一电压施加与电流监测。湘潭CAF测试系统厂家供应

杭州国磊半导体设备有限公司自主研发推出CAF测试系统GM8800。系统集成±100V内置电源与3000V外置高压模块，采用三段式步进电压技术：0-100V区间0.01V微调、100-500V步进0.1V、500-3000V步进1V。电压精度达±0.05V（1-100VDC），结合100V/2ms超快上升速度，精细模拟电动汽车电控浪涌冲击。1MΩ保护电阻与1-600秒可编程稳定时间，有效消除容性负载误差。测试范围覆盖10⁴-10¹⁴Ω，其中10¹⁴Ω极限测量精度±10%，为SiC功率模块提供实验室级绝缘验证方案。湘潭CAF测试系统厂家供应