在晶圆键合技术的设备适配性研究中,科研团队分析现有中试设备对不同键合工艺的兼容能力,提出设备改造的合理化建议。针对部分设备在温度均匀性、压力控制精度上的不足,团队与设备研发部门合作,开发了相应的辅助装...
科研团队在电子束曝光的抗蚀剂选择与处理工艺上进行了细致研究。不同抗蚀剂对电子束的灵敏度与分辨率存在差异,团队针对第三代半导体材料的刻蚀需求,测试了多种正性与负性抗蚀剂的性能,筛选出适合氮化物刻蚀的抗蚀...
晶圆键合赋能红外成像主要组件升级。锗硅异质界面光学匹配层实现3-14μm宽波段增透,透过率突破理论极限达99%。真空密封腔体抑制热噪声,噪声等效温差压至30mK。在边境安防系统应用中,夜间识别距离提升...
晶圆键合实现高功率激光热管理。金刚石-碳化钨键合界面热导达2000W/mK,万瓦级光纤激光器热流密度承载突破1.2kW/cm²。锐科激光器实测:波长漂移<0.01nm,寿命延长至5万小时。微通道液冷模...
电子束曝光实现智慧农业传感器可持续制造。基于聚乳酸的可降解电路板通过仿生叶脉布线优化结构强度,6个月自然降解率达98%。多孔微腔湿度传感单元实现±0.5%RH精度,土壤氮磷钾浓度检测限达0.1ppm。...
研究所利用多平台协同优势,研究电子束曝光图形在后续工艺中的转移完整性。电子束曝光形成的抗蚀剂图形需要通过刻蚀工艺转移到半导体材料中,团队将曝光系统与电感耦合等离子体刻蚀设备结合,研究不同刻蚀气体比例对...
围绕电子束曝光的套刻精度控制,科研团队开展了系统研究。在多层结构器件的制备中,各层图形的对准精度直接影响器件性能,团队通过改进晶圆定位系统与标记识别算法,将套刻误差控制在较小范围内。依托材料外延平台的...
研究所将电子束曝光技术应用于 IGZO 薄膜晶体管的沟道图形制备中,探索其在新型显示器件领域的应用潜力。IGZO 材料对曝光过程中的电子束损伤较为敏感,科研团队通过控制曝光剂量与扫描方式,减少电子束与...
电子束曝光在量子计算领域实现离子阱精密制造突破。氧化铝基板表面形成共面波导微波馈电网络,微波场操控精度达μK量级。三明治电极结构配合双光子聚合抗蚀剂,使三维势阱定位误差<10nm。在40Ca⁺离子操控...
电子束曝光推动全息存储技术突破物理极限,通过在光敏材料表面构建三维体相位光栅实现信息编码。特殊设计的纳米级像素单元可同时记录振幅与相位信息,支持多层次数据叠加。自修复型抗蚀剂保障存储单元10年稳定性,...
研究所利用其作为中国有色金属学会宽禁带半导体专业委员会倚靠单位的优势,组织行业内行家围绕晶圆键合技术开展交流研讨。通过举办技术论坛与专题研讨会,分享研究成果与应用经验,探讨技术发展中的共性问题与解决思...
电子束曝光推动全息存储技术突破物理极限,通过在光敏材料表面构建三维体相位光栅实现信息编码。特殊设计的纳米级像素单元可同时记录振幅与相位信息,支持多层次数据叠加。自修复型抗蚀剂保障存储单元10年稳定性,...