绍兴GEN测试系统定制

    杭州国磊（Guolei）SoC测试系统（以GT600为**）虽主要面向高性能系统级芯片（SoC）的数字与混合信号测试，但凭借其高精度模拟测量、灵活电源管理、高速数字接口验证及并行测试能力，能够有效支持多种MEMS（微机电系统）。以下是其具体支持的典型MEMS应用场景：1.惯性测量单元（IMU）IMU广泛应用于智能手机、无人机、AR/VR设备及智能驾驶系统，通常集成3轴加速度计+3轴陀螺仪（6DoF）甚至磁力计（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱电容信号调理、Σ-ΔADC转换、温度补偿和SPI/I²C通信。杭州国磊（Guolei）支持点：利用24位高精度Digitizer板卡捕获nV~μV级模拟输出；通过TMU（时间测量单元）验证陀螺仪响应延迟与带宽；使用400MHz数字通道测试高速SPI接口时序（眼图、抖动）；PPMU每引脚**供电，精确测量各工作模式功耗。 国磊GT600SoC测试机高精度浮动SMU板卡可实现HBM接口电源域的电压裕量（VoltageMargining）与功耗测试。绍兴GEN测试系统定制

高精度模拟测试满足车规级信号完整性要求 智能驾驶系统高度依赖毫米波雷达、摄像头、激光雷达等传感器输入，其前端模拟信号链对噪声、失真和时序精度极为敏感。杭州国磊GT600配备的GT-AWGLP02 AWG板卡具备-122dB THD与110dB SNR指标，可精细生成高质量模拟激励信号；而GT-TMUHA04时间测量单元则提供10ps分辨率与时序误差*±10ps的测量能力。这些高精度模拟与混合信号测试功能，使得GT600能够***验证AD/DA转换器、高速SerDes接口及电源管理模块在极端工况下的性能表现，确保智能驾驶SoC在真实道路环境中稳定可靠运行。珠海CAF测试系统现货直发国磊GT600SoC测试机通过PPMU测量芯片在不同电源域下的静态电流，精度达nA级，适用于低功耗模式验证。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作，但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前，必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊（Guolei）GT600支持每引脚PPMU（参数测量单元）和可编程浮动电源（-2.5V~7V），能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数，有效剔除早期失效器件，避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进，集成化“量子测控SoC”成为趋势（如Intel的Horse Ridge芯片）。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能，结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率，完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。

杭州国磊GT600 SoC测试机在车规芯片测试中扮演着“全生命周期可靠性卫士”的关键角色，其应用贯穿从研发验证到量产的全过程，精细满足AEC-Q100等严苛标准。 首先，国磊GT600的**优势在于其高精度参数测量能力。 其每通道集成的PPMU（参数测量单元）可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），这是车规芯片的**指标。微小漏电可能在高温或长期使用后演变为功能失效，国磊GT600通过精密筛查，确保芯片在-40℃至150℃宽温域内“零漏电”，大幅提升产品早期可靠性。 其次，国磊GT600***支持AEC-Q100关键测试项目。 在高温工作寿命测试（HTOL）中，国磊GT600可配合温控系统，在150℃高温下对芯片施加高压并连续运行1000小时以上，验证其长期稳定性。其浮动SMU电源板卡能精细模拟车载12V/24V供电系统，验证电源管理单元（PMU）在电压波动、负载突变下的响应能力，防止“掉电重启”。国磊GT600的16个通用插槽支持数字、模拟、混合信号板卡混插，实现电源管理IC、传感器信号调理芯片的测试。

在地缘***风险加剧的当下，芯片测试环节的自主可控关乎**。过去，**SoC测试严重依赖泰瑞达、爱德万等国外设备，存在数据泄露、断供禁运等隐患。GT600作为纯国产**测试机，从FPGA控制逻辑到测试向量编译器均实现自主开发，确保测试数据不出境、设备不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感领域部署的AI芯片，必须通过可信平台验证。GT600的出现，填补了国产测试设备在400MHz以上高频段的空白，为国家关键信息基础设施提供“***一道防线”，是构建安全、普惠、可信AI生态的基石。国磊GT600SoC测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境，便于实现HBM协议定制化测试算法。珠海PCB测试系统定制价格

国磊GT600的128M向量存储深度可记录长时间功耗波形，用于分析AI推理、传感器唤醒等突发任务的能耗曲线。绍兴GEN测试系统定制

高速数字接口验证保障系统集成，**MEMSIMU（如用于AR/VR或自动驾驶）常集成SPI/QSPI接口，速率可达50MHz以上。国磊（Guolei）GT600支持400MHz测试速率和100ps边沿精度，不仅能验证数字协议合规性，还可进行眼图分析、抖动测试和建立/保持时间检查，确保MEMS模块在高速数据交互中不失效，避免因接口时序问题导致系统崩溃。并行测试提升MEMS量产效率 消费级MEMS芯片（如手机中的六轴传感器）年出货量达数亿颗，对测试成本极其敏感。国磊（Guolei）GT600支持比较高512 Sites并行测试，可在单次测试中同时验证数百颗MEMS-ASIC芯片，大幅降低单颗测试时间与成本。结合其向量存储深度（比较高128M）和ALPG（自动逻辑图形生成）功能，可高效覆盖复杂校准算法（如六点温度补偿）的测试流程。绍兴GEN测试系统定制