上海显微成像式应力仪研发

应力是材料内部由于外力作用或温度变化等因素而产生的抵抗变形的内力，反映了物体在受力状态下单位面积上的分布力。在工程和材料科学中，应力分析至关重要，因为它直接影响结构的强度、刚度和耐久性。应力通常分为拉应力、压应力和剪应力三种基本类型，其大小和方向决定了材料是否会屈服、断裂或发生塑性变形。例如，在桥梁、建筑或机械部件设计中，精确计算应力分布可以避免因局部过载而导致的失效。同时，残余应力也是制造工艺（如焊接、铸造或热处理）中需要重点控制的参数，不合理的残余应力可能导致零件变形或早期疲劳损坏。千宇光学应力双折射分布测试仪性能比肩WPA-200应力系统，可实现国产替代。上海显微成像式应力仪研发

光学膜的光轴分布测量是确保其性能达标的关键环节。在偏振片、增透膜等光学薄膜的生产过程中，分子取向的一致性直接影响产品的光学特性。通过精密的光轴测量系统，可以准确获取薄膜各区域的光轴取向角度，检测是否存在局部取向偏差。这种测量通常采用旋转检偏器法或穆勒矩阵椭偏仪，能够以优于0.1度的精度确定光轴方向。特别是在大尺寸光学膜的生产中，光轴分布的均匀性测试尤为重要，任何微小的取向偏差都可能导致产品在后续应用中产生偏振串扰或透射率不均匀等问题。天津晶体成像式应力仪研发检测AR镜片注塑内应力。

应力分布测试是评估光学元件内应力状况的重要手段。常用的测试方法有偏光应力仪法，其基于光弹性原理，通过观测镜片在偏振光下的干涉条纹，分析应力的大小和分布，能够直观呈现应力集中区域；数字图像相关法（DIC）则利用高精度相机采集元件表面变形图像，通过对比变形前后的图像，计算出应力分布情况，这种方法可实现全场应力测量，精度高且对元件无损伤。千宇光学自主研发的成像式内应力测试仪PRM-90S，高精高速，采用独特的双折射算法，斯托克斯分量2D快速解析。适用于玻璃制品、光学镜片等低相位差材料的内应力测量。

偏振应力测量技术在特种玻璃制造中具有独特价值。超薄玻璃、微晶玻璃等新型材料具有特殊的应力特性，常规方法难以准确测量。千宇光学自主研发的成像式内应力测试仪PRM-90S，高精高速，采用独特的双折射算法，斯托克斯分量2D快速解析。适用于玻璃制品、光学镜片等低相位差材料的内应力测量。这款内应力测试仪可量测相位差分布和光轴角度分布，应力测试数据指标源于自研的高精度光谱式相位差测试仪 PLM-100P，依据测试标准，验证定量数据可靠性TGV孔边缘的应力集中易引发微裂纹的扩展。

在对微区残余应力在失效分析中的应用分析领域，成像式应力仪是追溯故障根源的“法医工具”。当TGV结构或玻璃基板出现开裂、 delamination等失效时，通过检测失效区域周边的微区残余应力分布，可以反推应力在失效过程中所扮演的角色。例如，通过分析裂纹前列的应力强度，可以判断裂纹是源于制造过程中的残余应力，还是外部过载。这种准确的事后分析，将抽象的失效现象与定量的应力数据联系起来，为制定有效的纠正与预防措施提供了坚实的科学依据。精确测量TGV应力对三维封装设计至关重要。南通玻璃通孔成像式应力仪价格

重复测量精度高，数据可靠稳定。上海显微成像式应力仪研发

现代光轴分布测量技术已实现全场快速检测。先进的成像式测量系统结合CCD相机和自动旋转机构，可在几分钟内完成整卷光学膜的光轴分布扫描。系统通过分析不同偏振方向下的透射光强变化，计算出每个像素点对应的光轴角度，生成直观的二维分布图。这种测量方式不仅效率高，而且能清晰显示膜材边缘与中心区域的取向差异，为工艺优化提供直接依据。在液晶显示用偏振膜的生产中，这种全场测量技术帮助制造商将产品均匀性控制在±0.3度以内，大幅提升了显示面板的视觉效果。上海显微成像式应力仪研发

千宇光学专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。主要事业涵盖光电材料、光学显示、半导体、薄膜橡塑、印刷涂料等行业。 产品覆盖LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光学测试需求，并于国内率先研发相位差测试仪打破国外设备垄断，目前已广泛应用于全国光学头部品牌及其制造商

千宇光学研发中心由光学博士团队组成，掌握自主的光学检测技术, 测试结果可溯源至国家计量标准。与国家计量院、华中科技大学、东南大学、同济大学等高校建立产学研深度合作。千宇以提供高价值产品及服务为发展原动力， 通过持续输出高速度、高精度、高稳定的光学检测技术，优化产品品质，成为精密光学产业有价值的合作伙伴。