针对半导体载板制造中的温控需求,国瑞热控**加热盘以高稳定性适配载板钻孔、电镀等工艺。采用不锈钢基材经硬化处理,表面硬度达 HRC50 以上,耐受载板加工过程中的机械冲击无变形。加热元件采用蛇形分布设计,加热面温度均匀性达 ±1℃,温度调节范围 40℃-180℃,适配载板预加热、树脂固化等环节。配备真空吸附系统,可牢固固定不同尺寸载板(5...
查看详细 >>借鉴空间站 “双波长激光加热” 原理,国瑞热控开发半导体激光加热盘,适配极端高温材料制备。采用氮化铝陶瓷基体嵌入激光吸收层,表面可承受 3000℃以上局部高温,配合半导体激光与二氧化碳激光协同加热,实现 “表面强攻 + 内部渗透” 的加热效果。加热区域直径可在 10mm-200mm 间调节,温度响应时间小于 1 秒,控温精度 ±1℃,支持...
查看详细 >>国瑞热控针对离子注入后杂质***工艺,开发**加热盘适配快速热退火需求。采用氮化铝陶瓷基材,热导率达 200W/mK,热惯性小,升温速率达 60℃/ 秒,可在几秒内将晶圆加热至 1000℃,且降温速率达 40℃/ 秒,减少热预算对晶圆的影响。加热面采用激光打孔工艺制作微小散热孔,配合背面惰性气体冷却,实现晶圆正反面温度均匀(温差小于 2℃...
查看详细 >>面向柔性半导体基板(如聚酰亚胺基板)加工需求,国瑞热控**加热盘以柔性贴合设计适配弯曲基板。采用薄型不锈钢加热片(厚度 0.2mm)与硅胶导热层复合结构,可随柔性基板弯曲(弯曲半径**小 5mm)而无结构损坏,加热面温度均匀性达 ±1.5℃,温度调节范围 50℃-250℃,适配柔性基板镀膜、光刻胶烘烤等工艺。配备真空吸附槽道,可牢固固定柔...
查看详细 >>国瑞热控 8 英寸半导体加热盘聚焦成熟制程需求,以高性价比与稳定性能成为中低端芯片制造的推荐。采用铝合金基体经阳极氧化处理,表面平整度误差小于 0.03mm,加热面温度均匀性控制在 ±2℃以内,满足 65nm 至 90nm 制程的温度要求。内部采用螺旋状镍铬加热丝,热效率达 85% 以上,升温速率 15℃/ 分钟,工作温度上限 450℃,...
查看详细 >>针对晶圆清洗后的烘干环节,国瑞热控**加热盘以洁净高效的特性适配严苛需求。产品采用高纯不锈钢基材,表面经电解抛光与钝化处理,粗糙度 Ra 小于 0.2μm,减少水分子附着与杂质残留。加热面采用蜂窝状导热结构,使热量均匀分布,晶圆表面温度差控制在 ±2℃以内,避免因局部过热导致的晶圆翘曲。温度调节范围覆盖 50℃至 150℃,支持阶梯式升温...
查看详细 >>针对碳化硅衬底生长的高温需求,国瑞热控**加热盘采用多加热器分区布局技术,**温度梯度可控性差的行业难题。加热盘主体选用耐高温石墨基材,表面喷涂碳化硅涂层,在 2200℃高温下仍保持结构稳定,热导率达 180W/mK,适配 PVT 法、TSSG 法等主流生长工艺。内部划分 12 个**温控区域,每个区域控温精度达 ±2℃,通过精细调节温度...
查看详细 >>国瑞热控光刻胶烘烤加热盘以微米级温控精度支撑光刻工艺,采用铝合金基体与陶瓷覆层复合结构,表面粗糙度 Ra 小于 0.1μm,减少光刻胶涂布缺陷。加热面划分 6 个**温控区域,通过仿真优化的加热元件布局,使温度均匀性达 ±0.5℃,避免烘烤过程中因温度差异导致的光刻胶膜厚不均。温度调节范围覆盖 60℃至 150℃,升温速率 10℃/ 分钟...
查看详细 >>借鉴空间站 “双波长激光加热” 原理,国瑞热控开发半导体激光加热盘,适配极端高温材料制备。采用氮化铝陶瓷基体嵌入激光吸收层,表面可承受 3000℃以上局部高温,配合半导体激光与二氧化碳激光协同加热,实现 “表面强攻 + 内部渗透” 的加热效果。加热区域直径可在 10mm-200mm 间调节,温度响应时间小于 1 秒,控温精度 ±1℃,支持...
查看详细 >>面向半导体新材料研发场景,国瑞热控高温加热盘以宽温域与高稳定性成为科研工具。采用石墨与碳化硅复合基材,工作温度范围覆盖 500℃-2000℃,可通过程序设定实现阶梯式升温,升温速率调节范围 0.1-10℃/ 分钟。加热面配备 24 组测温点,实时监测温度分布,数据采样频率达 10Hz,支持与实验室数据系统对接。设备体积紧凑(直径 30cm...
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