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光电测试系统基本参数
  • 品牌
  • MIKORN,IMPAC,INFRAMET
  • 型号
  • LAFT;DT;SIM,热成像光电测试系统
  • 产地
  • 上海
光电测试系统企业商机

OPO测试系统为计算机化的系统,用于对被测望远瞄准系统生成的参考图像进行分析。OPO测试系统由以下模块组成:TG-OP目标发生器,CTG控制器,一组靶标,一组圆孔,CPO10100投射式平行光管,MP-A机械平台,MP-B机械平台,MP-C平台,DPM66屈光度计,计算机,图像采集卡,一组孔径调节器以及TOPO测试软件。

产品参数如下

表1被测光学系统范围

参数:数值

入射口径范围:10-60mm

出射口径范围:2-60mm

放大率范围:-30x

表2测试调节范围

参数:数值

模拟距离50m,100m,200m,250m,300m,400m,600m,∞

离轴角范围:0°-30°


精确参数,光电测试领航机器人技术发展。进口光电测试系统性价比高

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JT400轴对准测试系统外观图Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试,也支持轴对准测试。然而,MS系列测试系统是相对昂贵的测试系统。JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统,用于**的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。

测试功能:1.不同视场的热像仪的轴对准;2.不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准;3.可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准;4.激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准;5.激光测距机与热像仪之间的轴对准;6.激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准;7.可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度;8.热像仪的分辨率;9.激光测距机的发散角;10.参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。 山东光电测试系统报价光电测试,助力影视制作,精确控制灯光效果。

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TFEV测温仪测试系统用于检测发热筛查用测温仪。TFEV测试的概念是基于IEC80601-2-59标准中规定的“人体发热筛检测温仪的基本安全性和基本性能的特殊要求”。TFEV是一个模块化系统,可以工作在两种模式:A)手动可调节尺寸的高精度黑体B)电动图像投影系统,能够投射一些参考目标的图像,其温度和大小可变。黑体是模拟人体的不同部位(通常是眼内角或前额),用于测试热敏相机。黑体通常置于被测人体所在平面位置,和测温仪的外部黑体(被测系统的一部分)在实际工作中应该也在该平面上。TFEV是由一系列模块组成的模块化系统:2.黑体适配装置4.MRW-8电动靶轮6.靶轮用一组6个四杆靶标(MRTD测量)8.笔记本电脑10.MB1机械件12.TCB控制程序TYFEV的重点是TCB-4D黑体。它是超高精度面源黑体,可以非常准确地模拟人体的相同发射率。

这些黑体的设计基于针对THz范围优化的特殊浇注材料吸收体涂层,大面积均匀发射面板和控制电子元件。MAB黑体具有不同发射器面积,不同温度范围的一系列版本,并针对不同的光谱带进行了优化。MAB黑体的特征在于具有良好的温度分辨率、温度稳定性、温度均匀性、温度不确定性和高发射率。所有这些功能使得MAB黑体被用作测试/校准太赫兹/亚太赫兹成像仪或其他这种辐射仪系统中的参考源的理想选择。

MAB黑体有一系列的版本。有三个重点参数指标:黑体发射面的大小、光谱带和温度范围。发射面尺寸由黑体代码表示:MAB-XD其中X是发射器的平方近似尺寸,单位为英寸。

通常提供以下型号:MAB-6D,MAB-12D,MAB-16D,MAB-2OD,MAB-24,MAB-50。可以看出,MAB黑体提供大至1000x1000mm的发射器(型号MAB-50D)。MAB黑体可针对不同的光谱范围进行优化:A-从0.1mm到1mm(0.3-3THz);B-从0.5mm到4mm(75GHz-1.5THz);C-从2mm到10mm(30GHz-150GHz);D-从0.5mm到10mm(30GHz-1.5THz);E-从0.5mm到30mm(10GHz-1.5THz);ka-从7.5mm到1.1mm(26.5-40GHz)。 IR FPA 传感器 焦平面阵列传感器,为智能穿戴设备提供精细传感器测试。

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一系列不同的辐射源可以用在投影系统中(光谱范围扩展到SWIR的光源或者MTB黑体)以及一系列SWIR用于投影系统中的靶标也可用于测量。测量成像整机系统轴校准:电控的测试系统生成由被测试热像仪及相机生成的图像并计算两者之间的角度:a)热像仪在不同视场下的光轴;b)相机在不同镜头放大率下的光轴;c)热像仪与相机之间的光轴。激光系统轴对准:计算机控制的测量系统分析激光系统在激光敏感卡上生成的图像并计算光轴间的夹角:激光光轴(激光测距仪,激光指示器,激光照射器等)相对于成像系统光轴。注意:MS系统可以进行激光测距仪发射光轴的校准。这里假定激光测距仪发射光轴与接收已经调整好。这里可选测量激光测距仪的光轴对MS系统轴的能力。测量SWIR相机:SIWR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量SIWR相机。它包括CDT反射式平行光管,SWIR光源,和一组SWIR靶标;测量不同图像格式的热像仪:当采用模拟视频采集卡并且测量分辨率小于等于756×576的25Hz的视频图像时;也可以选择数字图像采集卡(CameraLink,或GigE,或LVDS,USB2.0)作为测量高分辨率高帧频的数字输出传感器。光电技术,为智能交通系统提供可靠信号检测。山东光电测试系统报价

JT400多传感器轴对准测试系统,保障电子元件性能稳定。进口光电测试系统性价比高

TAIM热瞄准镜和热像仪夹测试系统是DT系统的一个特殊版本,为测试典型的热瞄准镜或热像仪夹而优化,可以快速、多功能和准确地测试。TAIM由DT120测试系统(用作图像投影模块和图像分析模块),附加一组模块:用于瞄准具测试的Picatinny导轨,两个HEC相机用于捕捉图像,AHEC适配环固定HEC相机的位置,YNAS10平台可以调整相机与被测样品之间的夹角,DPM屈光度量度计,AT720光学平台,可选配其他分析软件和HEC相机和可选DICAN距离调整装置。进口光电测试系统性价比高

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