国磊GT600支持400MHz高速测试与128M超大向量深度,足以运行手机芯片内部复杂的AI推理算法、多任务调度协议等长周期测试程序,避免传统设备因内存不足导致的“中断加载”,大幅提升测试覆盖率和效率。其512站点并行测试能力,更可满足手机芯片大规模量产需求,***降低测试成本。更重要的是,国磊GT600采用开放式GTFY系统,支持C++自主编程,工程师可深度定制测试流程,无缝对接内部研发与生产体系,实现从实验室到工厂的快速转化。在外部供应链受限的背景下,国磊GT600作为国产**测试设备,可以为国产手机芯片的持续迭代与稳定量产,提供坚实、安全、可控的底层保障。国磊GT600SoC测试机可以进行低功耗专项测试流程DVFS验证即自动扫描电压与频率组合,评估能效比。广州SIR测试系统价格

国磊半导体GM8800导电阳极丝(CAF)测试系统是国产**测试仪器实现创新突破的**产品。该系统以其可扩展至256通道的强大并行处理能力、高达10^14Ω的超宽电阻测量范围和优异的精度(±3%~±10%),为绝缘材料的可靠性评估设立了新的**。GM8800提供精确且稳定的电压应力源,内置0V~±100V,外接高达3000V,电压输出精度高,调节步进小,建立速度快,并可自定义1~600秒的测试电压稳定时间,确保各种测试条件都能被精确复现。系统具备***的实时监测功能,同步采集电阻、电流、电压、温度、湿度数据,并通过专业软件进行高效管理与深度分析,用户还可通过网络实现远程操作与实时监控。其坚固的硬件平台辅以多层次的安全保护设计,包括多种故障报警和断电续航能力,保障系统能够稳定运行长达9999小时的持续测试任务。与传统的进口设备如英国GEN3相比,GM8800在提供同等前列测量性能的同时,在采购成本、使用灵活性、维护便利性以及技术服务响应速度上展现出***优势,正广泛应用于国内PCB制造、IC封装、汽车电子、航空航天等领域,成为客户提升产品质量、进行可靠性验证和实现进口替代的**装备。国磊GEN测试系统研发国磊半导体致力于为全球客户提供高性能的测试解决方案。

面对国产手机芯片动辄数千万乃至上亿颗的年出货量,传统“单颗或小批量测试”模式早已无法满足产能与成本需求。国磊GT600凭借512站点并行测试能力,开创“集体考试”新模式——512颗芯片同步上电、同步输入测试向量、同步采集响应、同步判定Pass/Fail,测试效率呈指数级提升。这不仅将单位时间产出提高数十倍,更大幅缩短新品从试产到大规模铺货的周期,抢占市场先机。更重要的是,测试成本(CostofTest)是芯片总成本的重要组成部分。据半导体行业经验数据,同测数(ParallelTestSites)每翻一倍,单颗芯片测试成本可下降30%~40%。国磊GT600的512站点能力,相较传统32或64站点设备,成本降幅可达70%以上,为国产手机SoC在激烈市场竞争中赢得价格优势。国磊GT600以“高速(400MHz)+高密度(512通道)+高并行(512Sites)”三位一体架构,构建起支撑国产**芯片量产的“超级测试流水线”,可以让中国芯不仅“造得出”,更能“测得快、卖得起、用得稳”。
面对AI眼镜出货量激增(IDC预计2025年全球达1280万副),量产测试效率成为关键瓶颈。国磊GT600测试机支持**512Sites并行测试,**提升测试吞吐量,降低单颗SoC测试成本,满足高量产型号的产能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等标准数据格式导出,便于测试数据与MES系统对接,实现良率追踪与SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探针台与分选机,构建全自动CP/FT测试流程,提升测试一致性与可靠性。对于集成了AI加速单元的MCU类SoC,国磊GT600测试机可同时验证其神经网络推理功能与低功耗行为,确保端侧AI性能与续航的双重达标。国磊GT600可用于测量电源上电时序(PowerSequencing),确保多域电源按正确顺序激发,避免闩锁效应。

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800多通道绝缘电阻导电阳极丝测试系统是国产**测试装备迈向国际先进水平的重要标志。该系统凭借其可扩展的256通道架构、高达10^14Ω的电阻检测上限以及优异的测量精度,能够***满足IPC、JEDEC等国际标准对CAF测试的严苛要求。GM8800提供从1V到3000V的宽范围可编程偏置电压,内置电源精度优于±0.05V@100VDC,电压上升速度快,并允许用户自定义1~600分钟的测试间隔和1~9999小时的测试持续时间,完美适配各种加速寿命测试方案。系统集成多参数同步采集功能,实时监测电阻、电流、电压、温度、湿度等关键数据,并通过完全屏蔽的线缆传输以确保信号质量,其强大的数据分析软件支持历史数据回溯、趋势图表生成及测试报告导出。在安全可靠性方面,GM8800设计了多层次报警保护系统和UPS断电续航选项,应对各种意外情况。相较于英国进口的GEN3系统,GM8800不仅在技术性能上实现***对标,更在设备成本、售后技术支持、软件界面本地化和功能定制方面展现出强大的竞争力,正助力国内集成电路制造、**PCB加工、汽车电子、航空航天等关键领域客户降低对进口设备的依赖,实现供应链的安全与自主可控。**适用于PCB、电子组件绝缘性能评估与品质管控。国产PCB测试系统生产厂家
快速的数据采集速度,8秒内完成256通道扫描+数据分析!广州SIR测试系统价格
杭州国磊半导体设备有限公司推出的GM8800CAF测试系统,是国产设备在PCB可靠性测试领域挑战并超越国际品牌的力证。该系统具备超高的256通道测试容量,电阻测量范围横跨10^4~10^14Ω,精度可靠,能够高效、精细地评估PCB、基板、封装体、绝缘材料等在高温高湿和直流电场下的绝缘可靠性,精确捕捉离子迁移导致的失效。GM8800提供从1.0V到3000V的宽范围偏置电压选择,内置精密电源精度达±0.05V(100VDC内),外接高压稳定,电压上升速率快,并允许用户自定义测试电压的稳定时间(1~600秒),以满足不同标准的预处理要求。系统集成高精度电流检测(0.1μA~500μA)和温湿度传感器,数据采集***,并通过完全屏蔽的低噪声测量线缆保障信号质量。配套软件功能强大,提供自动化测试流程、实时数据可视化、趋势分析、报警管理和报告生成,并支持远程访问。在系统保护方面,具备***的硬件与软件报警机制和断电续航选项。与英国进口GEN3系统相比,GM8800在**功能与性能上实现***对标,更在通道数量、购置成本、维护费用以及定制化服务响应速度上占据明显优势,正成为国内**制造业替代进口、实现自主可控的优先测试平台。广州SIR测试系统价格
在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆盖当前主流AI芯片、高性能计算SoC及车规级芯片的验证需求。其模块化架构不仅提升了测试灵活性,还***降低了客户部署成本。更重要的是,GT600实现了从硬件到软件的全栈自主可控,有效规避了“卡脖子”风险。在中美科技竞争加剧、国产芯片加速落地的大环境下,GT600不仅是一台测试设备,更是保障中国半导体产业链安全的战略支点,为国内设计公司提供了可信赖、高效率、低成本的本土化验证平台。国磊GT600凭高...