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数字信号的时域和频域

数字信号的频率分量可以通过从时域到频域的转换中得到。首先我们要知道时域是真实世界，频域是更好的用于做信号分析的一种数学手段，时域的数字信号可以通过傅里叶变换转变为一个个频率点的正弦波的。这些正弦波就是对应的数字信号的频率分量。假如定义理想方波的边沿时间为0,占空比50%的周期信号，其在傅里叶变换后各频率分量振幅。

可见对于理想方波，其振幅频谱对应的正弦波频率是基频的奇数倍频(在50%的占空比下)。奇次谐波的幅度是按1"下降的(/是频率)，也就是-20dB/dec(-20分贝每十倍频)。 数字信号带宽、信道带宽、信息速率、基带、频带的带宽；设备数字信号测试USB测试

理想的跳变位置。抖动是个相对的时间量，怎么确定信号的理想的跳变位置对于 抖动的测量结果有很关键的影响。对于时钟信号的测量，我们通常关心的是时钟信号是否 精确地等间隔，因此这个理想位置通常是从被测信号中提取的一个等周期分布时钟的跳变 沿；而对于数据信号的测量，我们关心的是这个信号相对于其时钟的位置跳变，因此这个理 想跳变位置就是其时钟有效沿的跳变位置。对于很多采用嵌入式时钟的高速数字电路来 说，由于没有专门的时钟传输通道，情况要更复杂一些，这时的理想跳变位置通常是指用一 个特定的时钟恢复电路(可能是硬件的也可能是软件的)从数据中恢复出的时钟的有效跳 变沿。PCI-E测试数字信号测试价格多少数字信号处理系统的性能取决于3个因素：采样频率、架构、字长。

很多经典的处理器采用了并行的总线架构。比如大家熟知的51单片机就采用了8根并行数据线和16根地址线；CPU的鼻祖——Intel公司的8086微处理器——**初推出时具有16根并行数据线和16根地址线；

现在很多嵌入式系统中多使用的ARM处理器则大部分使用32根数据线以及若干根地址线。并行总线的比较大好处是总线的逻辑时序比较简单，电路实现起来比较容易；但是缺点也是非常明显的，比如并行总线的信号线数量非常多，会占用大量的引脚和布线空间，因此芯片和PCB的尺寸很难实现小型化，特别是如果要用电缆进行远距离传输时，由于信号线的数量非常多，使得电缆变得非常昂贵和笨重。

我们经常使用到的总线根据数据传输方式的不同，可以分为并行总线和串行总线。

并行总线是数字电路中早也是普遍采用的总线结构。在这种总线上，数据线、地址线、控制线等都是并行传输，比如要传输8位的数据宽度，就需要8根数据信号线同时传输；如果要传输32位的数据宽度，就需要32根数据信号线同时传输。除了数据线以外，如果要寻址比较大的地址空间，还需要很多根地址线的组合来不同的地址空间。图1.7是一个典型的微处理器的并行总线的工作时序，其中包含了1根时钟线、16根数据线、16根地址线以及一些读写控制信号。 数字总线采用的时钟 分配方式大体上可以分为3类，即并行时钟、嵌入式时钟、前向时钟，各有各的应用领域。

为了提高信号在高速率、长距离情况下传输的可靠性，大部分高速的数字串行总线都会采用差分信号进行信号传输。差分信号是用一对反相的差分线进行信号传输，发送端采用差分的发送器，接收端相应采用差分的接收器。图1.13是一个差分线的传输模型及真实的差分PCB走线。

采用差分传输方式后，由于差分线对中正负信号的走线是紧密耦合在一起的，所以外界噪声对于两根信号线的影响是一样的。而在接收端，由于其接收器是把正负信号相减的结果作为逻辑判决的依据，因此即使信号线上有严重的共模噪声或者地电平的波动，对于的逻辑电平判决影响很小。相对于单端传输方式，差分传输方式的抗干扰、抗共模噪声能力 提高。 数字信号电平范围象征的逻辑状态；设备数字信号测试USB测试

数字信号取值是散的，通过数学方法对原有信号处理，编码成二进制信号后，再载波的方式发送编码后的数字流。设备数字信号测试USB测试

需要注意的是，采用8b/10b编码方式也是有缺点的，比较大的缺点就是8bit到10bit的编码会造成额外的20%的编码开销，所以很多10Gbps左右或更高速率的总线不再使用8b/10b编码方式。比如PCIe1.0和PCIe2.0的总线速率分别为2.5Gbps和5Gbps,都是采用8b/10b编码，而PCle3.0、PCle4.0、PCle5.0的总线速率分别达到8Gbps、16Gbps和32Gbps,并通过效率更高的128b/130b的编码结合扰码的方法来实现直流平衡和嵌入式时钟。另一个例子是FibreChannel总线，1xFC、2xFC、4xFC、8xFC的数据速率分别为1.0625Gbps、2 . 125Gbps,4 . 25Gbps 、8 . 5Gbps,都是采用8b/10b编码，而16xFC 、32xFC 的数据速率分别  为14.025Gbps和28.05Gbps,采用的是效率更高的64b/66b编码方式。64b/66b编码在 10G和100G以太网中也有广泛应用。设备数字信号测试USB测试