国瑞热控封装测试**加热盘聚焦半导体后道工艺需求，采用轻量化铝合金材质，通过精密加工确保加热面平整度误差小于 0.05mm，适配不同尺寸封装器件的测试需求。加热元件采用片状分布设计，热响应速度快，可在 5 分钟内将测试温度稳定在 - 40℃至 150℃之间，满足高低温循环测试、老化测试等场景要求。表面采用防粘涂层处理，减少测试过程中污染物...

  针对晶圆清洗后的烘干环节，国瑞热控**加热盘以洁净高效的特性适配严苛需求。产品采用高纯不锈钢基材，表面经电解抛光与钝化处理，粗糙度 Ra 小于 0.2μm，减少水分子附着与杂质残留。加热面采用蜂窝状导热结构，使热量均匀分布，晶圆表面温度差控制在 ±2℃以内，避免因局部过热导致的晶圆翘曲。温度调节范围覆盖 50℃至 150℃，支持阶梯式升温...

  针对碳化硅衬底生长的高温需求，国瑞热控**加热盘采用多加热器分区布局技术，**温度梯度可控性差的行业难题。加热盘主体选用耐高温石墨基材，表面喷涂碳化硅涂层，在 2200℃高温下仍保持结构稳定，热导率达 180W/mK，适配 PVT 法、TSSG 法等主流生长工艺。内部划分 12 个**温控区域，每个区域控温精度达 ±2℃，通过精细调节温度...

  国瑞热控推出半导体加热盘专项维修服务，针对加热元件老化、温度均匀性下降等常见问题提供系统解决方案。服务流程涵盖外观检测、绝缘性能测试、温度场扫描等 12 项检测项目，精细定位故障点。采用原厂匹配的氮化铝陶瓷基材与加热元件，维修后的加热盘温度均匀性恢复至 ±1℃以内，使用寿命延长至新设备的 80% 以上。配备专业维修团队，可提供上门服务与设...

  国瑞热控氮化铝陶瓷加热盘以 99.5% 高纯氮化铝为基材，通过干压成型与 1800℃高温烧结工艺制成，完美适配半导体高温工艺需求。其热导率可达 220W/mK，热膨胀系数* 4.03×10⁻⁶/℃，与硅晶圆热特性高度匹配，有效避免高温下因热应力导致的晶圆翘曲。内部嵌入钨制加热元件，经共烧工艺实现紧密结合，加热面温度均匀性控制在 ±1℃以内...

  国瑞热控 8 英寸半导体加热盘聚焦成熟制程需求，以高性价比与稳定性能成为中低端芯片制造的推荐。采用铝合金基体经阳极氧化处理，表面平整度误差小于 0.03mm，加热面温度均匀性控制在 ±2℃以内，满足 65nm 至 90nm 制程的温度要求。内部采用螺旋状镍铬加热丝，热效率达 85% 以上，升温速率 15℃/ 分钟，工作温度上限 450℃，...

  国瑞热控清洗槽**加热盘以全密封结构设计适配高洁净需求，采用 316L 不锈钢经电解抛光处理，表面粗糙度 Ra 小于 0.05μm，无颗粒脱落风险。加热元件采用氟塑料密封封装，与清洗液完全隔离，耐受酸碱浓度达 90% 的腐蚀环境，电气强度达 2000V/1min。通过底部波浪形加热面设计，使槽内溶液形成自然对流，温度均匀性达 ±0.8℃，...

  针对原子层沉积工艺对温度的严苛要求，国瑞热控 ALD **加热盘采用多分区温控设计，通过仿真优化加热丝布局，确保表面温度分布均匀性符合精密制程标准。设备温度调节范围覆盖室温至 600℃，升温速率可达 25℃/ 分钟，搭配铂电阻传感器实现 ±0.1℃的控温精度，满足 ALD 工艺中前驱体吸附与反应的温度窗口需求。采用氮化铝陶瓷基底与密封结构...

  国瑞热控半导体测试用加热盘，专为芯片性能测试环节的温度环境模拟设计，可精细复现芯片工作时的温度条件。设备温度调节范围覆盖 - 40℃至 150℃，支持快速升温和降温，速率分别达 25℃/ 分钟和 20℃/ 分钟，能模拟不同工况下的温度变化。加热盘表面采用柔性导热垫层，适配不同厚度的测试芯片，确保热量均匀传递至芯片表面，温度控制精度达 ±0...

  国瑞热控快速退火**加热盘以高频响应特性适配 RTP 工艺需求，采用红外辐射与电阻加热复合技术，升温速率突破 50℃/ 秒，可在数秒内将晶圆加热至 1000℃以上。加热盘选用低热惯性的氮化铝陶瓷材质，搭配多组**温控模块，通过 PID 闭环控制实现温度快速调节，降温速率达 30℃/ 秒，有效减少热预算对晶圆性能的影响。表面喷涂抗热震涂层，...