黑体开始发展的是高温黑体，早在20世纪50年代，由于光学高温计的应用，当时的苏联和英国已经研制出了黑体炉，最高工作温度可以达到2500℃。20世纪60年代，日本生产出卧式黑体炉，最高工作温度为2200℃;同年代，我国也研制出卧式黑体炉，工作温度为900~3200℃。
在20世纪60年代，中温黑体就有人开始研究，因为当时的技术条件限制，对黑体技术(如黑体腔、等温黑体腔、黑体发射率等)认识不足，甚至将热电偶检定炉的中间放置一个靶子就看作是黑体。
自从美国在越南******使用红外技术，成功地侦察到密林中的胡志明小道后(注:当时胡志明小道是运输线)，拉开了红外技术在***上应用的序幕。随后，各国都开展了红外侦察、红外伪装、红外制导、红外诱饵、空中防卫等技术的研究工作，这就促进了对黑体技术的研究，尤其是对中低温黑体的研究。因此国外在20世纪80年代就已经有低温黑体，我国对低温黑体的研究，是从20世纪90开始。 筒体扫描仪、黑体炉、比色温度计、辐射温度计在国内外已经得到***的应用。上海黑体炉公式
我国南北环境温差大，且测量现场一般条件比较简陋，不可能提供黑体炉或其他的校准工具。以下提供三种现场操作方法供大家参考：
方法一，现场有接触式高精度温度计（精度必须高于红外测温仪），可以用来调整发射率：首先，用接触式温度计测量物体表面温度得出参考值。然后，使用红外测温仪测量物体得出表面测量温度。***，根据差异调整测温***的发射率直至温度接近或等于参考值。应注意的是，因为两种温度计存在精度等多方面差异，因此红外测温仪只要保证在自身精度范围内即可。为确保红外测温仪的准确和稳定性，应定期及时同校准装置进行校准对比。 智能黑体炉图片额温枪成品的品质检测速度受黑体炉和恒温房所限制，还有主控芯片MCU、运算放大器、外壳等物料动态变化。
3 试验用锅发射率测试
3.1 测量仪器
锅体材料是影响灶具热效率的重要因素之一，因此，本试验主要测量新、旧两版国标下铝制锅具材料的发射率，分别为旧国标下的普通白色铝锅和新国标下的黑色无光铝锅，以下分别简称“白锅”和“黑锅”。
发射率测量仪器见图4，分别为日本某公司生产的FTIR-6100型傅里叶光谱分析仪和HIT-2型面源黑体炉。
3.2 发射率测量
针对标准用锅的样品，使用HIT-2型黑体炉作为参考黑体辐射源，在120 ℃下，分别测量黑体辐射源、黑锅和白锅的辐射量，经过计算机进行傅里叶变换，获得黑锅和白锅在2.5~25 μm红外波段的发射率，测量结果见图5。
选用测温仪，要注意辐射路径的吸收。因为可以测的范围很广，所以可以针对不同的吸收情况，选择合适的波长。在高温区，测量金属材料的比较好波长是近红外，可选用0.8～1.0um。其他温区可选用1.6μm、2.2μm、3.9μm。在低温测量应用中，通常用Ge或Si材料作为窗口，不透可见光，人眼不能通过窗口观察目标。如操作员需要通过窗口目标，应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如ZnSe或BaF2等作为窗口材料。
红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。一般的红外测温的校准周期是一年，建议选用腔形，发射率达到0.995的黑体炉，才能准确的校准红外测温仪。 工作时，光源（小金点黑体炉或温度灯）经物镜成像于调制器7的狭缝上，经调制转换为交流光信号。
中国计量科学研究院基准髙温装置一高温光电比较仪光路图如下图所示。工作时，光源（小金点黑体炉或温度灯）经物镜成像于调制器7的狭缝上，经调制转换为交流光信号。信号由光导纤维混合、传输，并于聚光透镜焦点上聚焦，经聚光镜和干涉滤光片后，由聚光透镜14均匀地聚焦到光电倍增管的阴极上。
经调制的光相位相反，当两束光亮度不等时，一个交变光能量由光电倍增管接收，使指零仪表不指“0”，调节被检灯电流，以达亮度平衡。若两光源亮度相等，则被检光源的亮度温度就等于标准光源的亮度温度。
红外热像仪的校准使用的是黑体炉。上海黑体炉公式
比色温度计（也叫双色温度计）：通过测量两个波长的单色辐射亮度之比值来确定物体温度的仪表。属于非接触式温度传感器。根据黑体辐射基本定律的维恩公式，温度为T的黑体,对应波长为λ1和λ2的光谱辐射亮度之比R 可用下式表示：该式即为比色温度计的分度公式。当黑体的两个波长λ1和λ2的辐射亮度之比等于实际物体的相应亮度比时，黑体的温度就称为实际物体的比色温度。对于***黑体和灰体，比色温度即为真实温度。对于不满足***黑体和灰体辐射条件的实际物体还应采用修正方法来求出真实温度。分类：单通道式和双通道式上海黑体炉公式
