刻蚀是按照掩模图形或设计要求对半导体衬底表面或表面覆盖薄膜进行选择性刻蚀的技术，它是半导体制造工艺，微电子IC制造工艺以及微纳制造工艺中的一种相当重要的步骤。是与光刻相联系的图形化处理的一种主要工艺。刻蚀分为干法刻蚀和湿法腐蚀。原位芯片目前掌握多种刻蚀工艺，并会根据客户的需求，设计刻蚀效果好且性价比高的刻蚀解决方案。刻蚀技术主要应用于半导体器件，集成电路制造，薄膜电路，印刷电路和其他微细图形的加工等。广东省科学院半导体研究所。干法刻蚀是一种使用气体或蒸汽来刻蚀材料的方法，通常用于制造微电子器件。深圳福田离子刻蚀
温度越高刻蚀效率就越高，但是温度过高工艺方面波动就越大，只要通过设备自带温控器和点检确认。刻蚀流片的速度与刻蚀速率密切相关喷淋流量的大小决定了基板表面药液置换速度的快慢，流量控制可保证基板表面药液浓度均匀。过刻量即测蚀量，适当增加测试量可有效控制刻蚀中的点状不良作业数量管控：每天对生产数量及时记录，达到规定作业片数及时更换。作业时间管控：由于药液的挥发，所以如果在规定更换时间未达到相应的生产片数药液也需更换。首片和抽检管控：作业时需先进行首片确认，且在作业过程中每批次进行抽检（时间间隔约25min）。1、大面积刻蚀不干净：刻蚀液浓度下降、刻蚀温度变化。2、刻蚀不均匀：喷淋流量异常、药液未及时冲洗干净等。3、过刻蚀：刻蚀速度异常、刻蚀温度异常等。广州花都刻蚀加工厂刻蚀技术可以实现对材料的微纳加工，从而制造出具有特定性能的材料。
材料刻蚀是一种常见的加工方法，可以用于制造微电子器件、光学元件、MEMS器件等。材料刻蚀的影响因素包括以下几个方面：1.刻蚀剂：刻蚀剂是影响刻蚀过程的关键因素之一。不同的刻蚀剂对不同的材料具有不同的刻蚀速率和选择性。例如，氧化铝可以使用氢氟酸作为刻蚀剂，而硅可以使用氢氧化钾或氢氟酸等作为刻蚀剂。2.温度：刻蚀过程中的温度也会影响刻蚀速率和选择性。通常情况下，刻蚀剂的刻蚀速率会随着温度的升高而增加。但是，过高的温度可能会导致刻蚀剂的挥发和材料的热膨胀，从而影响刻蚀的质量和精度。3.浓度：刻蚀剂的浓度也会影响刻蚀速率和选择性。一般来说，刻蚀剂的浓度越高，刻蚀速率越快。但是，过高的浓度可能会导致刻蚀剂的饱和和材料的过度刻蚀。4.气压：刻蚀过程中的气压也会影响刻蚀速率和选择性。通常情况下，气压越低，刻蚀速率越慢。但是，过低的气压可能会导致刻蚀剂的挥发和材料的表面粗糙度增加。5.时间：刻蚀时间是影响刻蚀深度和刻蚀质量的重要因素。刻蚀时间过长可能会导致材料的过度刻蚀和表面粗糙度增加。
在半导体制造中有两种基本的刻蚀工艺：干法刻蚀和湿法腐蚀。干法刻蚀是把硅片表面曝露于气态中产生的等离子体，等离子体通过光刻胶中开出的窗口，在与硅片发生物理或化学反应（或这两种反应），从而去掉曝露的表面材料。干法刻蚀是亚微米尺寸下刻蚀器件的较重要方法。而在湿法腐蚀中，液体化学试剂（如酸、碱和溶剂等）以化学方式去除硅片表面的材料。湿法腐蚀一般只是用在尺寸较大的情况下（大于3微米）。湿法腐蚀仍然用来腐蚀硅片上某些层或用来去除干法刻蚀后的残留物。湿法刻蚀特点是：湿法刻蚀在半导体工艺中有着普遍应用：磨片、抛光、清洗、腐蚀。材料刻蚀技术可以用于制造光学元件，如反射镜和衍射光栅等。
双等离子体源刻蚀机加装有两个射频（RF）功率源，能够更精确地控制离子密度与离子能量。位于上部的射频功率源通过电感线圈将能量传递给等离子体从而增加离子密度，但是离子浓度增加的同时离子能量也随之增加。下部加装的偏置射频电源通过电容结构能够降低轰击在硅表面离子的能量而不影响离子浓度，从而能够更好地控制刻蚀速率与选择比。原子层刻蚀（ALE）为下一代刻蚀工艺技术，能够精确去除材料而不影响其他部分。随着结构尺寸的不断缩小，反应离子刻蚀面临刻蚀速率差异与下层材料损伤等问题。原子层刻蚀（ALE）能够精密控制被去除材料量而不影响其他部分，可以用于定向刻蚀或生成光滑表面，这是刻蚀技术研究的热点之一。目前原子层刻蚀在芯片制造领域并没有取代传统的等离子刻蚀工艺，而是被用于原子级目标材料精密去除过程。刻蚀技术可以用于制造微型结构，如微机械系统和微流控芯片等。福建Si材料刻蚀
物理刻蚀是利用物理过程来剥离材料表面的方法，适用于硬质材料。深圳福田离子刻蚀
干刻蚀是一类较新型，但迅速为半导体工业所采用的技术，GaN材料刻蚀工艺。其利用电浆来进行半导体薄膜材料的刻蚀加工。其中电浆必须在真空度约10至0.001Torr的环境下，才有可能被激发出来；而干刻蚀采用的气体，或轰击质量颇巨，或化学活性极高，均能达成刻蚀的目的，GaN材料刻蚀工艺。干刻蚀基本上包括离子轰击与化学反应两部份刻蚀机制。偏「离子轰击」效应者使用氩气(argon)，加工出来之边缘侧向侵蚀现象极微。而偏化学反应效应者则采氟系或氯系气体(如四氟化碳CF4)，经激发出来的电浆，即带有氟或氯之离子团，可快速与芯片表面材质反应。删轿厚干刻蚀法可直接利用光阻作刻蚀之阻绝遮幕，不必另行成长阻绝遮幕之半导体材料。而其较重要的优点，能兼顾边缘侧向侵蚀现象极微与高刻蚀率两种优点，换言之，本技术中所谓活性离子刻蚀已足敷页堡局渗次微米线宽制程技术的要求，而正被大量使用。深圳福田离子刻蚀
