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测试系统基本参数
  • 品牌
  • 国磊
  • 型号
  • 齐全
测试系统企业商机

可选AWG/TMU/Digitizer:混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG(任意波形发生器)、TMU(时间测量单元)和Digitizer(数字化仪),使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形,用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能,THD低至-122dB,信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率,可精确测量5G基带信号的抖动与延迟,保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号,用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时,杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形,实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC,无需外接多台设备,节省空间与成本。GM8800导电阳极丝测试系统,**检测电路绝缘劣化,支持高达256通道并行测试。苏州导电阳极丝测试系统供应商

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国磊(Guolei)SoC测试系统,特别是其GT600高性能测试平台,在当前全球半导体产业链高度竞争与地缘***风险加剧的背景下,对保障中国半导体及**制造领域的供应链安全具有战略意义。打破**ATE设备进口依赖 自动测试设备(ATE)是芯片制造后道工序的**装备,长期被美国泰瑞达(Teradyne)、日本爱德万(Advantest)等国际巨头垄断,尤其在高性能SoC、AI芯片、车规芯片测试领域,国产设备几乎空白。国磊GT600实现了400MHz测试速率、2048通道扩展、高精度AWG/TMU等关键技术指标的突破,具备替代进口设备的能力。这***降低了国内晶圆厂、封测厂和芯片设计公司在**测试环节对国外设备的依赖,避免因出口管制、断供或技术封锁导致产线停摆。国产GEN测试系统批发实时电流监测与快速数据采集,完整掌握电化学反应过程。

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高同测能力加速智能驾驶芯片量产进程。智能驾驶芯片往往需要大规模部署于整车厂供应链中,对测试效率和成本控制极为敏感。杭州国磊GT600支持比较高512 Sites的并行测试能力,意味着可在单次测试周期内同时验证数百颗芯片,极大缩短测试时间、降低单位测试成本。这种高同测(High Parallel Test)特性对于满足车规级芯片动辄百万级出货量的需求至关重要。此外,其开放式GTFY软件平台支持工程模式与量产模式无缝切换,便于在研发验证与大规模生产之间灵活调配资源,确保智能驾驶芯片在严格的时间窗口内完成认证与交付。

    高通道密度(512~2048数字通道)——适配复杂AISoC引脚规模,现代AI芯片引脚数常超2000(如集成HBM堆栈、多核NPU、多电源域),传统测试设备通道不足。支持**多2048个数字通道,可一次性完成全引脚并行测试,避免分时复用导致的测试盲区。满足寒武纪、壁仞、华为昇腾等国产AI芯片的高集成度测试需求,助力其快速进入数据中心与边缘计算市场。超大向量深度(**高128M/通道)——实现真实AI负载场景回放,AI推理/训练涉及复杂算法流(如Transformer、CNN),需长时间、高覆盖率的功能验证。128M向量存储深度支持完整运行真实AI工作负载测试向量,捕获边界条件下的功能异常或功耗峰值。不仅验证逻辑功能,更能模拟实际应用场景,提升芯片可靠性,加速客户产品上市周期。 多通道分组测试,支持64/128/256可选配置,大幅提升检测效率。

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杭州国磊GT600 SoC测试机在车规芯片测试中扮演着“全生命周期可靠性卫士”的关键角色,其应用贯穿从研发验证到量产的全过程,精细满足AEC-Q100等严苛标准。 首先,国磊GT600的**优势在于其高精度参数测量能力。 其每通道集成的PPMU(参数测量单元)可精确测量nA级静态漏电流(Iddq),这是车规芯片的**指标。微小漏电可能在高温或长期使用后演变为功能失效,国磊GT600通过精密筛查,确保芯片在-40℃至150℃宽温域内“零漏电”,大幅提升产品早期可靠性。 其次,国磊GT600***支持AEC-Q100关键测试项目。 在高温工作寿命测试(HTOL)中,国磊GT600可配合温控系统,在150℃高温下对芯片施加高压并连续运行1000小时以上,验证其长期稳定性。其浮动SMU电源板卡能精细模拟车载12V/24V供电系统,验证电源管理单元(PMU)在电压波动、负载突变下的响应能力,防止“掉电重启”。国磊GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠或关断模式下的静态漏电流。广东GEN3测试系统定制

国磊GT600SoC测试机400MHz测试速率可覆盖HBM2e/HBM3接口逻辑层的高速功能验证。苏州导电阳极丝测试系统供应商

5G/6G通信芯片的“时序显微镜” 5G/6G基站与终端芯片对信号时序精度要求极高,微小抖动即可导致通信中断。杭州国磊GT600配备高精度TMU(时间测量单元),分辨率高达10ps(0.01纳秒),相当于光在3毫米内传播的时间,能精细捕捉高速信号边沿的微小偏移。这一能力对于验证基带芯片、射频前端、AD/DA转换器的时序一致性至关重要。杭州国磊GT600还可通过可选AWG板卡生成高保真模拟信号,测试芯片在复杂调制模式下的响应性能。其400MHz测试速率与100ps边沿精度,确保能覆盖PCIe、USB、MIPI等高速接口的协议测试需求。在通信技术快速迭代的背景下,杭州国磊GT600以“皮秒级”测量能力,为国产通信芯片的性能与稳定性提供精细验证,助力中国在6G赛道抢占先机。苏州导电阳极丝测试系统供应商

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在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆盖当前主流AI芯片、高性能计算SoC及车规级芯片的验证需求。其模块化架构不仅提升了测试灵活性,还***降低了客户部署成本。更重要的是,GT600实现了从硬件到软件的全栈自主可控,有效规避了“卡脖子”风险。在中美科技竞争加剧、国产芯片加速落地的大环境下,GT600不仅是一台测试设备,更是保障中国半导体产业链安全的战略支点,为国内设计公司提供了可信赖、高效率、低成本的本土化验证平台。国磊GT600凭高...

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