国磊半导体GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为苛刻的可靠性测试环境而设计的精密仪器。该系统以16通道为模块,可灵活堆叠至256通道,实现大规模、高效率的绝缘电阻监测,其测量范围宽广(10^4~10^14Ω),精度在不同阻值区间均得到严格控制,能够满足从普通电子元件到特种绝缘材料的高阻测试需求。GM8800提供精确且稳定的电压激励源,内置0V~±100V,外接高达3000V,电压输出精度高,步进调节细腻,并具备快速的电压建立能力,确保测试应力施加的准确性和一致性。系统支持用户自定义测试间隔(1~600分钟)和总测试时间(1~9999小时),并集成实时环境监测与多维度安全报警功能(包括低阻、测试中断、温湿度异常、电压超限、AC电源故障、软件异常等),可选配UPS提供断电保护。其智能软件系统集控制、采集、分析、远程监控于一体,操作直观,功能***。相较于传统的进口设备如英国GEN3,GM8800在提供同等前列测量性能的同时,***降低了设备的综合拥有成本,并且凭借本地化的研发与支持团队,能够提供更快速、更贴近用户实际应用需求的技术服务与解决方案,广泛应用于新能源汽车、光伏储能、通信设备、航空航天等领域的绝缘可靠性验证与质量保证活动。国磊GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠或关断模式下的静态漏电流。国磊CAF测试系统研发

现代手机SoC是高度集成的“微型超级计算机”,一颗芯片内融合了CPU(**处理器)、GPU(图形处理器)、NPU(神经网络引擎)、ISP(图像信号处理器)、基带(5G/4G通信模块)、内存控制器、电源管理单元等数十个功能模块,协同完成从AI计算、高清拍照到高速联网的复杂任务。这对测试设备提出了“全能型”要求。国磊GT600凭借512个高速数字通道,可并行激励与捕获CPU/GPU的逻辑响应,验证运算正确性;通过可选配AWG(任意波形发生器)板卡,可生成高保真模拟图像信号,精细测试ISP对色彩、噪声、动态范围的处理能力;再结合高精度TMU(时间测量单元,分辨率10ps),可精确捕捉基带芯片收发信号的时间抖动与延迟,确保5G通信的稳定性和低时延。16个通用插槽支持灵活配置,让国磊GT600能像“变形金刚”一样,针对不同模块组合比较好测试方案,真正实现“一机通测”,***保障国产**SoC的功能完整性与性能可靠性。高性能PCB测试系统生产厂家国磊GT600SoC测试机作为一款通用型高jiATE,其设计目标是支持广类型的复杂SoC芯片的测试验证。

杭州国磊半导体设备有限公司自主研发推出CAF测试系统GM8800。系统集成±100V内置电源与3000V外置高压模块,采用三段式步进电压技术:0-100V区间0.01V微调、100-500V步进0.1V、500-3000V步进1V。电压精度达±0.05V(1-100VDC),结合100V/2ms超快上升速度,精细模拟电动汽车电控浪涌冲击。1MΩ保护电阻与1-600秒可编程稳定时间,有效消除容性负载误差。测试范围覆盖10⁴-10¹⁴Ω,其中10¹⁴Ω极限测量精度±10%,为SiC功率模块提供实验室级绝缘验证方案。
随着智能手机进入AI时代,SoC的竞争已从单一CPU性能转向“CPU+GPU+NPU”三位一体的综合算力比拼。Counterpoint数据显示,天玑9000系列凭借在AI能力上的前瞻布局,2024年出货量同比增长60%,预计2025年将再翻一番。这一成就的背后,不**是架构设计的**,更是对NPU(神经网络处理单元)和AI工作负载深度优化的结果。而这类高度集成的AISoC,对测试设备提出了前所未有的挑战:高引脚数、多电源域、复杂时序、低功耗模式、混合信号模块等,均需在量产前完成**验证。国磊GT600测试机正是为此类**手机SoC量身打造的测试平台,具备从功能到参数、从数字到模拟的全栈测试能力。从实验室验证到量产测试,我们提供全流程支持。

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为应对复杂电化学迁移现象而研制的高精度分析仪器。该系统以16通道为基本单元,可灵活扩展至256通道,实现大规模并行测试,***提升测试效率,其电阻测量范围宽至10^4~10^14Ω,测量精度根据区间不同控制在±3%至±10%的高水准。GM8800支持0V~±100V内置精密电压源与1V~3000V外置偏置电压的无缝切换,步进电压可精细至0.01V,并具备100V/2ms的快速电压爬升能力,能够精确模拟各种实际工作电压应力,有效加速绝缘材料的劣化过程以便于观察CAF效应。系统数据采集功能***,实时记录采样时间、运行时间、电阻值、电流值、施加电压、环境温度与湿度,并通过功能强大的软件平台进行数据处理与趋势分析,用户还可通过远程监控功能实时掌握测试状态。相比进口品牌如英国GEN3,GM8800在提供同等甚至更优测试性能的同时,凭借其更低的购置成本、更快的售后响应速度以及深度定制化能力,完美契合国内PCB板厂、半导体封装厂、学术研究机构及第三方检测实验室对高性能、高性价比CAF测试设备的迫切需求,是国产**测试装备实现进口替代的典范之作。GM8800高阻测试系统可长时间稳定运行1-9999小时。高性能CAF测试设备生产厂家
国磊GT600SoC测试机可以进行低功耗专项测试流程DVFS验证即自动扫描电压与频率组合,评估能效比。国磊CAF测试系统研发
GM8800不仅提供高效率测试,还设计了六重实时报警机制构筑多方位防护网:1、电气安全方面:低阻(<10⁴Ω)、偏压超限(>3000V)、AC断电。2、环境监控能力:温湿度超限(>40℃或>75%RH)、结露风险预警。3、系统保障措施:软件死机自动备份+UPS续航30分钟。硬件层面采用全屏蔽线缆(3.5米标配,分布电容<5pF/m),通过1MΩ串联保护电阻与<10ms快速放电回路,确保3000V测试无风险。在汽车高压线束产线应用中,成功拦截97.3%的绝缘层微缺陷(≥0.1mm),年避免召回损失超2000万元。国磊CAF测试系统研发
在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆盖当前主流AI芯片、高性能计算SoC及车规级芯片的验证需求。其模块化架构不仅提升了测试灵活性,还***降低了客户部署成本。更重要的是,GT600实现了从硬件到软件的全栈自主可控,有效规避了“卡脖子”风险。在中美科技竞争加剧、国产芯片加速落地的大环境下,GT600不仅是一台测试设备,更是保障中国半导体产业链安全的战略支点,为国内设计公司提供了可信赖、高效率、低成本的本土化验证平台。国磊GT600凭高...