高性能GEN测试系统厂家

现代手机SoC是高度集成的“微型超级计算机”，一颗芯片内融合了CPU（**处理器）、GPU（图形处理器）、NPU（神经网络引擎）、ISP（图像信号处理器）、基带（5G/4G通信模块）、内存控制器、电源管理单元等数十个功能模块，协同完成从AI计算、高清拍照到高速联网的复杂任务。这对测试设备提出了“全能型”要求。国磊GT600凭借512个高速数字通道，可并行激励与捕获CPU/GPU的逻辑响应，验证运算正确性；通过可选配AWG（任意波形发生器）板卡，可生成高保真模拟图像信号，精细测试ISP对色彩、噪声、动态范围的处理能力；再结合高精度TMU（时间测量单元，分辨率10ps），可精确捕捉基带芯片收发信号的时间抖动与延迟，确保5G通信的稳定性和低时延。16个通用插槽支持灵活配置，让国磊GT600能像“变形金刚”一样，针对不同模块组合比较好测试方案，真正实现“一机通测”，***保障国产**SoC的功能完整性与性能可靠性。国磊GT600SoC测试机尤其适用于高引脚数、高集成度、混合信号特征明显的先进芯片。高性能GEN测试系统厂家

针对2.5D/3D封装底部填充胶，在100V偏压与85%RH条件下执行CAF测试。GM8800系统突破性实现10¹⁴Ω超高阻测量（精度±10%），可检测0.01%吸湿率导致的绝缘衰减：1、空间定位：电阻突变频谱分析功能，定位封装内部±0.5mm级CAF生长点。2、过程监控：1~600分钟可调间隔捕捉阻值从10⁶Ω到10¹³Ω跃迁曲线。3、热管理：温度传感器同步记录固化放热反应，优化回流焊参数实测数据表明，该方案使FCBGA封装良率提升22%，年节省质损成本超800万元。广州SIR测试系统批发测试电压范围1V至3000V可调，满足各种严苛的测试条件。

国磊半导体GM8800导电阳极丝测试系统是国产CAF测试仪器实现创新突破的代表性产品。该系统以其可扩展至256通道的强大并行处理能力、高达10^14Ω的超宽电阻测量范围和优异的精度（±3%~±10%），为绝缘材料的可靠性评估设立了新的**。GM8800提供精确且稳定的电压应力源，内置0V~±100V，外接高达3000V，电压输出精度高，调节步进小，建立速度快，并可自定义1~600秒的测试电压稳定时间，确保各种测试条件都能被精确复现。系统具备***的实时监测功能，同步采集电阻、电流、电压、温度、湿度数据，并通过专业软件进行高效管理与深度分析，用户还可通过网络实现远程操作与实时监控。其坚固的硬件平台辅以多层次的安全保护设计，包括多种故障报警和断电续航能力，保障系统能够稳定运行长达9999小时的持续测试任务。与传统的进口设备如英国GEN3相比，GM8800在提供同等前列测量性能的同时，在采购成本、使用灵活性、维护便利性以及技术服务响应速度上展现出***优势，正广泛应用于国内PCB制造、IC封装、汽车电子、航空航天等领域，成为客户提升产品质量、进行可靠性验证和实现进口替代的**装备。

国磊半导体GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为应对电子行业日益严峻的可靠性挑战而研制的高精度仪器。该系统采用模块化架构，可轻松配置16至256个测试通道，实现大规模并行测量提升测试效率；其电阻测量范围覆盖10^4Ω至10^14Ω，测量精度优异，在10^10Ω以下可达±3%，即便在极高的10^14Ω区间仍能保证±10%的精度，性能媲美进口**设备。GM8800提供宽广且精确的电压激励，内置±100V电源，外接偏置电压高达3000V，电压输出精度高，上升速度快，且测试电压稳定时间可在1~600秒间灵活设置，满足各种国际标准测试要求。系统实时采集电阻、电流、施加电压、温度、湿度等***数据，并通过完全屏蔽的低噪声线缆传输，确保测量结果准确可靠。配套软件功能***，提供自动化测试、实时监控、数据分析、报警管理和远程操作功能。在系统可靠性方面，具备多重硬件与软件报警机制和UPS断电保护功能。相较于英国GEN3等进口产品，GM8800在提供同等前列性能的同时，拥有更友好的价格、更灵活的扩展能力和更快捷的本土化服务支持，正成为国内集成电路、新能源车辆、通信设备、航空航天等领域**企业进行绝缘可靠性研究与质量控制的强大工具，助力中国**制造业创新发展。国磊GT600可验证电源门控（PowerGating）开关的漏电控制效果。

现代手机SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模拟模块，用于传感器融合、音频处理和电源管理。GT600支持GT-AWGLP02（THD-122dB）和高分辨率Digitizer板卡，可用于AI驱动的语音识别、图像信号处理链路的动态性能测试。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等关键指标的精确测量，确保端侧AI感知系统的信号完整性。国磊GT600测试机的16插槽模块化架构允许数字、AWG、TMU、SMU板卡混插，实现从CPU到NPU再到模拟前端的一站式测试，避免多设备切换带来的效率损失与数据割裂。
国磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG与Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等参数测试。国产替代CAF测试系统供应商

国磊GT600SoC测试机高精度浮动SMU板卡可实现HBM接口电源域的电压裕量（VoltageMargining）与功耗测试。高性能GEN测试系统厂家

    AI加速芯片（如思元系列）专为云端推理与边缘计算设计，**诉求是“高算力密度、***能效比、毫秒级稳定响应”。这类芯片往往集成数千个AI**与高速互联总线，测试复杂度高、功耗敏感、量产规模大，传统测试设备难以兼顾效率与精度。国磊GT600凭借512站点并行测试能力，可同时对512颗芯片进行功能与参数验证，极大缩短测试周期，摊薄单颗芯片成本——这对动辄数万片出货的数据中心级芯片而言，意味着数千万级成本优化。在功耗控制上，国磊GT600的PPMU单元可精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的静态与动态电流，结合FVMI（强制电压测电流）模式，验证芯片在不同电压域下的功耗表现，确保其在7x24小时运行的数据中心中实现“每瓦特算力比较大化”。同时，其高精度TMU（时间测量单元，10ps分辨率）可检测AI**间数据同步的时序抖动，避免因时钟偏移导致的推理错误或延迟波动，保障AI服务的稳定低时延。 高性能GEN测试系统厂家