检测设备相关图片
  • 质子交换膜膜厚测量,检测设备
  • 质子交换膜膜厚测量,检测设备
  • 质子交换膜膜厚测量,检测设备
检测设备基本参数
  • 品牌
  • 马波斯
  • 型号
  • EDC
  • 电源电压
  • 220
  • 外形尺寸
  • WxHxD: 525*710*310
  • 重量
  • 60kg
  • 是否进口
检测设备企业商机

对于光学测量不到的特征,G25是一个完美的互补。这些测量特征通常包括:•键槽深度,角度,对称度•孔•平面的形位特征•轴向跳动。接触式轴向测头通过智能集成的轴向接触式测头,可进一步拓展Optoquick的功能。这使得Optoquick能够实现以下附加功能:•小公差的轴向跳动度•用户定义半径处的轴向长度•穿过工件轴线的测量•光学测量不到的区域。通过将光学与接触式技术,以及完整的马波斯设计结合起来,Optoquick可提供高于行业标准的扩展测量功能。通过此独特的技术集成,Optoquick可快速测量规定半径处的轴向单跳动和全跳动。本质上NVH检测的原理是通过施加与实际工况相似(甚至更高)的转速和扭矩值来对齿轮进行检测。质子交换膜膜厚测量

检测设备

在量产阶段,马波斯可以为量产阶段提供动力电池的泄漏检测的自动化方案。对于马波斯而言,提供丰富的泄漏检测解决方案,同时保证在锂离子电池量产线各个工位检查锂离子电池的密封性是重要的。从特征的角度来看,马波斯不仅能够提供电池壳氦气示踪检测方案,也能够提供电解液充入前和充入后的氦气示踪检测方案。另外,马波斯也能够在压氦发泄漏检测和电解液示踪泄漏方面提供良好的检测方案。这也是马波斯能够帮助量产阶段提供的动力电池泄漏检测。吉林变速器检测设备方法局部放电测试功能由E.D.C.集成在一套完整的产品系列中,单一设备可集成所有不同的电性能和功能测试选项。

质子交换膜膜厚测量,检测设备

对于半导体行业来说,圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节,检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量,马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中,可在Z轴上准确聚焦。因此,这是检测圆晶缺陷的理想选择,例如,圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验,可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm*0.4μm,大倾斜角为+/-45°,0.75数值孔径。

Optoflash可以测量超高分辨率精度的型号用于超小尺寸的工件。OptoflashXS提供了超高级别的分辨精度密度,所以更适合小工件和小公差带。因此,OptoflashXS具有超高精度的图像分辨率。另外,Optoflash外观设计紧凑为生产车间现场而设计,也可用于实验室环境。将光学处理系统和软件系统集成在一体机内。除此之外,Optoflash具有超快的测量速度操作人员只需要把工件放在测量平台上,然后按“开始START”按钮,两秒后即可完成工件测量。泄漏测试是电池pack装配过程中的要求用于检查电池pack气密性,保证电池pack内部的高压零部件不会出现短路。

质子交换膜膜厚测量,检测设备

MARPOSS嗅探氦气泄漏测试方案能够测量10-2-10-4SCC/sec的泄漏。该技术在此漏率范围内取得了非常好的测试结果,并且方案简单可靠。通过空气泄漏测试方法(压降法或质量流量法)检查组装好的冷却回路。从优势的角度来看,嗅探氦气泄漏测试方案检测泄漏精度高达10-4SCC/sec,该方法不受待测产品和环境温度影响适用于大体积和外壳会变形的产品的测试识别泄漏位置,使用多个机器人嗅探以优化测试节拍按照客户的规格要求定制方案或通用化解决方案结构坚固部件易于获得,易于进行保养。Hetech Marposs系统都具备很多优势,首先是有两个泵送系统,一个真空泵送系统和一个分析泵送系统。线上和线下测量解决方案

泄漏标准件和LTC检漏机控制是定期检查和校准测试系统必不可少的设备。质子交换膜膜厚测量

马波斯除了可以在线测量锂离子电池的电极极片,还能够进行方形电芯的电气检测。马波斯在电芯测量方面,能够提供EOL(电芯生产)或BOL(模组组装)阶段智能方形电芯检测台以供测量。智能方形电芯检测台的检测范围很多,可以包括外形尺寸测量、电性能和绝缘性能检测以及电解液泄漏示踪检测。从特征的角度来看,一方面,马波斯智能方形电芯检测台可以适应不同类型方形电芯的检测要求,同时,测量过程中可以提供手动和自动上料解决方案。与此同时,设备的电性能检测范围广,可分容。质子交换膜膜厚测量

与检测设备相关的**
信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责