测量表面温度一般采用非接触红外高温计，必须注意在测量时需要调整红外热像仪所使用的发射率ε，发射率是材料及其表面状况的特性，采用不正确的发射率会产生明显的测量误差。有两种方法可以在静态表面上校准发射率，***个方法是使用接触式高温计测量温度，然后将红外高温计指向同一点并调整发射率，直到温度读数与接触式温度计的读数相同；第二个方法是在被测表面粘上黑胶布，或者涂上黑漆，然后用测得的温度校准红外高温计。常用特定温度下水泥窑系统表面发射率见表1。热成像仪检测的是热量，所以常常可以发现隐藏在茂密丛林中或被大雾遮蔽的目标人物。OPTPI230红外热像仪联系方式
钢铁企业生产线上设有各类仪表和传感器，测量轧钢过程各种参数，并将结果送轧线计算机系统。高精度的轧线测量仪表和传感器是基础自动化、过程自动化和管理自动化的关键。轧制产品生产中的轧线仪表和传感器，包括通用的常规仪表和特殊仪表，前者如加热炉用仪表、轧线的红外热像仪、连续退火生产线上分析炉内还原性气体的氢气和一氧化碳分析仪等，后者如测量冷热轧带钢的厚度计、宽度计等。下面对常见的特殊仪表和特殊传感器进行总结：DIAS红外热像仪现场测试决定着红外热成像仪画面的清晰度，是热像仪所能测量的小尺寸。
一般而言,所谓的T2SLS探测器都是基于砷化铟(InAs)/锑化镓(GaSb)材料制作的｡InAs/GaSb T2SLS是一个由InAs和GaSb薄层交替构筑的多量子阱交互作用体系,该结构中InAs与GaAs的能带以II类方式对准｡这种能带续接方式可引发强有力的载流子隧穿现象,使该结构适用于MIR和LWIR探测｡理论预言在LWIR波段的性能T2SLS探测器的性能有望超过QWIP和HgCdTe探测器,然而在实验中,T2SLS探测器的暗电流仍处于较高的水平,远远达不到预期目**24x1024规模的T2SLS FPA探测器已研制成功,彰显了这种探测器的巨大潜力｡与前面几种探测器一样,T2SLS FPA探测器也是第三代红外热像仪系统的成员之一
截止目前,红外热像仪HgCdTe材料依旧是制作高性能IR光子探测器的比较好的材料｡与InGaAs类似,HgCdTe也是一种三元系半导体化合物,其带隙也会随组分的改变而改变,借此HgCdTe探测器可覆盖1-22μm的超宽波段｡HgCdTe探测器在NIR､MIR和LWIR三个波段都能表现出十分优异的性能,所以它问世不久便成为了IR探测器大家族中的霸主｡然而,随着近些年InGaAs探测器的兴起,HgCdTe探测器在NIR波段的地位日趋下降;在MIR波段,虽然InSb探测器的探测率不如HgCdTe探测器,但由于InSb的材料生长技术比HgCdTe成熟,HgCdTe探测器在该波段已达不到一家独大的地步;对于LWIR波段,HgCdTe探测器仍具有很强的统治地位｡红外线热像仪灵敏度高，如保温杯、热饭盒等都能监测出来，并将具**置定位在发热点，监测精度高。
红外热像仪可以用于建筑和房屋检测。以下是一些常见的应用场景：热桥检测：红外热像仪可以检测建筑物中的热桥，即导热性能较差的区域，如墙体接缝、窗框等。通过检测热桥，可以找到导致能量损失和热舒适性问题的地方，并采取相应的改善措施。热漏风检测：红外热像仪可以检测建筑物中的热漏风现象，即由于建筑物密封性不好而导致的能量损失。通过检测热漏风，可以找到漏风点，进而采取密封措施，提高建筑物的能源效率。绝缘性能检测：红外热像仪可以检测建筑物中的绝缘性能，如检测墙体、屋顶、地板等的绝缘情况。通过检测绝缘性能，可以发现潜在的能量损失和安全隐患，并采取相应的绝缘改善措施。湿度检测：红外热像仪可以检测建筑物中的湿度分布情况，如检测墙体、屋顶等的潮湿程度。通过检测湿度，可以发现潜在的水患问题，并采取相应的防水措施。红外热像仪主要用于测试DEW 仪器和分析目标影响。红外热像仪加装激光瞄准器
红外热像仪到底能测多远、多小的目标？OPTPI230红外热像仪联系方式
红外热像仪是一种利用红外辐射进行非接触式温度测量的设备。其工作原理基于物体发出的红外辐射能量与其表面温度之间的密切关系。红外热像仪通过接收物体发出的红外辐射，经过光电转换、信号处理等步骤，将红外辐射能量分布转换为可视化的热图像。红外热像仪的种类繁多，可以根据不同的应用场景和需求进行分类。例如，有的红外热像仪适用于工业领域，用于监测设备的运行状态和温度分布；有的则适用于医疗领域，用于辅助医生进行疾病诊断；还有的适用于安防领域，用于夜间监控和隐蔽目标的探测。OPTPI230红外热像仪联系方式
