环境温度：把额温枪置于25.00 +/-0.02 度水槽中，环境温度也要达到25℃，等稳定后按下某个键确认，一般耗时30秒。
黑体温度：先把黑体炉调到37.00 +/-0.02度，再把传感器塞入到黑体炉里，等稳定后按下某个键确认。一般耗时20秒。
三、额温枪方案制造的准备
首先要有配套的壳、液晶屏、传感器、和产品规格。这样芯片方案才可以进行软硬件开发
1. 壳有几个功能键，分别什么作用
2. 液晶屏需多少个脚
3. 传感器是数字的还是模拟
4. 产品规格：什么样的电池供电，家用还是医用，是否需要校准。
发射率测量仪器见图4，分别为日本某公司生产的FTIR-6100型傅里叶光谱分析仪和HIT-2型面源黑体炉。高温黑体炉批发
高温场视觉测温模型的建立是基于CCD传感器对铸坯表面温度场进行在线测量的前提。在分析辐射测温及CCD探测器基本工作原理的基础上，基于几何光学理论建立了窄带光谱辐射测温模型，为CCD辐射测温提供了理论依据。并结合连铸坯表面温度场分布特点，从温度测量范围、测量准确性以及发射率消除等因素上确定了灰度CCD进行连铸坯表面温度场测量方案。基于面阵CCD辐射测温模型，分析了测温灵敏度、温度测量范围与窄带滤光片中心波长、像方孔径角之间的关系。分析结果表明，灵敏度与像方孔径角成正相关，随窄带光谱中心波长先增大后减小；而温度测量范围与像方孔径角成负相关，随窄带光谱中心波长先减小后增大。同时考虑到波长对水雾的吸收特性以及本文选择的探测器响应波段等因素，**终选择的窄带滤光片中心波长为μm，带宽为10nm。基于几何成像的基本原理，建立了辐射测温变参数模型，在黑体炉上进行了标定试验研究，分析了曝光时间、光圈、焦距以及标定距离等参数对CCD灰度测量的影响。 上海市黑体炉厂家报价建议选用腔形，发射率达到，才能准确的校准红外测温仪。
红外温*****芯片主要由ADC芯片和控制芯片设计组成，可实现按键控制、LCD显示、电量检测等功能。
红外测温仪的工作过程 ：红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件以及位置决定。被测物体辐射的红外首先进入测温仪的光学系统，再由光学系统汇聚射入的红外线，使能量更加集中;聚集后的红外线输入到光电探测器中，探测器的关键部件是红外线传感器，它的任务是把光信号转化为电信号;从光电探测器输出的电信号经过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。
分析认为，GB/T 30127—2013标准检测用的传感器是全红外波长范围的，且采用的是标准黑体板，其发射率要求*为0.95，所以该测试实际上是样品的全红外波长范围辐射能量积分与发射率偏低的标准黑体板全红外波长范围辐射能量积分的比值。而CAS 115—2005则是通过红外光谱仪测试出100℃时样品的法向发射率曲线，并采用有效发射率大于0.99的黑体炉作为参照，通过比较样品与黑体炉在4μm～16μm内的远红外辐射能量积分作为测试结果，更能表征样品与人体辐射波长相对应的波长范围辐射特性。德国DIAS中高温黑体炉CS1500.
一点法的缺点同时也是其优点。由于是*针对目标响应值相对大小关系的校正，这就使得一点校正法可以在目标响应值与校正测量值相近时的任何情况下都能较好地成像。例如，一种很常见的实现方式是在环境温度、FPA温度变化后，通过实时动态调节积分时间、全局偏置等参数，让目标响应值回到与校正测量时相近的范围内，则成像一般不成问题，但这样处理后将导致测温算法复杂化甚至根本无法实现测温功能。
各厂家在一点校正法的工艺实现中，还有个普遍的谬误：用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构(有内档片和外档片两种形式)，此时档片起到的是参考黑体的作用。如果用外档片则还与校正测量的情况比较接近，但内档片差得就很离谱了。 我国南北环境温差大，且测量现场一般条件比较简陋，不可能提供黑体炉或其他的校准工具。上海黑体炉效应
用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构.高温黑体炉批发
如前文所述，由于我们测量的物体都不是***黑体，不同物体的发射率也不尽相同，这些因素会导致较大的测量误差。因此需要对数据进行处理。具体的处理方法是：一是收集红外传感器对黑体炉标定数据。记录不同温度下目标的灰度I，和实际温度T；二是目标图像灰度值与温度相关关系的数学表达式，即回归方程式。由于灰度和温度具有高度相关性，可以使用一元线性回归分析方法来拟合构回归方程。通过该方程即可根据红外相机拍摄到目标的灰度值计算出目标的实际温度[5]。高温黑体炉批发
