半导体制造对洁净度要求严苛，晶圆切割环节的微尘污染可能导致芯片失效。中清航科的切割设备采用全封闭防尘结构与高效HEPA过滤系统，工作区域洁净度达到Class1标准，同时配备激光诱导等离子体除尘装置，实时清理切割产生的微米级颗粒，使产品不良率降低至0.1%以下。在成本控制成为半导体企业核心竞争力的现在，中清航科通过技术创新实现切割耗材的大幅节约。其自主研发的金刚石切割刀片，使用寿命较行业平均水平延长50%，且通过刀片磨损实时监测与自动补偿技术，减少频繁更换带来的停机损失，帮助客户降低20%的耗材成本，在激烈的市场竞争中构筑成本优势。切割刀痕深度控制中清航科技术达±0.2μm，减少后续研磨量。镇江碳化硅晶圆切割蓝膜
晶圆切割过程中产生的应力可能导致芯片可靠性下降，中清航科通过有限元分析软件模拟切割应力分布，优化激光扫描路径与能量输出模式，使切割后的晶圆残余应力降低40%。经第三方检测机构验证，采用该工艺的芯片在温度循环测试中表现优异，可靠性提升25%，特别适用于航天航空等应用领域。为帮助客户快速掌握先进切割技术，中清航科建立了完善的培训体系。其位于总部的实训基地配备全套切割设备与教学系统，可为客户提供理论培训、实操演练与工艺调试指导，培训内容涵盖设备操作、日常维护、工艺优化等方面，确保客户团队能在短时间内实现设备的高效运转。镇江sic晶圆切割测试中清航科切割道检测仪实时反馈数据，动态调整切割参数。
为提升芯片产出量，中清航科通过刀片动态平衡控制+激光辅助定位，将切割道宽度从50μm压缩至15μm。导槽设计减少材料浪费，使12英寸晶圆有效芯片数增加18%，明显降低单颗芯片制造成本。切割产生的亚微米级粉尘是电路短路的元凶。中清航科集成静电吸附除尘装置，在切割点10mm范围内形成负压场，配合离子风刀清理残留颗粒，洁净度达Class1标准（>0.3μm颗粒<1个/立方英尺）。中清航科设备内置AOI（自动光学检测）模块，采用多光谱成像技术实时识别崩边、微裂纹等缺陷。AI算法在0.5秒内完成芯片级判定，不良品自动标记，避免后续封装资源浪费，每年可为客户节省品质成本超百万。
半导体晶圆是一种薄而平的半导体材料圆片，组成通常为硅，主要用于制造集成电路（IC）和其他电子器件的基板。晶圆是构建单个电子组件和电路的基础，各种材料和图案层在晶圆上逐层堆叠形成。由于优异的电子特性，硅成为了常用的半导体晶圆材料。根据掺杂物的添加，硅可以作为良好的绝缘体或导体。此外，硅的储量也十分丰富，上述这些特性都使其成为半导体行业的成本效益选择。其他材料如锗、氮化镓（GaN）、砷化镓（GaAs）和碳化硅（SiC）也具有一定的适用场景，但它们的市场份额远小于硅。复合材料晶圆切割选中清航科多工艺集成设备，兼容激光与刀片。
针对晶圆切割过程中的静电防护问题，中清航科的设备采用全流程防静电设计。从晶圆上料的导电吸盘到切割区域的离子风扇，再到下料区的防静电输送轨道，形成完整的静电防护体系，将设备表面静电电压控制在50V以下，有效避免静电对敏感芯片造成的潜在损伤。中清航科的晶圆切割设备具备强大的数据分析能力，内置数据挖掘模块可对历史切割数据进行深度分析，识别影响切割质量的关键因素，如环境温度波动、晶圆批次差异等，并自动生成工艺优化建议。通过持续的数据积累与分析，帮助客户不断提升切割工艺水平，实现持续改进。中清航科切割实验室开放合作，已助力30家企业工艺升级。镇江sic晶圆切割
针对碳化硅晶圆，中清航科激光改质切割技术突破硬度限制。镇江碳化硅晶圆切割蓝膜
中清航科创新性推出“激光预划+机械精切”复合方案：先以激光在晶圆表面形成引导槽，再用超薄刀片完成切割。此工艺结合激光精度与刀切效率，解决化合物半导体（如GaAs、SiC）的脆性开裂问题，加工成本较纯激光方案降低35%。大尺寸晶圆切割面临翘曲变形、应力集中等痛点。中清航科全自动切割机配备多轴联动补偿系统，通过实时监测晶圆形变动态调整切割参数。搭配吸附托盘，将12英寸晶圆平整度误差控制在±2μm内，支持3DNAND多层堆叠结构加工。镇江碳化硅晶圆切割蓝膜
