HBM的集成不****是带宽提升,更带来了复杂的混合信号测试挑战。SoC与HBM之间的信号完整性、电源噪声、时序对齐(Skew)等问题,直接影响芯片性能与稳定性。国磊GT600测试机凭借其模块化设计,支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模拟板卡,实现“数字+模拟”一体化测试。例如,通过GT-TMUHA04(10ps分辨率)精确测量HBM接口时序偏差,利用GT-AWGLP02(-122dBTHD)生成纯净激励信号,**验证高速SerDes性能。GT600将复杂问题系统化解决,为HBM集成芯片提供从DC参数到高频信号的**测试保障,确保每一颗芯片都经得起AI时代的严苛考验。国磊GT600测试机可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工艺节点的电源门控测试。绍兴CAF测试系统市场价格

现代手机SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模拟模块,用于传感器融合、音频处理和电源管理。GT600支持GT-AWGLP02(THD-122dB)和高分辨率Digitizer板卡,可用于AI驱动的语音识别、图像信号处理链路的动态性能测试。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等关键指标的精确测量,确保端侧AI感知系统的信号完整性。国磊GT600测试机的16插槽模块化架构允许数字、AWG、TMU、SMU板卡混插,实现从CPU到NPU再到模拟前端的一站式测试,避免多设备切换带来的效率损失与数据割裂。
湘潭PCB测试系统厂家供应国磊GT600数字通道边沿精度100ps,确保模拟IC控制信号(如Enable、Reset)的建立与保持时间精确验证。

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800是专为绝缘材料可靠性评估而设计的旗舰型导电阳极丝(CAF)测试系统。该系统以其超高的通道密度(比较高256通道)和极宽的电阻测量范围(10^4~10^14Ω)著称,能够同时对大量测试样本进行长期加电测试,高效统计其绝缘失效时间和电阻退化规律,满足大批量、高精度测试需求。GM8800提供精确可控的电压应力,内置0V~±100V电源,外接偏置电压可达3000V,电压输出精度高,步进调节细腻,并具备快速的电压建立能力,可精确模拟各种应用场景下的电场环境。系统测试参数设置灵活,测试间隔、稳定时间、总持续时间均可按需设定,并集成***的环境监测与安全保护功能,包括温湿度监控、多种故障报警和断电保护,确保测试过程的可靠与数据的安全。其智能软件平台不仅实现自动化测试控制与数据采集,还提供强大的数据分析工具和远程访问功能。与价格昂贵的英国GEN3设备相比,GM8800在**测试性能上并驾齐驱,而在系统扩展能力、购买成本、运营维护成本以及本地化服务支持方面具有***优势,已成为国内众多行业领导企业在产品研发、质量控制和可靠性验证环节提升竞争力的重要工具,是实现供应链自主可控的关键一环。
GT600每通道集成PPMU,具备nA级电流分辨率。在电源门控测试中,将PPMU连接至被门控模块的电源引脚(VDD)或地引脚(VSS),在门控信号(PG_EN)关闭后,测量该模块的静态电流(IDDQ)。若电流**高于设计预期(如>1μA),则表明存在异常漏电,可能由工艺缺陷或电源开关未完全关断导致。GT600支持多路**SMU/PPMU,可同时监测主电源域与被门控电源域的电流。测试时,保持主逻辑供电,关闭目标模块的电源门控信号,通过对比门控前后该域电流的变化,精确提取**由门控网络控制的漏电成分,排除其他模块干扰。GT600支持电压扫描(VoltageSweeping)和温控联动(通过探针台接口),可在高温(如125°C)和高电压条件下进行测试,放大漏电效应,提升缺陷检出率。例如,在VDD=1.2V、125°C下测量关断电流,可暴露常温下难以发现的微小漏电。通过GTFY软件系统编写C++脚本,可自动化执行:施加正常工作电压;发送指令进入低功耗模式并触发电源门控;延时稳定(如10ms);启动PPMU进行电流采样;重复多次以验证一致性。该流程确保测试可重复,并能捕捉间歇性漏电。国磊GT600SoC测试机支持GT-AWGLP02任意波形发生器板卡,THD达-122dB,适用于HBMSerDes接收端灵敏度测试。

“风华3号”作为全球**支持DICOM高精度灰阶医疗显示的GPU,对模拟输出精度、色彩一致性与时序稳定性要求极为严苛。国磊GT600测试机支持可选配GT-AWGLP02任意波形发生器(THD-122dB,SNR110dB)与高分辨率Digitizer板卡,可用于验证GPU模拟视频输出链路的信号完整性与动态性能。其20/24bit分辨率支持对ADC/DAC、PLL、LVDS接口等关键模块的INL、DNL、Jitter等参数进行精确测量,确保医疗显示场景下的灰阶过渡平滑与色彩还原准确。国磊GT600测试机的模块化16插槽架构支持数字、AWG、TMU、SMU板卡混插,实现从GPU**到显示输出的端到端测试闭环。监测参数齐全,包括电阻、电流、电压、温湿度等,一目了然。无锡CAF测试系统哪家好
国磊GT600可选配高精度SMU板卡,实现nA级电流测量分辨率,适用低功耗LDO、DC-DC电源管理芯片静态电流测试。绍兴CAF测试系统市场价格
GM8800CAF测试系统支持1-9999小时持续测试(约416天),搭载三级UPS断电保护(30/60/120分钟可选)。在-55℃~125℃极端温度循环中,系统维持10¹³-10¹⁴Ω区间±8%测量精度。256通道同步监测能力可捕捉<15ms的微秒级短路脉冲,配合时间戳(采样/运行/总时长三维记录),完整还原卫星载荷PCB的CAF失效轨迹。行业认证测试表明:在75%RH高湿环境下,系统对离子迁移行为的预警准确率达99.2%,已经达到国际先进水平,技术上实现国产替代。绍兴CAF测试系统市场价格
在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆盖当前主流AI芯片、高性能计算SoC及车规级芯片的验证需求。其模块化架构不仅提升了测试灵活性,还***降低了客户部署成本。更重要的是,GT600实现了从硬件到软件的全栈自主可控,有效规避了“卡脖子”风险。在中美科技竞争加剧、国产芯片加速落地的大环境下,GT600不仅是一台测试设备,更是保障中国半导体产业链安全的战略支点,为国内设计公司提供了可信赖、高效率、低成本的本土化验证平台。国磊GT600凭高...