广东高分辨率红外成像光束质量分析仪有限公司

应用领域连续和脉冲激光轮廓分析：适用于各种激光器的光束质量分析。激光器和激光系统的现场维修：快速诊断和解决问题。光学组装和仪器对准：确保光学系统的精确性。光束漂移记录：监测光束的动态变化，记录漂移数据。技术规格表格复制参数详细信息波长范围355 - 1150 nm分辨率4.2 MPixel，2048 × 2048靶面尺寸25 mm × 25 mm像素尺寸12.5 µm × 12.5 µm快门类型全局快门比较大帧率60 Hz信噪比2500:1接口USB 3.0动态范围44 dB软件**全功能软件，支持 ISO 11146 标准TaperCamD-LCM 以其大靶面、高分辨率和高信噪比，成为测量大尺寸光束的理想选择。对透镜、反射镜等光学元件的光学性能进行评估，通过测量经过光学元件后的光束质量，如光束的对称性。广东高分辨率红外成像光束质量分析仪有限公司

通信领域光纤通信：评估光纤通信系统中的激光光源质量，确保通信信号的传输效率和质量。5. 新兴消费电子与汽车LiDAR 和 VCSEL 测试：用于 LiDAR（905 nm / 1550 nm）VCSEL 阵列远场分析，适用于自动驾驶和消费电子设备。AR/VR 设备测试：用于 AR/VR 结构光模组测试，确保设备的光学性能。6. 光束质量测量与监控光束漂移记录：监测光束的动态变化，记录漂移数据，用于长期稳定性分析。M² 测量：搭配 M2DU 载物台，可测量光束质量因子 M²，评估光束的传播特性。江苏束腰大小光束质量分析仪采用通用的C/F-Mount接口设计，方便加衰减片、扩束镜、紫外转换装置。

自动校正功能HyperCal™ 动态噪声和基线校正：提高测量精度。MagND™ 可堆叠磁性 ND 滤光片：提供多种衰减选项。6. 多种波长选项标准波长范围：355 nm 至 1150 nm。可选波长范围：UV 选项：190 nm 至 1150 nm。1310 nm 选项：355 nm 至 1350 nm。TEL 选项：1480 nm 至 1610 nm。7. 软件功能强大**全功能软件：支持 ISO 11146 标准，提供 M²、D4σ、Knife-Edge 等参数测量。实时数据处理：支持实时非均匀性校正（NUC）与背景扣除。多相机支持：支持多台相机并行采集，提高测量效率。

测量精度传感器类型：选择合适的传感器类型，如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS，但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小：像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比：高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。4. 软件功能实时监控与记录：支持实时数据处理和长期稳定性分析。光束参数测量：能够测量光束直径、椭圆度、质心位置、光束漂移等参数。数据记录与统计：支持**小值、**大值、平均值、标准偏差等统计功能。M² 测量：对于完整的光束质量表征，设备是否应自动记录不同位置的光束轮廓并计算 M² 因子。5. 其他考虑因素连接方式：考虑设备连接到 PC 的便利性，例如通过 USB 2.0 或 USB 3.0 电缆。快门类型：全局快门适用于高速生产线检测的使用场景。设备尺寸与便携性：根据使用场景选择合适尺寸的设备，例如 BladeCam-HR 的紧凑设计使其能够轻松集成到现有的光学系统中。BladeCam-XHR支持1-8个相机的顺序测量，可以同时测量多个光束的轮廓和相对能量。

BladeCam2-XHR-UV 适用的应用领域BladeCam2-XHR-UV 是一款高分辨率、紧凑型光束质量分析仪，适用于多种应用场景。以下是其主要应用领域：1. 紧凑型光学系统特点：BladeCam2-XHR-UV 具有超小的外观设计，厚度*为 0.5 英寸（12.8 mm），可轻松集成到紧凑的光学系统和 OEM 应用中。应用：适用于空间受限的光学系统，如便携式激光设备、小型化光学仪器等。2. 连续和脉冲激光轮廓分析特点：支持连续光和脉冲光测量，带有触发功能，适用于高重复频率的脉冲激光。应用：用于激光加工（如切割、焊接、打标）、医疗激光设备（如眼科手术激光器）的光束质量分析。3. 激光器和激光系统的现场维修特点：便携性和高分辨率使其成为激光器和激光系统现场维修的理想工具。应用：快速诊断和解决激光系统中的光束质量问题，确保设备的正常运行。在激光物理、光学材料研究等领域，用于分析和优化激光光束特性。吉林光束质量分析仪供应商

WinCamD-QD系列可用于1550nm和2000nm激光器的现场维修和校准，帮助技术人员快速评估激光器的性能状态。广东高分辨率红外成像光束质量分析仪有限公司

光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数，表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤：1. 标准多次成像法根据国际标准化组织（ISO 11146）标准，多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下：光束采样：在光束传播路径上，使用光束分析仪在多个不同位置（通常至少10个）采集光束的横截面图像。这些位置应包括光束腰两侧的一个瑞利长度内（|z|<zR）和两个瑞利长度之外（|z|>2zR）。数据拟合：通过分析采集到的光束宽度数据，利用双曲线拟合方法计算 M² 值。2. 单次成像法单次成像法通过一次成像获取光束传播的关键参数，并基于光场传输理论推导出 M² 值。这种方法的**在于：近场光斑测量：使用光束分析仪采集单幅激光近场光斑。模式分解与光场重构：通过模式分解技术得到激光的各本征模式占比及相对相位，进而重构光场分布并计算得到 M² 值。广东高分辨率红外成像光束质量分析仪有限公司