显微镜基本参数
  • 产地
  • 德国
  • 品牌
  • 徕卡
  • 型号
  • 齐全
  • 是否定制
显微镜企业商机

透射电子显微镜TEM透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。1背景知识在光学显微镜下无法看清小于,这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达。▽电子束与样品之间的相互作用图来源:《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[书]透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息,这些信息将被用于成像。2TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成:l电子.:发射电子。由阴极,栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束,经阳极电压加速后射向聚光镜,起到对电子束加速和加压的作用。茂鑫显微镜的光学仪器设备研发,放心的销售,多年的生产经验。南京多功能显微镜公司

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LFM是检测表面不同组成变化的SFM技术。它可以识别聚合混合物、复合物和其他混合物的不同组分间转变,鉴别表面有机或其他污染物以及研究表面修饰层和其他表面层覆盖程度。它在半导体、高聚物沉积膜、数据贮存器以及对表面污染、化学组成的应用观察研究是非常重要的。LFM之所以能对材料表面的不同组分进行区分和确定,是因为表面性质不同的材料或组分在LFM图像中会给出不同的反差。例如,对碳氢羧酸和部分氟代羧酸的混合LB膜体系,LFM能够有效区分开C-H和C-F相。这些相分离膜上,H-C相、F-C相及硅基底间的相对摩擦性能比是1:4:10。说明碳氢羧酸可以有效提供低摩擦性,而部分氟代羧酸则是很好的抗阻剂。不仅如此,LFM也已经成为研究纳米尺度摩擦学-润滑剂和光滑表面摩擦及研磨性质的重要工具。为研究原子尺度上的摩擦机理,Mate等和Ruan、Bhan对新鲜解离的石墨(HOPG)进行了表征。HOPG原子尺度摩擦力显示出高定向裂解处与对应形貌图像具有相同周期性(图),然而摩擦和形貌图像中的峰值位置彼此之间发生了相对移动(图)。利用原子间势能的傅里叶公式对摩擦力针尖和石墨表面原子间平衡力的计算结果表明,垂直和横向方向的原子间力比较大值并不在同一位置。杭州显微镜询问他.次描述了许多肉眼所看不见的微小植物和动物。

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徕卡石棉显微镜简要描述:石棉是天然的纤维状的硅酸盐类矿物质的总称,共计6种矿物:有蛇纹石石棉、角闪石石棉、阳起石石棉、直闪石石棉、铁石棉、透闪石石棉等。石棉具有高度耐火性、电绝缘性和绝热性,是重要的防火、绝缘和保温材料,在建筑、汽车、船舶等行业中应用较广。徕卡石棉显微镜主要用于检测和区分石棉的种类,有多种规格可以选择:DM750P、DM2700P。徕卡石棉显微镜DM2700P拥有以下关键光学部件:无应力光学部件,因为您需要确保观测到的双折射来自样品而非光学部件LED照明至关重要,因为这种照明能够均匀照亮样品,并具有恒定的色温偏光镜帮助您看到双折射,旋转台帮助您对准样品和光轴您还需要用于对光轴进行锥光观察的勃氏镜和用于测量任务的补偿器。

徕卡体视显微镜简要描述:M165C徕卡体视显微镜工作结果十分准确、可靠,轻松采集重要细节的图像,可提高生产线或品管部门效率、优化光学检查,符合人体工学的显微镜工作空间,让您舒适工作。徕卡体现显微镜的热补偿焦距稳定技术,即双金属片反向膨胀抵消技术,抵消机体由于长时间热效应带来的调焦面移动。M165C徕卡体视显微镜特点:1、10倍目镜加1倍物镜下的标准放大倍数;2、可连续变倍,也可分级变倍,可实现在两档固定倍数间快速切换观察,变倍观察时齐焦性良好;3、内置可调的带编码双光阑,调节图像的景深和对比度;4、可配电动调焦支架,可连接数码相机、摄像头;5、具有多个不同倍数的物镜可选,组合出多种放大倍数;6、可手动转换荧光滤块,带编码信息输出。影响徕卡显微镜成像质量好坏有哪几大因素?

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一、9j光切法显微镜的用途9j光切法显微镜以光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状;在不破坏表面的条件下,测出截面轮廓的微观平面度和沟槽宽度的实际尺寸;此外,还可测量表面上个别位置的加工痕迹和破损。本仪器适用于测量,但只能对外表面进行测定;如需对内表面进行测定,而又不破坏被测零件时,则可用一块胶体把被测面模印下来,然后测量模印下来的胶体的表面。二、9j光切法显微镜的规格仪器的示值相对误差(分段计)5%-24%摄像装置放大倍数≈6×测量平面度范围≈()um平面宽度用测微目镜≈()mm用坐标工作台≈()mm仪器质量≈23kg仪器外形尺寸(l×b×h)mm180×290×470其余见表1表1测量范围(平面度平均高度值)/um表面粗糙度级别所需物镜总放大倍数物镜组件与工件的距离/mm视场/mm960×∞*510x8-730×∞*260x6-514×∞*120x20-804-37×∞*60x*物镜的光学筒长三、9j光切法显微镜的工作原理仪器是采用光切法测量被测表面的微观平面幅度,其工作原理,狭缝被光源发出的光线照射后,通过物镜发出一束光带以倾斜45°方向照射在被测量的表面。具有齿状的不平表面,被光亮的具有平直边缘的狭缝像的亮带照射后,表面的波峰在s点产生反射。显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器,是人类进入原子时代的标志。常州销售显微镜多少钱

各种元件的性能说明 (1) 相位板使直接光的相位移动 90°,并且吸收减弱光的强度。南京多功能显微镜公司

5.力-距离曲线——简称力曲线SFM除了形貌测量之外,还能测量力对探针-样品间距离的关系曲线Zt(Zs)。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近,然后离开样品表面时,微悬臂和样品间产生了相对移动。而在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面,然后脱离,此时原子力显微镜(AFM)测量并记录了探针所感受的力,从而得到力曲线。Zs是样品的移动,Zt是微悬臂的移动。这两个移动近似于垂直于样品表面。用悬臂弹性系数c乘以Zt,可以得到力F=c·Zt。如果忽略样品和针尖弹性变形,可以通过s=Zt-Zs给出针尖和样品间相互作用距离s。这样能从Zt(Zs)曲线决定出力-距离关系F(s)。这个技术可以用来测量探针尖和样品表面间的排斥力或长程吸引力,揭示定域的化学和机械性质,像粘附力和弹力,甚至吸附分子层的厚度。如果将探针用特定分子或基团修饰,利用力曲线分析技术就能够给出特异结合分子间的力或键的强度,其中也包括特定分子间的胶体力以及疏水力、长程引力等。图(force-separationcurve)特征。微悬臂开始不接触表面(A),如果微悬臂感受到的长程吸引或排斥力的力梯度超过了弹性系数c,它将在同表面接触之前。南京多功能显微镜公司

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