东莞新一代AOI光学检测

AOI 在半导体晶圆检测中的应用，为晶圆制造的早期缺陷识别提供了关键支持。爱为视半导体晶圆 AOI 设备针对晶圆表面的划痕、颗粒污染、氧化层缺陷、图形偏差等问题，采用深紫外光源（DUV）与高数值孔径镜头，能穿透晶圆表面氧化层，识别微小的内部缺陷，检测精度达 1nm 级别。设备支持 8 英寸、12 英寸晶圆的检测，检测速度达 2 片 / 小时，且具备自动晶圆定位功能，可识别晶圆的缺口与定位点，帮助半导体晶圆厂在制造早期发现缺陷，减少后续封装环节的成本浪费，提升晶圆的整体良率。​AOI系统助力PCB板批量检测，减少人工漏检误判问题。东莞新一代AOI光学检测

AOI 在连接器制造中的应用，有效解决了连接器引脚多、间距小导致的检测难题。爱为视连接器 AOI 设备采用微距成像技术与图像分割算法，能识别连接器引脚的变形（如弯曲、倾斜）、镀层缺陷（如露铜、氧化）、插针缺失、外壳裂痕等缺陷，支持小引脚间距 0.2mm 的连接器检测。设备可根据连接器类型（如 USB 连接器、Type-C 连接器、汽车连接器）定制检测程序，检测速度达 100 件 / 分钟，且具备引脚尺寸测量功能（如长度、直径），帮助连接器企业满足下游电子设备对连接器插拔可靠性的要求，减少因连接器缺陷导致的设备故障。​chie aoiAOI系统与MES系统对接，实现生产与检测数据同步管理。

AOI 在 FPC 柔性电路板弯折测试后的检测中，针对性解决了弯折后线路隐性缺陷的检测难题。爱为视 FPC 弯折后 AOI 设备采用高频振动检测与光学成像结合的技术，先通过模拟实际使用场景的弯折测试（可设定弯折角度、次数），再通过高分辨率相机捕捉弯折后线路的隐性裂纹、焊盘脱落等缺陷，检测精度达 0.01mm。设备支持记录每一次弯折测试的参数与检测结果，生成弯折寿命分析报告，帮助 FPC 厂商评估产品的弯折可靠性，优化 FPC 的材料选择与结构设计，满足折叠屏手机、可穿戴设备等对 FPC 弯折性能的高要求。​

AOI 在光伏电池片串焊后的检测中，有效解决了串焊过程中易出现的焊带偏移、虚焊等问题。爱为视光伏电池片串焊后 AOI 设备采用线阵相机与红外热成像技术结合的方式，既能通过光学成像检测焊带偏移（精度 ±0.2mm）、露铜、焊带褶皱等外观缺陷，又能通过红外热成像检测虚焊（虚焊点温度与正常焊点差异可识别），避免因虚焊导致的组件发电效率下降。设备检测速度达 120 片 / 小时（166mm 尺寸电池片），且支持与串焊机联动，实现 “串焊 - 检测” 无缝衔接，帮助光伏组件厂商提升串焊质量，减少后期组件返工成本。​AOI设备占地面积小，适合各类厂房布局安装。

爱为视3D智能AOI凭借AI极速编程技术，实现极简操作，操作人员20分钟即可上手，大幅降低培训成本。其友好的人机交互界面设计人性化，支持智能辅助编程，只需打开系统、新建模板、自动建模、启动识别四个简单步骤，即可完成检测设置。在多机种共线生产场景中，可支持4种机种共线生产，程序自动调用，无需人工切换，提升生产灵活性。此外，设备数据可追溯，强大的SPC统计分析功能能提供多维度图表，帮助企业快速了解品质与效率状况，适用于各类电子制造产线的柔性生产需求。AOI检测数据实时上传，助力生产管理智能化。江西自动AOI原理

AOI软件支持数据追溯，便于生产质量问题分析改进。东莞新一代AOI光学检测

AOI 在芯片封装环节的二次检测中，扮演着 “品质守门人” 的角色。爱为视芯片封装后 AOI 设备针对芯片封装后的外观缺陷（如封装体凹陷、标记模糊、引脚氧化）、尺寸偏差（如封装高度、引脚间距）、内部缺陷（如键合线断裂、芯片偏移），采用 X 射线成像与光学成像结合的技术，既能检测表面缺陷，又能穿透封装体识别内部问题。设备支持多种封装形式（如 DIP、SOP、BGA、LGA），检测速度达 300 颗 / 小时，且具备缺陷分级功能（如致命缺陷、主要缺陷、次要缺陷），帮助芯片封装企业严格把控出厂品质，避免不良芯片流入市场对下游产品造成影响。​东莞新一代AOI光学检测