光电二极管光束质量分析仪测量系统

DataRay 的狭缝分析仪（如 Beam'R2 和 BeamMap2）可以运用在多个领域，例如高重复脉冲测量：支持高重复脉冲激光测量，**小脉冲重复率（PRR）约为 500/（光束直径，µm） kHz。USB 2.0 供电与便携性：通过 USB 2.0 端口供电，配备 3 米长的柔性电缆，无需外部电源。自动增益与实时分析：自动增益功能，支持实时二维狭缝测量，更新速率可达 5 Hz。ISO 标准兼容：符合 ISO 11146 标准的光束直径测量，支持 M² 测量。激光光束质量分析：用于测量激光光束的焦点位置、发散角、指向稳定性和 M² 值。在光纤通信系统中，光束质量分析用于评估光纤、光放大器等器件的光束质量，确保通信信号的传输效率和质量。光电二极管光束质量分析仪测量系统

WinCamD-QD（量子点SWIR）•传感器量子点CMOS，640×512（可升级到1920×1080）•波长范围400–1700nm（1550nm优化）•像素15µm•接口USB3.0/GigE•特色全局快门，信噪比>2100:1•典型应用通信波段1550nm激光器、硅光芯片光束对准TaperCamD-LCM（大靶面）•传感器CMOS,2048×2048,12.5µm像素•靶面25×25mm（大光束**）•帧率79µs–2s电子快门•波长范围355–1150nm•典型应用激光清洗、大尺寸光纤激光束、半导体激光阵列BladeCam-HR（超紧凑）•传感器1/2"CMOS,1280×1024,5.2µm像素•体积46×46×11.5mm（可嵌入机器视觉系统）•典型应用OEM在线检测、激光打标头内部监控共性特点•全型号均**附送DataRay-LaserLink软件（ISO-11146标准、M²、D4σ、Knife-Edge）•C/F-Mount螺纹，可直接加衰减片、扩束镜、紫外/红外转换器•支持TTL触发、全局快门、USB即插即用•3年质保，30天无风险试用选型速查低功率可见光→WinCamD-LCM1550nm通信波段→WinCamD-QDCO₂/QCL中红外→WinCamD-IR-BB15mm大光斑→TaperCamD-LCMOEM紧凑集成→BladeCam-HR湖北高分辨率红外成像光束质量分析仪官方网站测量1550 nm和2000 nm通信波段的光束质量。

WinCamD-IR-BB特点：适用于 2 µm 至 16 µm 波长范围的中远红外光束分析。640×480 分辨率，17 µm 像素尺寸，有效成像面积 10.9 mm×8.2 mm。高信噪比，超过 1000:1，确保测量的精确性和可靠性。应用：适用于 CO₂ 激光器（10.6 µm）、量子级联激光器（QCL）等中远红外激光。用于激光器研发、现场服务与维护、光学组件校准等。TaperCamD-LCM特点：大靶面尺寸 25 mm×25 mm，适用于大尺寸光束测量。4.2 MPixel，2048×2048 像素，12.5 µm 像素尺寸。高信噪比 2500:1，动态范围 44 dB。应用：适用于大功率连续波或脉冲激光的光束质量分析。用于激光加工、激光器制造和光学系统对准。

DataRay 的 HyperCal™ 动态噪声校正技术可以显著提高测量精度。5. 机械和光学系统精度高精度机械控制系统：机械转动系统和位移测量系统的精度直接影响测量结果。采用高精度的机械控制系统和位移测量技术（如莫尔条纹测距方法）可以显著提高测量精度。光学系统校准：定期校准光学系统，确保光束质量分析仪的光学系统处于比较好状态。6. 环境和操作条件控制温度和振动控制：在稳定的环境条件下（如恒温、低振动）进行测量，可以减少环境因素对测量精度的影响。操作规范：按照操作规范进行测量，确保测量过程的准确性和一致性。7. 多次测量和统计分析多次测量：通过多次测量并取平均值，减少随机误差对测量结果的影响。统计分析：对测量数据进行统计分析，评估测量结果的可靠性和重复性。8. 校准和验证定期校准：定期使用标准光源或已知光束质量的激光器对光束质量分析仪进行校准。第三方验证：通过第三方机构对光束质量分析仪进行验证，确保其测量精度。通过以上方法和措施，光束质量分析仪能够实现高精度的测量，确保激光光束质量参数的准确性和可靠性。在医用技术领域，光束质量分析用于光镊、细胞分拣等应用中，对激光光束进行整形和调整，以实现精确操作。

DataRay WinCamD-IR-BB 中远红外光束质量分析仪产品概述WinCamD-IR-BB 是一款专为中波红外（MWIR）和远红外（FIR）波段激光设计的光束质量分析仪，覆盖波长范围从 2 µm 到 16 µm。该设备基于微测辐射热计（microbolometer）技术，具有高灵敏度和自动非均匀性校正功能，能够进行 ISO 11146 标准的光束测量。主要特点宽波长覆盖：2 µm 至 16 µm，适用于多种中远红外激光。高分辨率成像：640×480 分辨率，17 µm 像素尺寸，有效成像面积为 10.8 mm×8.2 mm。高信噪比：信噪比超过 1000:1，确保测量的精确性和可靠性。集成快门：支持 HyperCal™ 动态噪声和基线校正，提高测量精度。低辐照度能力：在 5 倍峰峰值噪声下可测约 75 µW/cm²。帧率：30 帧/秒（出口版本为 7.5 帧/秒）。USB 3.0 接口：即插即用，无需外接电源适配器。无需斩波器或热电冷却器：简化了操作流程，降低了维护成本。支持脉冲激光：可测量重复频率 ≥ 1 kHz 的脉冲激光。多相机并行采集：支持多台相机同时使用，提高测量效率。光束质量分析仪以其高精度、多功能、快速响应和广泛应用等优势，成为现代科技和工业生产中的重要工具。西藏光束漂移记录光束质量分析仪测量系统

光束质量分析仪不仅能够提升激光系统的性能和效率，还能为科研、工业等多个领域的发展提供有力支持。光电二极管光束质量分析仪测量系统

通信领域光纤通信：评估光纤通信系统中的激光光源质量，确保通信信号的传输效率和质量。5. 新兴消费电子与汽车LiDAR 和 VCSEL 测试：用于 LiDAR（905 nm / 1550 nm）VCSEL 阵列远场分析，适用于自动驾驶和消费电子设备。AR/VR 设备测试：用于 AR/VR 结构光模组测试，确保设备的光学性能。6. 光束质量测量与监控光束漂移记录：监测光束的动态变化，记录漂移数据，用于长期稳定性分析。M² 测量：搭配 M2DU 载物台，可测量光束质量因子 M²，评估光束的传播特性。光电二极管光束质量分析仪测量系统