广东CAF测试系统行价

可选AWG/TMU/Digitizer：混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG（任意波形发生器）、TMU（时间测量单元）和Digitizer（数字化仪），使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形，用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能，THD低至-122dB，信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率，可精确测量5G基带信号的抖动与延迟，保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号，用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时，杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形，实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC，无需外接多台设备，节省空间与成本。现代低功耗SoC普遍采用动态电压频率调节以平衡性能与能耗。国磊GT600可通过使用SMU动态切换供电电压。广东CAF测试系统行价

    杭州国磊（Guolei）的GT600SoC测试系统本质上是一款面向高性能系统级芯片（SoC）量产与工程验证的自动测试设备（ATE），其**能力聚焦于高精度数字、模拟及混合信号测试。虽然该设备本身并非为量子计算设计，但在当前科技融合加速发展的背景下，杭州国磊（Guolei）SoC测试系统确实可以在特定环节与量子科技产生间接但重要的联系。量子芯片控制与读出电路的测试需求目前实用化的量子处理器（如超导量子比特、硅基自旋量子比特）本身无法**工作，必须依赖大量经典控制电子学模块——包括高速任意波形发生器（AWG）、低噪声放大器、高精度数模/模数转换器（DAC/ADC）以及低温CMOS读出电路。这些**控制芯片多为定制化SoC或ASIC，需在极端条件下（如低温、低噪声）进行功能与参数验证。GT600配备的高精度AWG板卡（THD达-122dB）、24位混合信号测试能力及GT-TMUHA04时间测量单元（10ps分辨率），恰好可用于验证这类量子控制芯片的信号保真度、时序同步性与电源完整性，从而间接支撑量子系统的稳定运行。 高阻测试系统研发公司国磊GT600可选ALPG功能，生成地址/数据序列，用于测试集成了EEPROM或配置寄存器的模拟前端（AFE）芯片。

支持复杂测试向量导入，加速算法验证闭环 智能驾驶芯片的**价值在于其内置的AI推理引擎能否准确执行感知与决策算法。杭州国磊GT600支持从其他测试平台导入测试程序与向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多种数据格式，便于将仿真环境中的算法测试用例直接转化为ATE（自动测试设备）可执行的测试向量。例如，可在GT600上加载真实道路场景下的图像识别或目标检测激励序列，验证NPU在极限负载下的响应正确性与时延表现，从而构建“算法—芯片—测试”一体化验证闭环。

智能汽车芯片的“安全卫士” 随着比亚迪、蔚来、小鹏等车企加速自研芯片，车规级MCU、功率半导体需求激增。这些芯片必须通过AEC-Q100等严苛认证，确保在-40℃~150℃极端环境下稳定运行十年以上。杭州国磊GT600凭借每通道PPMU，可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），识别因制造缺陷导致的微小漏电，从源头剔除“体质虚弱”的芯片。其浮动SMU电源板卡可模拟车载12V/24V供电系统，验证电源管理单元在电压波动、负载突变下的稳定性，防止“掉电重启”或“逻辑错乱”。杭州国磊GT600还支持高温老化测试（Burn-in）接口，配合温控系统进行早期失效筛选，大幅提升车载芯片的长期可靠性。在“安全至上”的汽车电子领域，杭州国磊GT600以“微电流级检测+真实工况模拟”，为每一程出行筑起安全防线。国磊GT600为采用先进工艺、集成多电源域、支持复杂低功耗策略的SoC提供了从研发验证到量产测试的全程支持。

杭州国磊GT600提供512个数字通道，并可扩展至2048通道，配合16个通用插槽，构建了高度灵活的硬件架构。在测试一颗引脚数超500的手机SoC时，512通道可完全覆盖其I/O需求，无需复用或分时测试，确保信号同步性。16个插槽支持自由组合数字板卡、模拟板卡（AWG/TMU）、电源板卡（DPS/SMU），实现“数字+模拟+混合信号”一体化测试。例如，测试智能座舱芯片时，部分插槽配置为高速数字通道测试CPU逻辑，另一部分接入AWG生成音频信号测试DAC，再通过TMU测量显示接口时序。这种模块化设计让GT600能像“变形金刚”一样适配不同芯片需求，从低引脚MCU到高集成SoC，一机通测，大幅降低企业设备采购与维护成本。国磊GT600SoC测试机ALPG功能可生成地址/数据模式，用于HBM存储控制器的功能验证。广东PCB测试系统研发

国磊GT600高达512个数字通道，可同时测试集成模拟模块的SoC，如MCU+ADC+DAC+OPA的完整功能验证。广东CAF测试系统行价

    GT600SoC测试机在测试高可靠性产品（如车规芯片、工业级MCU、航天电子、医疗设备芯片）时，展现出精度、***性、稳定性与可追溯性四大**优势，确保产品在极端环境下长期稳定运行。首先，高精度参数测量是可靠性的基石。GT600配备每通道PPMU（参数测量单元），可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），识别因制造缺陷导致的微小漏电或潜在短路。这种“亚健康”芯片在常温下可能功能正常，但在高温或长期使用后极易失效。GT600通过精密筛查，提前剔除隐患，大幅提升产品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性测试项目。GT600可配合温控系统进行高温老化测试（Burn-in），在高温高压下运行芯片数百小时，加速暴露早期缺陷。其浮动SMU电源板卡能模拟车载12V/24V或工业设备的复杂电源环境，验证芯片在电压波动、负载突变下的稳定性。对于通信类高可靠产品，高精度TMU（10ps分辨率）可检测信号时序漂移，确保长期通信无误码。再次，高稳定性与长周期测试能力。GT600硬件设计冗余，散热优良，支持7x24小时连续运行，可执行长达数周的耐久性测试，模拟产品十年生命周期。128M向量深度确保长周期测试程序不中断，数据完整。***，数据可追溯性强。 广东CAF测试系统行价