晶圆切割是半导体封装的中心环节，传统刀片切割通过金刚石砂轮实现材料分离。中清航科研发的超薄刀片（厚度15-20μm）结合主动冷却系统，将切割道宽度压缩至30μm以内，崩边控制在5μm以下。我们的高刚性主轴技术可适配8/12英寸晶圆，切割速度提升40%，为LED、MEMS器件提供经济高效的解决方案。针对超薄晶圆（<50μm）易碎裂难题，中清航科激光隐形切割系统采用红外脉冲激光在晶圆内部形成改性层，通过扩张膜实现无应力分离。该技术消除机械切割导致的微裂纹，良率提升至99.3%，尤其适用于存储芯片、CIS等器件，助力客户降低材料损耗成本。第三代半导体切割中清航科提供全套解决方案，良率95%+。盐城砷化镓晶圆切割测试
GaN材料硬度高且易产生解理裂纹。中清航科创新水导激光切割（WaterJetGuidedLaser），利用高压水柱约束激光束，冷却与冲刷同步完成。崩边尺寸<8μm，热影响区只2μm，满足射频器件高Q值要求。设备振动导致切割线宽波动。中清航科应用主动磁悬浮阻尼系统，通过6轴加速度传感器实时生成反向抵消力，将振幅压制在50nm以内。尤其适用于超窄切割道（<20μm）的高精度需求。光学器件晶圆需避免边缘微裂纹影响透光率。中清航科紫外皮秒激光系统（波长355nm）配合光束整形模块，实现吸收率>90%的冷加工，切割面粗糙度Ra<0.05μm，突破摄像头模组良率瓶颈。温州晶圆切割划片切割道宽度测量仪中清航科研发，在线检测精度达0.05μm。
晶圆切割的主要目标之一是从每片晶圆中获得高产量的、功能完整且无损的芯片。产量是半导体制造中的一个关键性能指标，因为它直接影响电子器件生产的成本和效率。更高的产量意味着每个芯片的成本更造能力更大，制造商更能满足不断增长的电子器件需求。晶圆切割直接影响到包含这些分离芯片的电子器件的整体性能。切割过程的精度和准确性需要确保每个芯片按照设计规格分离，尺寸和对准的变化小。这种精度对于在终设备中实现比较好电气性能、热管理和机械稳定性至关重要。
面向磁传感器制造，中清航科开发超导磁悬浮切割台。晶圆在强磁场（0.5T）下悬浮，消除机械接触应力，切割后磁畴结构畸变率<0.3%，灵敏度波动控制在±0.5%。中清航科电化学回收装置从切割废水中提取金/铜/锡等金属，纯度达99.95%。单条产线年回收贵金属价值超$80万，回收水符合SEMIF78标准，实现零废液排放。针对HJT电池脆弱电极层，中清航科采用热激光控制技术（LCT）。红外激光精确加热切割区至200℃，降低材料脆性，电池效率损失<0.1%，碎片率控制在0.2%以内。切割粉尘在线监测中清航科传感器精度达0.01μm颗粒物检测。
在晶圆切割设备的自动化升级浪潮中，中清航科走在行业前列。其新推出的智能切割单元，可与前端光刻设备、后端封装设备实现无缝对接，通过SECS/GEM协议完成数据交互，实现半导体生产全流程的自动化闭环。该单元还具备自我诊断功能，能提前预警潜在故障，将非计划停机时间减少60%，为大规模生产提供坚实保障。对于小尺寸晶圆的切割，传统设备往往面临定位难、效率低的问题。中清航科专门设计了针对2-6英寸小晶圆的切割工作站，采用多工位旋转工作台，可同时处理8片小晶圆，切割效率较单工位设备提升4倍。配合特制的弹性吸盘，能有效避免小晶圆吸附时的损伤，特别适合MEMS传感器、射频芯片等小批量高精度产品的生产。中清航科推出晶圆切割应力补偿算法，翘曲晶圆良率提升至98.5%。舟山砷化镓晶圆切割划片厂
中清航科推出晶圆切割应力模拟软件，提前预判崩边风险。盐城砷化镓晶圆切割测试
在晶圆切割的质量检测方面，中清航科引入了三维形貌检测技术。通过高分辨率confocal显微镜对切割面进行三维扫描，生成精确的表面粗糙度与轮廓数据，粗糙度测量精度可达0.1nm，为工艺优化提供量化依据。该检测结果可直接与客户的质量系统对接，实现数据的无缝流转。针对晶圆切割过程中的热变形问题，中清航科开发了恒温控制切割舱。通过高精度温度传感器与PID温控系统，将切割舱内的温度波动控制在±0.1℃以内，同时采用热误差补偿算法，实时修正温度变化引起的机械变形，确保在不同环境温度下的切割精度稳定一致。盐城砷化镓晶圆切割测试
