茂鑫是一家代理德国徕卡清洁度检测仪DM4M、孔隙率检测仪、3D扫描仪DVM6、影像测量仪等检测设备的公司,茂鑫实业将在展览会上展示其新的产品和技术,以满足客户的需求。1.斥力模式原子力显微镜(AFM)微悬臂是原子力显微镜(AFM)关键组成部分之一,通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖,用来检测样品-针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像,探针尖连续(接触模式)或间断(轻敲模式)与样品接触,并在样品表面上作光栅模式扫描。通过计算机控制针尖与样品位置的相对移动。当有电压作用在压电扫描器电极时,它会产生微量移动。根据压电扫描器的精确移动,就可以进行形貌成像和力测量。原子力显微镜(AFM)设计可以有所不同,扫描器即可以使微悬臂下的样品扫描,也可以使样品上的微悬臂扫描。原子力显微镜(AFM)压电扫描器通常能在(x,y,z)三个方向上移动,由于扫描设计尺寸和所选用压电陶瓷的不同,扫描器比较大扫描范围x、y轴方向可以在500nm~125μm之间变化,垂直z轴一般为几微米。好的扫描器能够在小于1尺度上产生稳定移动。通过在样品表面上扫描原子力显微镜(AFM)微悬臂。光学显微镜的种类很多,主要有明视野显微镜(普通光学显微镜)、暗视野显微镜、荧光显微镜。青岛显微镜公司
徕卡偏光显微镜是徕卡显微镜系列中的一种,偏光显微镜是一种在其光学系统中包含偏振器的显微镜,它能够显示和分析材料的各种光学性质,如折射率、双折射、吸收、散射等。徕卡品牌通常与高质量、高级别的光学设备相关联,因此徕卡偏光显微镜被认为是一种高精密的设备。DM2700P徕卡偏光显微镜是地球科学,塑料和聚合物行业,液晶检查以及更多领域中各种常规检查任务的理想检查工具。无论是产品设计工艺还是内在性能,总能为您带来意想不到的惊喜。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂,DM2700P徕卡偏光显微镜都能帮助您观察到感兴趣的内容,完成您的研究或质量控制任务。应用:地球科学:地质学、岩石学、矿物学、晶体结构表征、石棉分析和煤分析(镜质体反射率)。质量控制:玻璃(应力双折射或夹杂物)、塑料和聚合物(应力双折射)、纺织品和纤维、电子显示器和液晶检查。洛阳正向显微镜选上海显微镜,是您的选择,欢迎来茂鑫显微镜。
如果您想要研究晶体结构,徕卡偏光显微镜将是您的较好选择。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂,徕卡正置偏光显微镜DM750P都能帮助您观察到感兴趣的内容,完成您的研究或质量控制任务。徕卡偏光显微镜DM750P徕卡偏光显微镜的特点:1、无应力光学部件,因为您需要确保观测到的双折射来自样品而非光学部件;2、LED照明至关重要,因为这种照明能够均匀照亮样品,并具有恒定的色温;3、偏光镜帮助您看到双折射,旋转台帮助您对准样品和光轴;4、您还需要用于对光轴进行锥光观察的勃氏镜和用于测量任务的补偿器;5、LED可帮助您营造安静无干扰的工作环境,因为没有冷却风扇在周围产生噪。
测量振荡微悬臂的振幅或相位变化,也可以对样品表面进行成像。摩擦力显微镜摩擦力显微镜(LFM)是在原子力显微镜(AFM)表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来,而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。一般接触模式原子力显微镜(AFM)中,探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描(或样品在探针下扫描)。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器,由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值(A+B)-(C+D)得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定,也就是微悬臂形变量恒定,从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中,探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中,(A+C)-(B+D)这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减(增加摩擦力导致更大的扭转)。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。选显微镜厂家,有品牌保证,用的放心-茂鑫显微镜供应。
徕卡体视显微镜简要描述:M165C徕卡体视显微镜工作结果十分准确、可靠,轻松采集重要细节的图像,可提高生产线或品管部门效率、优化光学检查,符合人体工学的显微镜工作空间,让您舒适工作。徕卡体现显微镜的热补偿焦距稳定技术,即双金属片反向膨胀抵消技术,抵消机体由于长时间热效应带来的调焦面移动。M165C徕卡体视显微镜特点:1、10倍目镜加1倍物镜下的标准放大倍数;2、可连续变倍,也可分级变倍,可实现在两档固定倍数间快速切换观察,变倍观察时齐焦性良好;3、内置可调的带编码双光阑,调节图像的景深和对比度;4、可配电动调焦支架,可连接数码相机、摄像头;5、具有多个不同倍数的物镜可选,组合出多种放大倍数;6、可手动转换荧光滤块,带编码信息输出。第二个是荷兰亚麻织品商人列文虎克(1632年-1723年),他自己学会了磨制透镜。杭州金相显微镜
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▽电子衍射光路示意图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]▽单晶氧化锌电子衍射图▽无定形氮化硅电子衍射图▽锆镍铜合金电子衍射图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]6设备厂家世界上能生产透射电镜的厂家不多,主要是欧美日的大型电子公司,比如德国的蔡司(Zeiss),美国的FEI公司,日本的日立(Hitachi)等。7疑难解答lTEM和SEM的区别:当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息,透射电镜收集透射电子的信息。SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来,从而转化为可观察的表面;TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,一般为10到100纳米内,甚至更薄。l简要说明多晶(纳米晶体),单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理:单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网格的格点上。青岛显微镜公司