广东高精度均温加热盘定制

面向深紫外光刻工艺对晶圆预处理的需求，国瑞热控配套加热盘以微米级温控助力图形精度提升。采用铝合金基体与石英玻璃复合结构，加热面平面度误差小于 0.01mm，确保晶圆与光刻掩膜紧密贴合。通过红外加热与接触式导热协同技术，升温速率达 15℃/ 分钟，温度调节范围 60℃-120℃，控温精度 ±0.3℃，适配光刻胶软烘、坚膜等预处理环节。表面经防反射涂层处理，减少深紫外光反射干扰，且具备快速冷却功能，从 120℃降至室温*需 8 分钟，缩短工艺间隔。与上海微电子光刻机适配，使光刻图形线宽偏差控制在 5nm 以内，满足 90nm 至 28nm 制程的精密图形定义需求。表面特殊处理，耐腐蚀易清洁，适用化学食品领域。广东高精度均温加热盘定制

针对半导体晶圆研磨后的应力释放需求，国瑞热控**加热盘以温和温控助力晶圆性能稳定。采用铝合金基体与柔性导热垫层复合结构，导热垫层硬度 Shore A 30，可贴合研磨后晶圆表面微小凹凸，确保热量均匀传递。温度调节范围 30℃-150℃，控温精度 ±0.8℃，支持阶梯式升温（每阶段升温 5℃-10℃，保温 10-30 分钟），缓慢释放晶圆内部机械应力。配备氮气保护系统，避免加热过程中晶圆表面氧化，且加热盘表面粗糙度 Ra 小于 0.05μm，无颗粒划伤晶圆风险。与硅产业集团、中环股份等晶圆厂商合作，使研磨后晶圆翘曲度降低 20% 以上，提升后续光刻、刻蚀工艺的良率。连云港加热盘定制结构设计紧凑合理，安装维护简便快捷，有效提升设备使用效率。

国瑞热控半导体封装加热盘，聚焦芯片封装环节的加热需求，为键合、塑封等工艺提供稳定热源。采用铝合金与云母复合结构，兼具轻质特性与优良绝缘性能，加热面功率密度可根据封装规格调整，比较高达 2W/CM²。通过优化加热元件排布，使封装区域温度均匀性达 95% 以上，确保焊料均匀熔融与键合强度稳定。设备配备快速响应温控系统，从室温升至 250℃*需 8 分钟，且温度波动小于 ±2℃，适配不同封装材料的固化需求。表面采用防氧化处理，使用寿命超 30000 小时，搭配模块化设计，可根据封装生产线布局灵活组合，为半导体封装的高效量产提供支持。

国瑞热控半导体测试用加热盘，专为芯片性能测试环节的温度环境模拟设计，可精细复现芯片工作时的温度条件。设备温度调节范围覆盖 - 40℃至 150℃，支持快速升温和降温，速率分别达 25℃/ 分钟和 20℃/ 分钟，能模拟不同工况下的温度变化。加热盘表面采用柔性导热垫层，适配不同厚度的测试芯片，确保热量均匀传递至芯片表面，温度控制精度达 ±0.5℃。配备可编程温度控制系统，可预设多段温度曲线，满足长时间稳定性测试需求。设备运行时无电磁场干扰，避免对测试数据产生影响，同时具备过温、过流双重保护功能，为半导体芯片的性能验证与质量检测提供专业温度环境。细节处精心设计，接口布线密封优良，性能稳定持久。

国瑞热控清洗槽**加热盘以全密封结构设计适配高洁净需求，采用 316L 不锈钢经电解抛光处理，表面粗糙度 Ra 小于 0.05μm，无颗粒脱落风险。加热元件采用氟塑料密封封装，与清洗液完全隔离，耐受酸碱浓度达 90% 的腐蚀环境，电气强度达 2000V/1min。通过底部波浪形加热面设计，使槽内溶液形成自然对流，温度均匀性达 ±0.8℃，温度调节范围 25℃-120℃。配备防干烧与泄漏检测系统，与盛美上海等清洗设备厂商适配，符合半导体制造 Class 1 洁净标准，为晶圆清洗后的表面质量提供保障。精确稳定温度环境，提升产品良率，助力降本增效。静安区探针测试加热盘非标定制

精确稳定温度环境，提升产品质量一致性，是关键工艺保障。广东高精度均温加热盘定制

针对晶圆清洗后的烘干环节，国瑞热控**加热盘以洁净高效的特性适配严苛需求。产品采用高纯不锈钢基材，表面经电解抛光与钝化处理，粗糙度 Ra 小于 0.2μm，减少水分子附着与杂质残留。加热面采用蜂窝状导热结构，使热量均匀分布，晶圆表面温度差控制在 ±2℃以内，避免因局部过热导致的晶圆翘曲。温度调节范围覆盖 50℃至 150℃，支持阶梯式升温程序，适配不同清洗液的烘干需求。设备整体采用无死角结构设计，清洁时*需用高纯酒精擦拭即可，符合半导体制造的高洁净标准，为清洗后晶圆的干燥质量与后续工艺衔接提供保障。广东高精度均温加热盘定制

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