郑州Micro-Hyperspec 系列高光谱成像仪源头厂家

Co-Aligned HP 的 SpectralView 后处理软件内置专业的反射率校正功能，能够将辐射亮度数据转化为标准化的反射率数据，大幅提升数据的可比性与科学性。反射率是物质的固有属性，不受光照强度、观测角度、距离等外界因素影响，是进行跨区域、跨时间对比分析的重要指标。在矿物填图中，反射率校正后的光谱数据可用于不同区域矿物类型的对比识别；在植被监测中，可通过不同时期的反射率变化分析生长趋势；在环境监测中，能精确对比不同区域的污染程度。Co-Aligned HP 的反射率校正功能基于 3*3m 三梯度反射率定标毯的参考数据，校正精度高、稳定性强，确保不同批次、不同场景下采集的数据具备统一的标准，能够直接进行对比分析。这一功能让高光谱数据的应用价值得到明显提升，为长期、大范围的监测项目提供了可靠的数据基础。Nano HP 支持选配 16 线激光雷达，可同步获取高光谱与点云数据，实现数据融合分析。郑州Micro-Hyperspec 系列高光谱成像仪源头厂家

Nano HP 的空间像素数达到 1020，具备良好的空间分辨率，能够捕捉到监测目标的细微空间特征。空间分辨率是高光谱影像的重要指标之一，直接影响对目标物的识别精度与细节呈现能力。1020 的空间像素配置，让 Nano HP 在推扫式成像过程中，能够形成高清晰度的影像，清晰呈现植被冠层结构、水体边界、地块划分等空间信息。配合标配的几何校正功能，能够有效修正飞行过程中的几何畸变，进一步提升影像的空间精度。在农业监测中，可清晰区分不同地块的作物种植情况；在林业调查中，能精确识别单株树木的形态特征；在水体监测中，可明确界定污染区域的边界范围。这种高空间分辨率与精确几何校正的结合，让 Nano HP 的输出影像既具备丰富的光谱信息，又拥有清晰的空间细节，满足科研与应用对高画质高光谱影像的需求。广州机器视觉高光谱成像仪Co-Aligned HP 的 Offner 光栅技术与 “高分 5 号” 同源，保障科研级数据质量。

Co-Aligned HP全波段机载高光谱成像系统集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪，其中，VNIR 相机(400-1000nm)的感光元件为低功耗，高灵敏度的CMOS传感器，像元尺寸为5.86μm，SWIR相机（900-2500nm）的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器，像元尺寸为15μm。而系统的分光光路均基于Headwall公司专项技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术，不仅保证了极低杂散光和成像畸变，同时也具有极高的热稳定性和信噪比。Offner反射光栅技术与我国“高分5号”卫星为同源技术，能够为科研用户提供高质量的高光谱成像数据。

Nano HP 将嵌入式数据存储模块与高光谱成像模块集成一体，这种集成化设计不仅降低了设备重量与功耗，更提升了系统的稳定性与数据传输效率。传统的分离式存储设计需要通过数据线连接，容易出现接触不良、信号干扰等问题，影响数据采集的稳定性。嵌入式存储模块直接与成像模块进行内部数据传输，传输速度更快、抗干扰能力更强，能够确保数据采集过程中不出现丢帧、数据损坏等问题。在野外复杂环境下，这种稳定性尤为重要，能够有效应对振动、灰尘、温度变化等外界因素的影响，保障数据采集的连续性与完整性。此外，嵌入式存储模块的集成化设计也简化了设备的外部接口，让设备结构更紧凑，便于携带与安装，进一步提升了设备的实用性与可靠性。Nano HP 适合农业长势监测、水体污染调查，数据精度满足行业标准。

Co-Aligned HP 的双探测器设计并非简单的波段叠加，而是针对不同波段的特性进行专项优化，实现数据的高效协同。VNIR 探测器（400-1000nm）针对植被、水体等常规监测目标优化，采用低功耗 CMOS 传感器，确保在可见 - 近红外波段获得高灵敏度、高空间分辨率的光谱数据；SWIR 探测器（900-2500nm）针对矿物、水分等特殊目标优化，采用 Stirling 制冷 MCT 传感器，保障在短波红外波段的探测精度与稳定性。两套探测器同步采集、数据协同，既确保了常规波段的高质量数据，又拓展了短波红外波段的特殊应用。在综合监测场景中，如植被 - 土壤 - 矿物复合区域调查，双探测器的协同数据能够覆盖不同目标物的光谱特征，为多目标综合分析提供完整的数据支撑，展现出全波段设备的独特优势。Nano HP 重量不足 1kg，集成化设计让整套系统功耗控制在 15W 以下。西安便携式高光谱成像仪供应商

Co-Aligned HP 配备 3*3m 三梯度反射率定标毯，通过相关软件实现批量数据校正。郑州Micro-Hyperspec 系列高光谱成像仪源头厂家

Co-Aligned HP 全波段机载高光谱成像系统凭借 400-2500nm 的超宽光谱范围，成为专业领域的产品。该系统创新性地集成 VNIR（400-1000nm）和 SWIR（900-2500nm）两套高光谱成像仪，通过双探测器设计实现从可见光到短波红外的无缝覆盖，无需更换设备即可满足多场景应用需求。其技术源于 Headwall 公司的 Offner 像差校正型凸面全息反射光栅技术，与我国 “高分 5 号” 卫星同源，不仅能有效降低杂散光和成像畸变，还具备极高的热稳定性和信噪比。VNIR 相机采用低功耗、高灵敏度 CMOS 传感器，像元尺寸 5.86μm，SWIR 相机则搭载 Stirling 制冷型 MCT 传感器，像元尺寸 15μm，双传感器协同工作，确保不同波段下的数据采集质量。这种技术配置让系统在树种分类、高光谱探矿、地质灾害调查等专业领域具备不可替代的优势，为科研与工程应用提供高质量数据支撑。郑州Micro-Hyperspec 系列高光谱成像仪源头厂家