SIR测试系统研发

AI眼镜作为下一代智能终端，集成了**头、语音交互、AR显示与边缘AI计算功能，其**是一颗高集成度的SoC芯片。这颗芯片需在极低功耗下运行大模型推理、图像处理与传感器融合，对性能与可靠性提出***要求。国磊GT600等SoC测试机正是确保这类芯片“万无一失”的关键。首先，AI眼镜的SoC包含CPU、NPU、ISP、蓝牙/WiFi基带等多种模块，属于典型混合信号芯片。国磊GT600凭借可选配的AWG和TMU，能同时验证数字逻辑与模拟电路，确保摄像头图像清晰、无线连接稳定、语音响应及时。其次，AI眼镜依赖电池供电，功耗控制极为敏感。国磊GT600的PPMU可精确检测芯片的静态漏电流（Iddq）和动态功耗，筛选出“省电体质”的芯片，直接决定眼镜的续航能力。再者，AI眼镜需7x24小时佩戴使用，可靠性至关重要。国磊GT600通过高温老化测试、高速功能验证，提前发现潜在缺陷，避免用户端出现死机、发热等问题。AI眼镜量产规模大，成本敏感。国磊GT600支持512站点并行测试，大幅提升效率，降低单颗芯片测试成本，助力产品上市。可以说，国磊GT600不仅可以做AI眼镜SoC的“体检官”，更能做其性能、续航与可靠性的“守门人”。在轻巧镜架之下，正是这样严苛的测试，让“智能随行”真正成为可能。 国磊GT600GPIB/TTL接口支持与外部源表、LCR表、温控台联动，构建高精度模拟参数测试系统。SIR测试系统研发

作为杭州国磊半导体设备有限公司的**产品之一，GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统专为评估PCB、绝缘基材、封装树脂及导电胶等在电场和湿热环境下的绝缘可靠性而设计。该系统提供16至256个可灵活扩展的测试通道，支持以16通道为单元进行分组**测试，电阻测量范围横跨10^4至10^14Ω，测量精度根据阻值区间不同控制在±3%至±10%，兼具0.1μA~500μA的宽范围电流检测能力，采样速率全通道可达8次/秒。GM8800内置精密的可编程电压源，输出范围0V~±100V，外接偏置电压比较高可达3000V，并具备1~600秒可设置的测试电压稳定时间，能够精确模拟各种工作电压应力条件。系统配备的专业软件支持实时数据采集（包括时间、电阻、电流、电压、温湿度）、历史数据追溯、趋势分析及多种格式报告导出，并创新性地集成了远程监控功能，用户可通过电脑或手机随时查看测试进展与系统状态。与价格昂贵的英国进口GEN3系统相比，GM8800在**性能参数上毫不逊色，而在通道扩展灵活性、定制化服务响应以及总体拥有成本方面展现出更强的竞争力，是推动半导体、电子元器件及相关材料领域测试环节国产化进程的理想平台。进口CAF测试设备平替国磊GT600SoC测试机高精度浮动SMU板卡可实现HBM接口电源域的电压裕量（VoltageMargining）与功耗测试。

当前，AI大模型与高性能计算正以前所未有的速度推动HBM（高带宽存储器）技术爆发式增长。HBM3、HBM3E成为英伟达、AMD、华为等巨头AI芯片的标配，全球需求激增，市场缺口持续扩大。然而，HBM不**改变了芯片架构，更对后端测试提出了前所未有的挑战——高引脚数、高速接口、复杂时序与电源完整性要求，使得传统测试设备难以胜任。国磊GT600测试机应势而生，专为应对HBM时代**SoC测试难题而设计。它不是直接测试HBM芯片，而是**服务于“集成了HBM的AI/GPU芯片”的功能验证与量产测试，成为国产**ATE在HBM浪潮中的关键支撑力量，助力中国芯突破“内存墙”背后的“测试墙”。

国磊半导体凭借其深厚的技术底蕴，推出GM8800多通道绝缘电阻/导电阳极丝测试系统，旨在满足市场对高性能、高性价比可靠性测试设备的迫切需求。该系统具备强大的扩展能力，**多可支持256个通道同步进行测试，电阻测量范围覆盖10^4~10^14Ω，测量精度依据不同区间保持在±3%至±10%的高水平，能够精细捕捉绝缘材料在直流偏压和环境应力下的细微性能变化。GM8800提供从1V到3000V的宽范围测试电压，内置精密电压源精度优异，外接高压能力强大，且电压上升速度快，稳定时间可调，为用户提供了高度灵活的测试条件配置空间。系统集成实时电流检测（0.1μA~500μA）、温湿度监控功能，并通过完全屏蔽的线缆系统保证测量信号的完整性。在系统可靠性方面，多重硬件与软件报警机制以及UPS断电保护选项共同保障了长时间测试的连续性与安全性。相较于英国GEN3等进口品牌，GM8800在实现技术对标的同时，***降低了用户的拥有成本，并能够提供更快捷的售后响应和定制化服务，完美契合国内PCB制造业、汽车电子供应商、光伏逆变器制造商以及科研机构对**CAF测试设备的需求，加速了国产替代进程。国磊GT600向量存储深度32/64/128M，支持长Pattern测试序列，适用于带数字校准功能的智能传感器芯片。

GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统是杭州国磊半导体设备有限公司针对**绝缘材料可靠性测试推出的主力产品，该系统集成了多通道并行测量、高精度电阻采集和实时环境监控等先进功能。其硬件平台可配置**多16块高性能测试板卡，轻松实现256个测试点的同步或**运行，电阻测量范围覆盖10^6Ω至10^14Ω，并可在8S内完成全部通道的扫描与数据处理，极大提升了高阻测试的效率。系统支持0V~±100V内置电源与1V~3000V外置偏置电压的灵活组合，电压控制精度在100V以内达±0.05V，并具备100V/2ms的快速电压爬升能力，可精细模拟各类苛刻的电场环境。在安全机制方面，GM8800提供包括AC断电、软件死机、温湿度超限等在内的多重报警保护，并可选配30~120分钟的UPS后备电源，确保长时间测试不受电网波动影响。相较于英国GEN3等进口设备，GM8800在通道数量、电压适应范围和综合使用成本上优势***，特别适合国内PCB制造商、车载电子供应商和材料实验室用于CAF效应研究、绝缘材料寿命评估等高精度测试场景，是实现**测试设备国产化替代的可靠选择。国磊GT600高密度集成设计降低系统体积，适配探针台有限空间下的模拟晶圆测试（CP）应用。高性能PCB测试系统市价

国磊GT600支持循环执行睡眠-唤醒测试，实时采集功耗数据并自动生成报告，提升测试效率与可重复性。SIR测试系统研发

    AI加速芯片（如思元系列）专为云端推理与边缘计算设计，**诉求是“高算力密度、***能效比、毫秒级稳定响应”。这类芯片往往集成数千个AI**与高速互联总线，测试复杂度高、功耗敏感、量产规模大，传统测试设备难以兼顾效率与精度。国磊GT600凭借512站点并行测试能力，可同时对512颗芯片进行功能与参数验证，极大缩短测试周期，摊薄单颗芯片成本——这对动辄数万片出货的数据中心级芯片而言，意味着数千万级成本优化。在功耗控制上，国磊GT600的PPMU单元可精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的静态与动态电流，结合FVMI（强制电压测电流）模式，验证芯片在不同电压域下的功耗表现，确保其在7x24小时运行的数据中心中实现“每瓦特算力比较大化”。同时，其高精度TMU（时间测量单元，10ps分辨率）可检测AI**间数据同步的时序抖动，避免因时钟偏移导致的推理错误或延迟波动，保障AI服务的稳定低时延。 SIR测试系统研发