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发射率测量仪基本参数
  • 品牌
  • DS
  • 型号
  • AE1/RD1
  • 类型
  • 材料检测
发射率测量仪企业商机

AE1/RD1便携式半球发射率测量仪,可随时携带至需要测量的现场,无耗材成本,使用方便。可测量样品材料的发射率,辐射率。半球发射率是固体材料的一个重要物理性能参数,它体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。材料半球发射率的测试方法包括卡计法和光学方法。卡计法又包含瞬态卡计法和稳态卡计法(稳态量热计法)。美国D&S公司生产的半球发射率测量仪则为稳态量热计法。可测试材料在常温条件下的高精度、较高的半球发射率。是建筑用反射隔热涂料和航天航空热反射热涂料的半球发射率测量仪。 上海明策发射率测量仪的优势。材料发射率测量仪使用方法

发射率测量仪

对于不规则表面,由于部分表面与测量口的距离不一,测得的反射率通常偏低。

建议的方法是,在测量口与表面接触及不同距离下分别测量反射率。然后,通过估算表面与测量口“接触”时的平均距离,利用已有的平面样品的反射率与距离的关系曲线,对测量结果进行修正。

实际测量在实际操作中,由于表面通常不仅有纹理,还有色彩的差异,因此需要大量测量以获得准确的平均值。文中提供了红色碎石铺石的测量数据,经过修正后的反射率变化不大,表明修正方法适用于这种类型的表面。 AE1/RD1发射率测量仪参数发射率测量仪如何选择?上海明策告诉您。

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    RLK600数字红外辐射计,采用较先进的光电检测技术、数字信号处理技术、数据传输技术和软件技术,实现对各种热辐射源辐射强度参数的测试。比较高50Hz数据率使用户能够记录和显示目标辐射强度随时间的变化曲线。产品针对野外、移动试验条件设计,集公司多项技术积累,吸收国际先进产品的技术与特点,具有携带方便、操作简单、软件功能强大、数据处理快捷等优点。产品特点🔷便携式设计:RLK600所有部件和附件全部装在铝材仪器箱中,方便携带,搬运;🔷一体化设计:光学、斩波、锁相、A/D全部集成于头部,只需一根电缆与计算机连接;🔷RS-422接口:控制指令与数据的传输采用RS-422标准,传输距离远,抗干扰能力强;🔷软件:测量控制、数据处理、产品标定三大功能,运行于Windows操作系统。

在节能建筑领域,发射率测量仪可用于评估建筑材料的热性能,为节能设计和LEED认证提供数据支持。通过测量建筑材料的发射率,可以了解其保温隔热性能,从而优化建筑设计,提高能源利用效率。在实验室环境中,发射率测量仪可用于多种研发试验和质量控制过程。例如,在涂料的质量控制中,通过测量涂层的发射率可以评估其性能是否符合标准;在实验室研发中,发射率测量仪可用于监测反应过程中的温度变化等。上海明策电子科技有限公司的发射率测量仪产品具有广泛的应用场景,涵盖了材料科学、热工测试、红外理疗、航天热控、节能建筑以及实验室研发等多个领域。这些应用场景充分展示了发射率测量仪在科研、生产和质量控制等方面的重要作用。上海发射率测量仪的出厂价格。

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多波长便携式镜面反射计 15R-RGB 是一种便携式反发射率测量仪,设计用于测量太阳能应用的高镜面平面或曲面镜。15R-RGB 由内部可充电镍镉电池供电,一次充电可运行超过 15 小时。操作员可以轻松地以每分钟 2 到 6 次的速度读取反射率读数,并将读数记录到仪器中存储的数据集。提供了一个 USB 端口,用于维护和下载数据集以及升级固件。

15R-RGB 型增加了使用白色 LED 光源和可选滤光器测量从蓝色到近红外的五个宽波段反射率的功能。在标准配置中,滤光轮选择检测器响应曲线之一;红、绿、蓝、白或红外。还可以选择 4.6、7、15、25 和 46 mrad 五个全角接受角。这些特性使 15R-RGB 型成为太阳能反射镜和热控制表面制造和维护过程中表征和质量控制监测的理想选择。 GB/T 25261-2018 建筑用反射隔热涂料(半球发射率)。太阳光谱反射率发射率测量仪服务价格

上海明策发射率测量仪质量保证。材料发射率测量仪使用方法

明策代理:半球发射率测量仪AE1&RD1——美国D&S-现货库存

读数器:D&S微型数字伏特计。

型号RD1输出:材料温度为25℃时,2.4毫伏通常对应材料发射率为0.9

线性关系:检测器输出和发射率成线性关系,精度为+0.01发单位测量时间:

10s加热装置:加热被测样品,使其在与标准体温度相同的情况下被测量样品温度:高达130华氏度,约为55℃

漂移:输出可能会随着环境而变化,但是在短时间测量内可以想睡不计标准体:提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体,其中一套标准可用来测量时使用,另一套标准体备用并作为参比。

电源:100-240V/50-60Hz,12V直流输出

测量波长:3-30um

测量范围:0-1测量精度:±0.01被测样品尺寸:Min5.7cm(可选配2.54cm样品探测器)外形尺寸:探测头中57X107mm,测量台H46mmx宽105mmxD152mm

标准配置:AE1探测头,高发射率标定块和低发射率标定块各2个,发射率测量仪,电源线,校准证书、操作手册、手提箱。 材料发射率测量仪使用方法

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