aoi 光源

AOI 在芯片封装环节的二次检测中，扮演着 “品质守门人” 的角色。爱为视芯片封装后 AOI 设备针对芯片封装后的外观缺陷（如封装体凹陷、标记模糊、引脚氧化）、尺寸偏差（如封装高度、引脚间距）、内部缺陷（如键合线断裂、芯片偏移），采用 X 射线成像与光学成像结合的技术，既能检测表面缺陷，又能穿透封装体识别内部问题。设备支持多种封装形式（如 DIP、SOP、BGA、LGA），检测速度达 300 颗 / 小时，且具备缺陷分级功能（如致命缺陷、主要缺陷、次要缺陷），帮助芯片封装企业严格把控出厂品质，避免不良芯片流入市场对下游产品造成影响。​AOI检测设备支持离线编程，不影响生产线运行。aoi 光源

AOI 在光伏电池片串焊后的检测中，有效解决了串焊过程中易出现的焊带偏移、虚焊等问题。爱为视光伏电池片串焊后 AOI 设备采用线阵相机与红外热成像技术结合的方式，既能通过光学成像检测焊带偏移（精度 ±0.2mm）、露铜、焊带褶皱等外观缺陷，又能通过红外热成像检测虚焊（虚焊点温度与正常焊点差异可识别），避免因虚焊导致的组件发电效率下降。设备检测速度达 120 片 / 小时（166mm 尺寸电池片），且支持与串焊机联动，实现 “串焊 - 检测” 无缝衔接，帮助光伏组件厂商提升串焊质量，减少后期组件返工成本。​在线AOI原理AOI视觉检测适用于汽车电子、消费电子等多领域。

AOI 在动力电池模组组装中的应用，重点保障模组的结构安全性与电性能稳定为视动力电池模组 AOI 方案针对模组的电芯排列、焊接点质量、线束连接、外壳装配等环节，能检测电芯间距偏差（精度 ±0.1mm）、焊接点虚焊 / 过焊、线束插头松动、外壳变形等缺陷，通过 3D 视觉技术测量焊接点高度与体积，确保焊接强度符合标准。设备支持与动力电池模组的电压、内阻检测设备联动，实现 “结构检测 + 电性能检测” 同步进行，检测速度适配 20 秒 / 模组的生产线节拍，帮助动力电池企业提升模组组装质量，保障新能源汽车的电池安全。​

AOI 在锂电池电芯封装后的检测中，有效避免了电芯封装不良导致的安全隐患。爱为视锂电池电芯封装 AOI 方案针对电芯的铝塑膜封装边缘（如封装褶皱、漏封、胶层溢出）、极耳焊接质量（如虚焊、极耳变形）、电芯外观（如鼓包、划痕）进行检测，采用红外成像技术检测封装边缘的胶层厚度，精度达 ±0.01mm，同时通过光学成像检测外观缺陷。设备支持圆柱形、方形、软包等不同形态电芯的检测，检测速度达 120 个 / 小时，且具备鼓包压力检测功能（可检测电芯内部压力是否异常），帮助锂电池厂商提升电芯封装质量，减少因封装不良导致的电芯漏液、起火等安全事故。AOI检测技术不断升级，满足更高精度的电子制造要求。

爱为视AOI支持前后信号对接，进出方向可选，可与贴片机、回流焊炉、SPI等设备无缝串联，形成全自动检测闭环。在典型SMT产线中，AOI部署于回流焊炉后，可实时接收SPI设备前序数据，结合焊后检测结果进行工艺对比分析，为优化焊膏印刷与回流焊温度曲线提供依据。设备可选单段、多段式轨道设计，能灵活搭配不同产线布局，无论是小型紧凑车间还是大型自动化产线，都能平稳集成。某电子制造企业通过产线集成后，实现检测流程全自动，减少人工搬运与干预，降低人为错误风险，产能提升30%。AOI光学检测系统持续优化算法，提升复杂缺陷识别能力。广州新一代AOI检测仪

AOI设备支持远程诊断，快速响应售后维护需求。aoi 光源

AOI 在半导体封装测试环节中，是保障芯片品质的关键技术手段。爱为视半导体 AOI 检测设备针对芯片封装后的引脚变形、封装体裂纹、标记错印、胶体溢料等缺陷，采用多光谱成像技术与深度学习模型，能在 0.5 秒内完成单颗芯片的检测，且可兼容 QFP、BGA、CSP 等多种封装形式。设备内置的缺陷分类系统，能自动统计各类缺陷占比，生成可视化质检报告，帮助半导体企业快速定位生产问题根源，优化封装工艺参数。此外，该设备支持与 MES 系统对接，实现检测数据的实时上传与追溯，满足半导体行业对生产过程可追溯性的严格标准。​aoi 光源