东莞中芯国际用剥离液配方技术

    本发明提供的光刻胶剥离去除方法第二实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积一层二氧化硅薄膜作为介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成光刻图形阻挡层；s3，执行离子注入，离子注入剂量范围为1×1013cm-2～1×1016cm-2。s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离，氢氮混合比例范围为4:96～30:70。s5，对衬底表面进行清洗，清洗液采用氧化硫磺混合物溶液和过氧化氨混合物溶液。本发明提供的光刻胶剥离去除方法第三实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积一层二氧化硅薄膜作为介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成光刻图形阻挡层；s3，执行离子注入，离子注入剂量范围为1×1013cm-2～1×1016cm-2。s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离，氢氮混合比例范围为4:96～30:70。s5，对硅片执行单片排序清洗，清洗液采用h2so4:h2o2配比范围为6:1～4:1且温度范围为110℃～140℃的过氧化硫磺混合物溶液。高效剥离液，让光刻胶去除更轻松、更彻底。东莞中芯国际用剥离液配方技术

    按照玻璃基板传送方向从当前腔室101开始逐级由各腔室10向玻璃基板供给剥离液以进行剥离制程。剥离液从当前腔室101进入相应的存储箱20，在剥离液的水平面超过预设高度后流入过滤器30，再经过过滤器30的过滤将过滤后的剥离液传送至下一级腔室102内。其中，薄膜碎屑70一般为金属碎屑或ito碎屑。其中，如图2所示，图2为本申请实施例提供的剥离液机台100的第二种结构示意图。阀门开关60设置在管道40及第二管道50上。在过滤器30被阻塞时，关闭位于过滤器30两侧的管道40及第二管道50上的阀门开关60，可以保证当前级腔室101对应的存储箱20内剥离液不会流出，同时下一级腔室102内的剥离液也不会流出。在一些实施例中，请参阅图3，图3为本申请实施例提供的剥离液机台100的第三种结构示意图。过滤器30包括多个并列排布的子过滤器301，所述管道40包括多个子管道401，每一所述子管道401与一子过滤器301连通，且所述多个子管道401与当前级腔室101对应的存储箱20连通。在一些实施例中，第二管道50包括公共子管道501及多个第二子管道502，每一所述第二子管道502与一子过滤器301连通，每一所述第二子管道502与所述公共子管道501连通，所述公共子管道501与所述下一级腔室102连通。其中。浙江显示面板用剥离液报价苏州性价比高的剥离液。

本发明涉及能够从施加有抗蚀剂的基材剥离抗蚀剂的抗蚀剂的剥离液。背景技术：：印刷布线板的制造、主要是半加成法中使用的干膜抗蚀剂等抗蚀剂的剥离液中，伴随微细布线化而使用胺系的剥离液。然而，以往的胺系的抗蚀剂的剥离液有废液处理性难、海外的法规制度的问题，而避免其使用。近年来，为了避免胺系的抗蚀剂的剥离液的问题点，还报道了一种含有氢氧化钠和溶纤剂的剥离液(专利文献1)，由于剥离时的抗蚀剂没有微细地粉碎，因此存在近年的微细的布线间的抗蚀剂难以除去的问题点。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2002-323776号公报技术实现要素：发明要解决的问题因此，本发明的课题在于，提供容易除去微细的布线间的抗蚀剂的技术。用于解决问题的手段本发明人等为了解决上述课题而深入研究的结果发现，含有钾盐和溶纤剂的溶液与专利文献1那样的含有氢氧化钠和溶纤剂的溶液相比，即使是非常微细的布线间的抗蚀剂也能细小地粉碎，从而完成本发明。即，本发明涉及一种抗蚀剂的剥离液，其特征在于，含有钾盐和溶纤剂。另外，本发明涉及一种抗蚀剂的除去方法，其特征在于，用上述抗蚀剂的剥离液处理施加有抗蚀剂的基材。

    避免接触皮肤、眼睛和衣服；存储：密闭存放在阴凉干燥的地方8.防燥和人员保护极限N-Methyl-2-pyrrolidone80mg/m3(19ml/m3)DFGMAK(peaklimitationcategory-II,2)(Vapour)(skin)10ppmAIHA,TWAN,N-DIMETHYLACETAMIDE-TWA:10ppm,35mg/m3通风：良好的通风措施，保持良好通风人员保护设备：橡胶手套、防护目镜，避免接触皮肤、眼睛、衣服、避免吸入蒸汽压；9.物理和化学性能物理测试：液体颜色：微黄气味:类氨熔点:-24~-23℃沸点：165~204℃闪点:110℃蒸汽压mmHg@20℃蒸汽压密度(空气=1):密度(水=1):粘度：10~200cps水中溶解性:任意比例混溶其它溶剂：溶于部分有机溶剂PH值：10.稳定性与活性稳定性:稳定危险反应:有机和无机酸、强氧化剂、碱金属、强酸混溶性:强氧化剂和酸不能混溶，在高温气压下可与二硫化碳反应避免条件：热、火、火源及混溶11.毒性N-Methyl-2-pyrrolidone实际毒性LD50/口服:3600mg/kgLD50/皮肤接触（兔）:8000mg/kgLC50/吸入（鼠）:>mg/1/4hN,N-DIMETHYLACETAMIDELD50/口服/鼠:>2000mg/kgLD50/皮肤接触/兔:>。剥离液可以用在哪些制程段上；

    单片清洗工艺避免了不同硅片之间相互污染，降低了产品缺陷，提高了产品良率。可选择的，清洗液采用氧化硫磺混合物溶液和过氧化氨混合物溶液。可选的，进一步改进，清洗液采用h2so4:h2o2配比范围为6:1～4:1且温度范围为110℃～140℃的过氧化硫磺混合物溶液；以及，nh4oh:h2o2:h2o配比为1:℃～70℃的过氧化氨混合物溶液。本发明采用等离子体氮氢混合气体能与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应生成含氨挥发性化合物气体，且与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应速率相等能更高效的剥离去除光刻胶，能有效减少光刻胶残留。进而避免由于光刻胶残留造成对后续工艺的影响，提高产品良率。附图说明本发明附图旨在示出根据本发明的特定示例性实施例中所使用的方法、结构和/或材料的一般特性，对说明书中的描述进行补充。然而，本发明附图是未按比例绘制的示意图，因而可能未能够准确反映任何所给出的实施例的精确结构或性能特点，本发明附图不应当被解释为限定或限制由根据本发明的示例性实施例所涵盖的数值或属性的范围。下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：图1是本发明的流程示意图。图2是一现有技术光刻胶剥离去除示意图一，其显示衬底上形成介质层并旋图光刻胶。如何选择一家好的做剥离液的公司。东莞中芯国际用剥离液配方技术

剥离液的技术指标哪家比较好？东莞中芯国际用剥离液配方技术

剥离液是一种通用湿电子化学品，主要用于去除金属电镀或者蚀刻加工完成后的光刻胶和残留物质，同时防止对衬底层造成破坏。剥离液是集成电路、分立器件、显示面板、太阳能电池等生产湿法工艺制造的关键性电子化工材料，下游应用领域，但整体应用需求较低，因此市场规模偏小。剥离液应用在太阳能电池中，对于剥离液的洁净度要求较低，需达到G1等级，下游客户主要要天合、韩华、通威等；应用到面板中，通常要达到G2、G3等级，且高世代线对于剥离液的要求要高于低世代线，下游客户有京东方、中星光电；在半导体中的应用可分等级，在8英寸及以下的晶圆制造中，对于剥离液的要求达到G3、G4水平，大硅片、12英寸晶元等产品要达到G5水平。东莞中芯国际用剥离液配方技术