中国计量科学研究院基准髙温装置一高温光电比较仪光路图如下图所示。工作时，光源（小金点黑体炉或温度灯）经物镜成像于调制器7的狭缝上，经调制转换为交流光信号。信号由光导纤维混合、传输，并于聚光透镜焦点上聚焦，经聚光镜和干涉滤光片后，由聚光透镜14均匀地聚焦到光电倍增管的阴极上。
经调制的光相位相反，当两束光亮度不等时，一个交变光能量由光电倍增管接收，使指零仪表不指“0”，调节被检灯电流，以达亮度平衡。若两光源亮度相等，则被检光源的亮度温度就等于标准光源的亮度温度。
一点法的缺点同时也是其优点。由于是*针对目标响应值相对大小关系的校正，这就使得一点校正法可以在目标响应值与校正测量值相近时的任何情况下都能较好地成像。例如，一种很常见的实现方式是在环境温度、FPA温度变化后，通过实时动态调节积分时间、全局偏置等参数，让目标响应值回到与校正测量时相近的范围内，则成像一般不成问题，但这样处理后将导致测温算法复杂化甚至根本无法实现测温功能。
各厂家在一点校正法的工艺实现中，还有个普遍的谬误：用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构(有内档片和外档片两种形式)，此时档片起到的是参考黑体的作用。如果用外档片则还与校正测量的情况比较接近，但内档片差得就很离谱了。 德国Optris黑体炉现场测试黑体炉等设施、设备对传感器进行标定，经过校准与标定后的红外测温仪可以测得目标温度的准确表面温度。
随着科学技术的发展，黑体的用途已经不局限于在温度计量方面的应用。在光学方面，已经普遍采用黑体作为标准辐射源和标准背景光源。在测量领域里，黑体已经用于测量材料的光谱发射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑体已经用作为产生中子源。不同的用途对黑体的要求是不一样的。在温度计量领域，主要是利用黑体辐射和温度的对应关系，因此要求黑体的发射率越高越好。要求黑体的辐射能量按照光谱分布(也就是黑体光谱辐射能量、也称为单色能量)都能符合普朗克定律，这样我们在检定或校准辐射温度计时，以黑体的温度(或标准辐射温度计)的示值，来修正辐射温度计的偏差。因此在选择黑体时通常是选择发射率较高的腔式黑体，同时也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。
比色温度计（也叫双色温度计）：通过测量两个波长的单色辐射亮度之比值来确定物体温度的仪表。属于非接触式温度传感器。根据黑体辐射基本定律的维恩公式，温度为T的黑体,对应波长为λ1和λ2的光谱辐射亮度之比R 可用下式表示：该式即为比色温度计的分度公式。当黑体的两个波长λ1和λ2的辐射亮度之比等于实际物体的相应亮度比时，黑体的温度就称为实际物体的比色温度。对于***黑体和灰体，比色温度即为真实温度。对于不满足***黑体和灰体辐射条件的实际物体还应采用修正方法来求出真实温度。分类：单通道式和双通道式一般的红外测温的校准周期是一年，建议选用腔形，发射率达到，才能准确的校准红外测温仪。
高温场视觉测温模型的建立是基于CCD传感器对铸坯表面温度场进行在线测量的前提。在分析辐射测温及CCD探测器基本工作原理的基础上，基于几何光学理论建立了窄带光谱辐射测温模型，为CCD辐射测温提供了理论依据。并结合连铸坯表面温度场分布特点，从温度测量范围、测量准确性以及发射率消除等因素上确定了灰度CCD进行连铸坯表面温度场测量方案。基于面阵CCD辐射测温模型，分析了测温灵敏度、温度测量范围与窄带滤光片中心波长、像方孔径角之间的关系。分析结果表明，灵敏度与像方孔径角成正相关，随窄带光谱中心波长先增大后减小；而温度测量范围与像方孔径角成负相关，随窄带光谱中心波长先减小后增大。同时考虑到波长对水雾的吸收特性以及本文选择的探测器响应波段等因素，**终选择的窄带滤光片中心波长为μm，带宽为10nm。基于几何成像的基本原理，建立了辐射测温变参数模型，在黑体炉上进行了标定试验研究，分析了曝光时间、光圈、焦距以及标定距离等参数对CCD灰度测量的影响。 现场检定校准黑体炉、恒温槽等计量器具，开展质检人员业务培训，有效解决企业技术难题。中高温黑体炉怎么用
通过比较样品与黑体炉在4μm～16μm内的远红外辐射能量积分作为测试结果。新型黑体炉用途
黑体开始发展的是高温黑体，早在20世纪50年代，由于光学高温计的应用，当时的苏联和英国已经研制出了黑体炉，最高工作温度可以达到2500℃。20世纪60年代，日本生产出卧式黑体炉，最高工作温度为2200℃;同年代，我国也研制出卧式黑体炉，工作温度为900~3200℃。
在20世纪60年代，中温黑体就有人开始研究，因为当时的技术条件限制，对黑体技术(如黑体腔、等温黑体腔、黑体发射率等)认识不足，甚至将热电偶检定炉的中间放置一个靶子就看作是黑体。
自从美国在越南******使用红外技术，成功地侦察到密林中的胡志明小道后(注:当时胡志明小道是运输线)，拉开了红外技术在***上应用的序幕。随后，各国都开展了红外侦察、红外伪装、红外制导、红外诱饵、空中防卫等技术的研究工作，这就促进了对黑体技术的研究，尤其是对中低温黑体的研究。因此国外在20世纪80年代就已经有低温黑体，我国对低温黑体的研究，是从20世纪90开始。 新型黑体炉用途
