上海模拟抗震性能实验机构

地震试验与失效分析 地震是电子设备的重要质量特性之一，它直接关系到电子仪器装备的可用性，影响电子设备效能的发挥。上海天梯检测技术有限公司为客户提供从元器件级别，到电路板/模块级别，到整机系统级别的气候环境试验、机械力学试验、产品性能检测，以及相关的失效分析服务。 地震测试服务项目 高温测试 跌落测试 低温测试 寿命测试 高、低温循环测试 跌落测试 冷热冲击测试 盐雾实验 防火测试 电子产品性能测试 防水测试 大声压测试(EN50332) 防尘测试 音频性能测试 老化实验 天线性能测试 振动实验 太阳能光伏板(PV)性能测试电子电气产品的地震测试是怎样做的?都有什么检测项目?上海模拟抗震性能实验机构

上海天梯检测技术有限公司地震试验目的： 要包括高温试验、低温试验、温度快速变化试验、温度冲击试验、恒定温湿度试验、温湿度循环试验、盐雾试验、防水防尘试验、紫外老化试验和氙灯老化试验等。是考核产品在各种环境条件下的适应能力，是评价产品地震的重要试验方法之一。 (1)高温试验 试验目的：用来考核试验样品在高温条件下贮存或使用的适应性。应用于比如像热带天气或炼钢厂等高温环境下工作的仪器、设备等。 试验设备：高低温(湿热)试验箱。 试验条件：一般选定一恒定的温度应力和保持时间。 推荐常用温度：200℃，175℃，155℃，125℃，100℃，85℃，70℃，55℃等; 推荐常用的试验时间有：2h，16h，72h，96h等。上海模拟抗震性能实验机构地震试验的目的以及分类都有那些?

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级（外壳防护试验）： 外壳防护等级（IP代码）：GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验R：水试验方法和导则：GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合 19、温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合

地震结构检测的标准： YD5083-2005《电信设备抗地震性能检测规范》 GR-63-CORE 《NEBSTM Requirement：Physical protection》 ETSI EN 300-019-2-3-2013 《环境工程(EE)；电信设备的环境条件和环境测试；第2-3部分：环境测试规范；有气候保护的场所的固定应用》 ETSI EN 300-019-2-4-2013 《环境工程(EE)；电信设备的环境条件和环境测试；第2-4部分：环境测试规范；无气候保护位置的固定应用》 NTT 《通信装置的耐震试验方法》 GB 50260-2013 《电力设施抗震设计规范》 HAFJ0053-1995《核电设备抗震鉴定试验指南》 GB/T 2424.25-2000 《电工电子产品环境试验 第3部分：试验导则 地震试验方法》环境地震测试项目和环境地震测试标准！

地震检测的范围包含： 交换类：电话交换设备、路由器、以太网交换机、HLR 传输类： SDH、WDM、MSTP、PTN、OTN、ASON数字微波通信设备、卫星地球站传输设备 电源类：高频开关电源、UPS、蓄电池、锂电池、高压直流240V/336V供电系统、交/直流配电柜 移动基站类：基站设备、直放站设备、基站控制器 接入类设备：ADSL/ADSL2+、VSAT、EPON 服务器和网关类设备：服务器、网关、BNAS、SIP、综合接入媒体网关设备、信令网关设备 通信设备及设施：集装箱数据中心、ICT机房设备等 各种电力设备、电工电子设备、核设备等地震测试的标准是什么？上海模拟抗震性能实验机构

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上海天梯检测技术有限公司地震测试的目的： 地震发生时，通讯信号及电子产品都会被损害，提前对电子工业级及通讯设备的测试非常重要，其重要性可从电子产品发展的三个特点来加以说明。 首先，电子产品的复杂程度在不断增加。人们较早使用的矿石收音机是非常简单的，随之先后出现了各种类型的收音机、录音机、录放相机、通讯机、雷达、制导系统、电子计算机以及宇航控制设备，复杂程度不断地增长。其次，电子产品的使用环境日益严酷。从实验室到野外，从热带到寒带，从陆地到深海，从高空到宇宙空间，经受着不同的环境条件，除温度、湿度影响外，海水、盐雾、冲击、振动、宇宙粒子、各种辐射等对电子元器件的影响，导致产品失效的可能性增大。 第三，电子产品的装置密度不断增加。从一代电子管产品进入第二代晶体管，现已从小、中规模集成电路进入到大规模和超大规模集成电路，电子产品正朝小型化、微型化方向发展，其结果导致装置密度的不断增加，从而使内部温升增高，散热条件恶化。上海模拟抗震性能实验机构

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