四川自动光束质量分析仪测量系统

实时监控与记录BladeCam-HR 提供实时光束轮廓显示和数据记录功能。这使得用户能够在激光器运行过程中实时监控光束质量，并记录数据以供后续分析。这对于激光加工和医疗应用中的质量控制尤为重要。5. M² 测量BladeCam-HR 可以搭配导轨使用，测量光束质量因子 M²。M² 是评估激光光束质量的关键参数，通过测量 M²，用户可以了解光束的传播特性和聚焦能力，从而优化激光器的设计和性能。6. 紧凑设计与集成BladeCam-HR 的尺寸*为 46 mm×46 mm×11.5 mm，厚度*为 0.5 英寸。这种紧凑设计使其能够轻松集成到现有的光学系统中，而不占用过多空间。WinCamD-IR-BB可以作为标准工具，对其测量结果进行校准和标定。四川自动光束质量分析仪测量系统

DataRay 光束质量分析仪以“全波段、全尺寸、全应用”理念覆盖激光表征全流程。旗舰 WinCamD-LCM 采用 1″ CMOS 全局快门，4.2 MPixel、5.5 µm 像素，355-1150 nm 波段内以 60 fps 给出 2500:1 信噪比，USB3.0 供电即插即用，HyperCal™ 实时去噪，MagND™ 磁吸衰减片让高功率不再“烫手”；一套软件即可输出 ISO-11146 M²、发散角、束腰位置，亦可多台并行做产线 QA。中红外 WinCamD-IR-BB 把范围延伸到 2-16 µm，VOx 微测辐射热计无需斩波器与 TEC，14-bit ADC、14 ms 响应，可测 10.8×8.2 mm 大光斑，CO₂ 激光、量子级联激光现场维护一机搞定。山东自动光束质量分析仪测量系统该设备尺寸为 73 mm × 73 mm × 52 mm，重量 422 克，便于携带和集成到现有系统中。

DataRay WinCamD-LCM 光束质量分析仪适用于以下具体行业和应用：1. 科研领域激光系统研发：用于评估激光器性能，优化激光系统，故障诊断与维护。例如，在高对比度激光系统的研究中，WinCamD-LCM 被用于测量光束质量和稳定性。光学实验：在光学实验中用于光束对准和校准，确保实验精度。2. 工业领域激光加工：在激光切割、焊接、打标等工业应用中，实时监测光束质量，优化加工参数。激光器制造：用于激光器生产线的质量控制，确保激光器的光束质量符合标准。3. 医疗领域激光手术设备：在激光眼科手术中，帮助医生精确控制激光光束的焦点位置和能量分布，确保手术的安全性和有效性。医疗设备维护：用于医疗激光设备的维护和校准，确保设备性能符合法规要求。

光学组装和仪器对准特点：高分辨率和精确的光束参数测量能力，有助于精确对准光学元件。应用：用于光学系统的组装和校准，确保光学组件的精确对准。5. 光束漂移记录特点：能够记录光束的长期漂移数据，帮助分析光束的稳定性和一致性。应用：用于激光器的长期运行监测，提前发现潜在问题，减少设备停机时间。6. M² 测量特点：搭配 M2DU 载物台，可以测量光束质量因子 M²，评估光束的传播特性。应用：用于激光器的研发和质量控制，确保激光器的光束质量符合标准。WinCamD-IR-BB能够测量中红外和远红外波段激光的光束轮廓。

紫外和近红外波段特点：BladeCam2-XHR-UV 支持 190 nm 至 1150 nm 的波长范围，适用于紫外和近红外波段。应用：适用于紫外激光器（如 355 nm Nd:YAG 激光器）和近红外激光器（如 1064 nm Nd:YAG 激光器）的光束质量分析。总结BladeCam2-XHR-UV 以其高分辨率、紧凑设计和***的波长支持，成为多种应用场景下的理想选择。它不仅适用于激光加工、医疗激光设备和光学系统的现场维修，还支持紫外和近红外波段的光束质量分析。如需了解更多详情或购买，建议访问谱镭光电官网。WinCamD-IR-BB可以提供清晰的红外图像，帮助用户快速准确地获取目标的热信息和空间分布。湖北激光轮廓分析光束质量分析仪报价

提供相机式和狭缝式等多种测量方式。狭缝式的 Dataray 光束分析仪在测试精度表现上较高。四川自动光束质量分析仪测量系统

光束特性光束半径或直径范围：确定要测量的光束半径或直径范围，以及所需的测量精度。光束形状：考虑光束是否接近高斯分布，或者具有复杂的形状，如二极管条的输出。光功率范围：确定光功率范围，是否需要大动态范围的设备，或者是否可以在狭窄的光功率范围内工作。3. 测量精度传感器类型：选择合适的传感器类型，如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS，但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小：像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比：高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。四川自动光束质量分析仪测量系统