Dimension-Labs推出的LPM光电式功率计系列产品可精确测量光纤通信中的光信号功率强度，实时监测信号衰减或异常波动，在光纤连接器、分路器等无源器件的性能评估中，光电式功率计通过测量插入前后的光功率差，计算插入损耗；同时结合反射信号分析，量化反射损耗（如-60dB以下的高反射损耗检测），确保器件符合光网络标准。在激光器（如VCSEL、DFB激光器）的线宽稳定性、调制噪声等参数测试中，可集成光电探测器实时监测输出功率，确保波长调谐过程中的功率稳定性。维度光电 LPM 探头全，自由空间光纤都适配。薄片式LPM光功率计软件
Dimension-labs 在 LPM 系列中融入多项技术。一体式探头的旋转关节采用磁流体密封技术，在保持高自由度的同时实现 IP65 防护等级；笼式探头内部集成应力补偿结构，通过弹性垫片消除安装应力对测量精度的影响；薄片式探头运用微机电系统（MEMS）封装工艺，将传感器与信号处理电路集成在 30mm×15mm 的 PCB 上；积分球式探头采用双光路校准技术，内置标准光源模块实现实时自校准。这些创新技术配合模块化设计，使 LPM 系列不*能满足当前多样化测量需求，更通过标准化接口预留升级空间，适应未来光学技术发展带来的新挑战。积分球式LPM光功率计价格维度光电 LPM 校准，CNAS 标准高效完成。
•采用高灵敏度探测芯片，完美适配高斯光、平顶光等复杂光斑
•特殊抗反射涂层处理，有效降低杂散光干扰
•探测窗口直径高达12mm
✓全系标配可换装光纤适配法兰，支持FC/PC、SMA905等主流接口
✓"锥形光路优化"技术，光纤耦合效率提升30%
✓内置光纤对准导引系统，3秒快速完成光纤对接
从深紫外到中红外，无论是：
紫外激光加工（200-400nm）可见光实验（400-700nm）光纤通信波段（1310/1550nm）工业级红外激光（1900-2600nm）都能提供<±2%的测量精度
光通信器件生产中，维度光电 Dimension-labs 的 LPM 功率计是耦合效率测试的工具。通过光纤法兰转接件，LPM 功率计可分别测量激光器输出功率、光纤接收功率，计算耦合损耗。例如在光纤放大器生产中，用一体式 LPM 功率计测量泵浦激光器的输出功率，再用同一设备检测放大器输出端的信号功率，快速判断耦合效率是否达标。其高精度特性（不确定度≤0.3dB）确保了不同批次产品测试的一致性，为光器件量产提供可靠质量管控。光功率计机身镶嵌高精度LCD屏，功率数值⼀⽬了然，另外还支持智能PC端软件/APP，蓝牙/USB数据连接。维度光电 LPM，硅光芯片量产测试高效用。
光电融合技术正推动信息处理领域的重要突破，硅基光电子芯片作为该领域的*载体，在数据中心互联、人工智能加速器及量子通信等场景中展现出独特优势。在精密的光耦合调试过程中，工程技术人员需借助高精度功率测量设备对光信号进行全程监控。通过对比输入端与输出端功率值的动态变化，可准确评估光耦合器件的插入损耗并优化光纤对准精度。Dimension-Labs研发的微型化光电功率计创新采用小型便携化设计，配备标准化光纤适配端口，其紧凑型机身（*手掌大小）可轻松嵌入各类耦合测试平台，配合智能反馈系统实现光路参数的实时校准。在空间光-光纤耦合系统中，该设备0.01dB的测量分辨率可*捕捉微弱偏移导致的功率波动，配合多维调节架快速锁定-耦合位置，、提升光互连系统的传输稳定性。维度光电弱光 LPM 光功率计，皮瓦级微弱信号捕。维度科技LPM光功率计官网
维度光电 LPM，城市空气质量激光监测助。薄片式LPM光功率计软件
硅光芯片作为光电子集成的器件，其功率特性测试需要高精度工具。维度光电 Dimension-labs 的 LPM 功率计凭借皮瓦级灵敏度与宽波段覆盖，成为硅光芯片量产测试的设备。通过定制的光纤转接件，LPM 功率计可测量芯片的发射功率、接收灵敏度等关键参数，搭配智能软件实现批量数据记录与分析。相比传统测试方案，效率提升 30% 以上，且成本降-近半，为硅光芯片的规模化生产提供了经济高效的测试方案。光功率计机身镶嵌高精度LCD屏，功率数值⼀⽬了然，另外还支持智能PC端软件/APP，蓝牙/USB数据连接。薄片式LPM光功率计软件
