对于半导体行业来说，圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节，检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量，马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中，可在Z轴上准确聚焦。因此，这是检测圆晶缺陷的理想选择，例如，圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验，可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm*0.4μm，大倾斜角为+/-45°，0.75数值孔径。MARPOSS局部放电绝缘测试（PDIV测试）能够识别相间或相与定子主体之间的潜在绝缘缺陷。导管泄漏检测
MARPOSS可以用累积室中的氦气对电池PACK进行泄漏测试，待测零件在环境压力下被放入密封室，然后充入氦气，通过氦质谱仪检测是否有示踪气体从待测零件流到密封室里。这种零部件半成品和pack成品的泄漏测试技术是一种非常可靠的方法，可以确保产品整体密封性良好，从而防止水进入电池pack内部。使用示踪气体的泄漏测试方法可确保比较大的测试灵敏度，其可以识别极低的泄漏情况，适用于大容积部件和任何环境条件。我们在累积室氦气泄漏测试方案可以测量10-2-10-4SCC/sec的泄漏。主动测量马波斯电机检测解决方案旨在通过使用识别电机内部潜在趋势的设备来检查电机的完整性。
对于线锯切片而言，用更细的金刚石线线锯切片是未来趋势，可比较大限度减小锯缝宽度，让单个锭材产出更多圆晶，显著提高生产速度。如果在锭材线锯过程中，金刚石线断线，必须立即停止切片机运动。马波斯的声发射传感器可集成在锭材切片机内，一旦断线可被立即检测到并立即停止切片机运动，然后，轻松进行后续换线。从优势的角度来看，一旦出现问题，立即停止切片机，可以避免进一步损失。马波斯锭材切片机可做到快速检测断线（数毫秒）。根据切片机的背景噪音，自动设置传感器，同时，提高设备安全性。
Optoflash是世界上轴向可以采用多个光学传感器的测量系统。这意味着可以通过不同的光学传感器分别获取图像，然后将所有图像完美地结合在一起，从而生成一幅单一的工件合成图像，并可确保合成边缘毫无任何断点和缺口。得益于这一独特的设计，Optoflash测量系统无需光学系统或工件本身进行任何轴向运动,就可以覆盖长度达300mm的测量范围。当前，作为世界上前列的轴向可以采用多个光学传感器的测量系统。Optoflash的总测量时间可达5.6秒!马波斯Hetech泄漏检测方案试漏检测的目的是发现生产过程中非常细微的泄漏，以确保产品的质量。
MARPOSS泄漏测试是电池pack装配过程中的基本要求，用于检查电池pack的气密性，以防止水、湿气、灰尘或其他外部污染物进入，导致电池pack内部的高压零部件出现短路。嗅探法对电池PACK进行泄漏测试可以带有一个或多个机器人嗅探装置的全自动泄漏测试工站，进行100％在线检测手动嗅探工站，用于离线检查维修站中的测试不良品可提供用于冷却回路泄漏测试的定制化空气法方案（压降法或质量流量法）。嗅探法对电池PACK进行泄漏测试可以利用手动或自动解决方案，高可靠性低使用成本，检测泄漏精度高达10-4SCC/sec。EOL测试可提供完整的功能测试,包括满足市场标准的NVH分析。还可提供实验室环境下。内蒙古发动机检测设备
局部放电测试法能识别潜在绝缘缺陷的方法,潜在的绝缘缺陷会使产品运行短时间后产生故障。导管泄漏检测
Optoquick具有实时的柔性和极高的性价比。可将单个Optoquick，用于监控相同生产区内的多台机床以及多种不同类型的工件。Optoquick通过简单的操作员选择或条形码扫描，就能即时切换到一个新的测量程序。Optoquick具有长久的投资回报。能够为客户的生产规划了一个非常柔性与可重新配置的策略。需要采用现有生产线以制造新产品或者只需要生产现有零件的新版本。这对于Optoquick而言，都不是问题。只需要在Optoquick上添加一个新的测量程序。Optoquick，面向未来的柔性。导管泄漏检测
